[發(fā)明專利]電磁爐的鍋具檢測方法、裝置及電磁爐有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810043805.2 | 申請日： | 2018-01-15 |
| 公開（公告）號： | CN110049588B | 公開（公告）日： | 2022-02-11 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 周升;曾燕俠;吳祥;李娟;汪釗 | 申請（專利權(quán)）人： | 佛山市順德區(qū)美的電熱電器制造有限公司 |
| 主分類號： | H05B6/06 | 分類號： | H05B6/06 |
| 代理公司： | 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287 | 代理人： | 胡海國 |
| 地址： | 528311 廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電磁爐 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種電磁爐的鍋具檢測方法，其特征在于，所述電磁爐的鍋具檢測方法，包括以下步驟：
S10，電磁爐的加熱功能開啟后，控制電壓比較電路獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；
S20，記錄預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)；
S30，根據(jù)所記錄的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)，判斷所述電磁爐上有無鍋具；
所述步驟S30包括：
S31，判斷預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)是否小于預(yù)設(shè)次數(shù)；
S32，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)小于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上無鍋具；
S33，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)大于或等于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上有鍋具；
所述預(yù)設(shè)時(shí)間段大于或等于100ms且小于或等于150ms。
2.如權(quán)利要求1所述的電磁爐的鍋具檢測方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)參考電壓大于310V且小于800V。
3.如權(quán)利要求1或2所述的電磁爐的鍋具檢測方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)次數(shù)大于或等于2次且小于或等于3次。
4.一種電磁爐的鍋具檢測裝置，其特征在于，所述電磁爐的鍋具檢測裝置包括：電壓比較電路、MCU以及存儲在所述MCU內(nèi)并可在所述MCU上運(yùn)行的電磁爐的鍋具檢測程序，其中：
所述電壓比較電路，用于獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；
所述電磁爐的鍋具檢測程序被所述MCU執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
S10，電磁爐的加熱功能開啟后，控制電壓比較電路獲取電磁爐內(nèi)電磁加熱控制電路中IGBT管的集電極電壓，并將所述IGBT管的集電極電壓與預(yù)設(shè)參考電壓進(jìn)行比較；
S20，記錄預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)；
S30，根據(jù)所記錄的預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)，判斷所述電磁爐上有無鍋具；
所述電磁爐的鍋具檢測程序被所述MCU執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)以下步驟：
S31，判斷預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)是否小于預(yù)設(shè)次數(shù)；
S32，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)小于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上無鍋具；
S33，若預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)所述IGBT管的集電極電壓大于所述預(yù)設(shè)參考電壓的次數(shù)大于或等于所述預(yù)設(shè)次數(shù)，則判斷所述電磁爐上有鍋具；
所述預(yù)設(shè)時(shí)間段大于或等于100ms且小于或等于150ms。
5.如權(quán)利要求4所述的電磁爐的鍋具檢測裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)參考電壓大于310V且小于800V。
6.如權(quán)利要求4或5所述的電磁爐的鍋具檢測裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)次數(shù)大于或等于2次且小于或等于3次。
7.一種電磁爐，其特征在于，所述電磁爐包括權(quán)利要求4-6中任一項(xiàng)所述的電磁爐的鍋具檢測裝置。
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