[發明專利]一種全景攝像模組傾斜公差調整方法及調整系統

在審

• 申請號: 201810035563.2
• 申請日: 2018-01-15
• 公開（公告）號: CN108267925A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 楊生武
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力;王寶筠

本申請公開了一種全景攝像模組傾斜公差調整方法及調整系統，所述全景攝像模組傾斜公差調整方法利用光線直線傳播的原理，通過相對設置的第一準直儀和第二準直儀提供一個調整標準從而實現對于全景攝像模組傾斜公差的調整；另外，由于所述全景攝像模組傾斜公差調整方法的整體流程無需對全景攝像模組的搭載工藝進行調整，使得該方法具有流程簡單的優點；而且所述全景攝像模組傾斜公差調整方法以測試位置與感光芯片的感光區域中心的距離參數作為量化傾斜公差的標準，提高了全景攝像模組傾斜公差的調整精度。

技術領域

本申請涉及攝像模組技術領域，更具體地說，涉及一種全景攝像模組傾斜公差調整方法及調整系統。

背景技術

隨著電子設備的不斷發展，攝像功能成為各類電子設備中必備的功能之一，集成在電子設備中的攝像模組用于協助電子設備完成攝像功能。

全景攝像模組通常由承載基板和分別設置在承載基板兩側表面的第一攝像模組以及第二攝像模組構成，在工作過程中，第一攝像模組拍攝的圖像需要和第二攝像模組拍攝的圖像進行拼接，以獲得全景圖像。由于全景攝像模組這樣的工作特性，就要求第一攝像模組和第二攝像模組的感光芯片的感光區域中心在承載基板上的投影基本重合，也就是分別垂直于兩個攝像模組感光區域中心的兩條直線基本重合，我們把分別垂直于兩個攝像模組感光區域中心的兩條直線之間的夾角稱為傾斜公差。

在現有技術中，針對全景攝像模組的傾斜公差的管控基本通過提高全景攝像模組的組裝工藝精度實現，但是全景攝像模組的組裝工藝精度的提升難度較大，并且這種方式對于全景攝像模組的傾斜公差的降低的貢獻并不直觀，難以滿足高精度的全景攝像模組的傾斜公差調整要求。

發明內容

為解決上述技術問題，本發明提供了一種全景攝像模組傾斜公差調整方法及系統，以實現降低全景攝像模組傾斜公差的調整工藝難度，提高全景攝像模組傾斜公差的調整精度的目的。

為實現上述技術目的，本發明實施例提供了如下技術方案：

一種全景攝像模組傾斜公差調整方法，基于光源準直設備實現，所述光源準直設備包括相對設置的第一準直儀和第二準直儀，所述第一準直儀和第二準直儀的出射光線位于同一直線上，所述全景攝像模組傾斜公差調整方法包括：

將全景攝像模組的載體基板設置于所述第一準直儀和第二準直儀之間，并在所述載體基板朝向所述第一準直儀的第一表面搭載第一攝像模組，所述第一攝像模組包括第一基板、第一感光芯片、第一鏡頭座和第一鏡頭；

使所述第一攝像模組處于工作狀態，獲取所述第一準直儀的出射光線成像于所述第一感光芯片表面的位置，作為第一測試位置；

根據第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第一攝像模組，以使所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離誤差小于預設值；

在所述載體基板朝向所述第二準直儀的第二表面搭載第二攝像模組，所述第二攝像模組包括第二基板、第二感光芯片、第二鏡頭座和第二鏡頭；

使所述第二攝像模組處于工作狀態，獲取所述第二準直儀的出射光線成像于所述第二感光芯片表面的位置，作為第二測試位置；

根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第二攝像模組，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的距離小于所述預設值。

可選的，所述根據第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第一攝像模組，以使所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離誤差小于預設值包括：

判斷所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離是否大于或等于預設值；