[發明專利]一種全景攝像模組傾斜公差調整方法及調整系統

在審

• 申請號: 201810035563.2
• 申請日: 2018-01-15
• 公開（公告）號: CN108267925A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 楊生武
• 申請（專利權）人: 信利光電股份有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 駱宗力;王寶筠

1.一種全景攝像模組傾斜公差調整方法，其特征在于，基于光源準直設備實現，所述光源準直設備包括相對設置的第一準直儀和第二準直儀，所述第一準直儀和第二準直儀的出射光線位于同一直線上，所述全景攝像模組傾斜公差調整方法包括：

將全景攝像模組的載體基板設置于所述第一準直儀和第二準直儀之間，并在所述載體基板朝向所述第一準直儀的第一表面搭載第一攝像模組，所述第一攝像模組包括第一基板、第一感光芯片、第一鏡頭座和第一鏡頭；

使所述第一攝像模組處于工作狀態，獲取所述第一準直儀的出射光線成像于所述第一感光芯片表面的位置，作為第一測試位置；

根據第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第一攝像模組，以使所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離誤差小于預設值；

在所述載體基板朝向所述第二準直儀的第二表面搭載第二攝像模組，所述第二攝像模組包括第二基板、第二感光芯片、第二鏡頭座和第二鏡頭；

使所述第二攝像模組處于工作狀態，獲取所述第二準直儀的出射光線成像于所述第二感光芯片表面的位置，作為第二測試位置；

根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第二攝像模組，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的距離小于所述預設值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第一攝像模組，以使所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離誤差小于預設值包括：

判斷所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離是否大于或等于預設值；

如果是，則根據所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系調整所述第一基板，以使所述第一測試位置朝向所述第一感光芯片的感光區域中心靠近，并返回判斷所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離是否大于或等于預設值的步驟；

如果否，則記錄所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數，所述位置關系參數包括所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的距離和方向，并進入在所述載體基板朝向所述第二準直儀的第二表面搭載第二攝像模組的步驟。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系，調整所述第二攝像模組，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的距離小于所述預設值包括：

根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系以及所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數，調整所述第二攝像模組，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的位置關系參數與所述第一測試位置與所述第一感光芯片的位置關系參數相同。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系以及所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數，調整所述第二攝像模組，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的位置關系參數與所述第一測試位置與所述第一感光芯片的位置關系參數相同包括：

判斷所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置參數是否與所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數相同；

如果否，則根據所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置關系調整所述第二基板，以使所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置參數向所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數靠近，并返回判斷所述第二測試位置與所述第二感光芯片的感光區域中心的位置參數是否與所述第一測試位置與所述第一感光芯片的感光區域中心的位置關系參數相同的步驟；

如果是，則判定所述全景攝像模組的傾斜公差滿足要求。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述預設值的取值范圍為10μm-20μm，包括端點值。