[發(fā)明專利]一種搬運機構(gòu)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810035492.6
• 申請日: 2018-01-15
• 公開（公告）號: CN108033249A
• 公開（公告）日: 2018-05-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 高長華;葉坤;商秋鋒
• 申請（專利權(quán)）人: 昆山精訊電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: B65G47/74
• 分類號: B65G47/74
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 胡彬

本發(fā)明公開了一種搬運機構(gòu)，包括底板、兩組移動組件及動力組件，其中，所述底板相平行的兩側(cè)上設(shè)有側(cè)板；兩組所述移動組件相互平行，每組所述移動組件包括至少兩個依次相滑動連接的傳動件，且外側(cè)的兩個所述傳動件分別與兩個所述側(cè)板滑動連接；所述動力組件驅(qū)動靠近所述側(cè)板的所述傳動件沿所述側(cè)板往復(fù)移動，并帶動相鄰兩個所述傳動件往復(fù)移動。本發(fā)明的搬運機構(gòu)利用多個依次滑動連接的傳動件組成移動組件，且各傳動件之間能夠聯(lián)動并相互往復(fù)移動，從而可在較小的空間里實現(xiàn)較長距離的傳輸。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及傳動技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種搬運機構(gòu)。

背景技術(shù)

OLED模組(即OLED顯示模組)出廠前，需要進行各個方面的性能測試，為了檢測OLED模組的老化壽命，一般需要對OLED模組在高溫環(huán)境下進行老化壽命測試。

老化測試時通過插接PCB板的方式將待測模組與外部測試信號導(dǎo)通。目前，在插接PCB板時，需要將待測模組移動至PCB板處進行插接，測試之后，再將模組移走。現(xiàn)有技術(shù)中，通常是通過人工搬運的方式將待測模組移動至PCB板處再搬走，而人工搬運的方式費時費力，測試效率不高。

有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種搬運機構(gòu)，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價值。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提出一種搬運機構(gòu)，能夠自動搬運待測模組，且在模組測試完畢后，自動將模組搬走。

為達此目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

一種搬運機構(gòu)，包括底板、兩組移動組件及動力組件，其中，

所述底板相平行的兩側(cè)上設(shè)有側(cè)板；

兩組所述移動組件相互平行，每組所述移動組件包括至少兩個依次相滑動連接的傳動件，且外側(cè)的兩個所述傳動件分別與兩個所述側(cè)板滑動連接；

所述動力組件驅(qū)動靠近所述側(cè)板的所述傳動件沿所述側(cè)板往復(fù)移動，并帶動相鄰兩個所述傳動件往復(fù)移動。

進一步的，所述側(cè)板上依次設(shè)有至少兩個位置開關(guān)，靠近所述側(cè)板的所述傳動件上設(shè)有感應(yīng)片，所述感應(yīng)片在隨所述傳動件往復(fù)移動過程中，能夠依次觸發(fā)各所述位置開關(guān)。

進一步的，所述傳動件包括兩個支撐板、兩個帶輪、皮帶及第一皮帶牽引組件，其中，

兩個所述支撐板相互平行且兩個所述支撐板之間連接有固定板；

兩個所述帶輪分別轉(zhuǎn)動連接在兩個所述支撐板的兩端之間；

所述皮帶卷繞在兩個所述帶輪上；

所述第一皮帶牽引組件包括夾持相鄰所述傳動件中的所述皮帶的第一夾板、與所述第一夾板連接的第二夾板，所述第一夾板安裝在其中一個所述支撐板上，所述第二夾板活動設(shè)置在與該所述支撐板相鄰的所述傳動件中的所述固定板上。

進一步的，相鄰兩個所述傳動件的兩個相對的所述支撐板中，其中一個所述支撐板設(shè)有沿所述支撐板方向的滑軌，其中另一個所述支撐板上設(shè)有與所述滑軌滑動連接的滑塊。

進一步的，靠近所述側(cè)板的所述傳動件與所述底板之間設(shè)有第二皮帶牽引組件，所述第二皮帶牽引組件包括夾持該所述傳動件中的所述皮帶的第三夾板、與所述第三夾板連接的第四夾板，所述第三夾板安裝在所述底板上，所述第四夾板活動設(shè)置在該所述傳動件中的所述固定板上。

進一步的，兩組所述移動組件中相對的兩個所述傳動件上滑動連接有承載板，該兩個所述傳動件中的所述固定板上均活動設(shè)有第五夾板，所述承載板的兩端分別與兩個所述第五夾板連接，該兩個所述傳動件中的所述皮帶夾在所述承載板的端部與所述第五夾板之間。