[發(fā)明專(zhuān)利]一種基于數(shù)字校準(zhǔn)的流水線ADC有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810034625.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108134606B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭析竹;包晴晴;唐鶴 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 電子科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | H03M1/10 | 分類(lèi)號(hào): | H03M1/10 |
| 代理公司: | 成都點(diǎn)睛專(zhuān)利代理事務(wù)所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 葛啟函 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 數(shù)字 校準(zhǔn) 流水線 adc | ||
一種基于數(shù)字校準(zhǔn)的流水線ADC,屬于模擬集成電路技術(shù)領(lǐng)域。包括數(shù)字延遲陣列、數(shù)字校準(zhǔn)電路、依次串聯(lián)的N?1級(jí)流水線式ADC和最后一級(jí)閃存式ADC、以及串聯(lián)在閃存式ADC之前的冗余級(jí),其中冗余級(jí)包括R級(jí)串聯(lián)的流水線式ADC;流水線式ADC輸出的模擬信號(hào)作為其下一級(jí)ADC的輸入信號(hào),其輸出的數(shù)字信號(hào)連接數(shù)字延遲陣列的輸入端,第一級(jí)流水線式ADC的輸入信號(hào)為外部模擬信號(hào),最后一級(jí)流水線式ADC輸出的模擬信號(hào)連接閃存式ADC的輸入端;閃存式ADC輸出的數(shù)字信號(hào)連接所述數(shù)字延遲陣列的輸入端;數(shù)字校準(zhǔn)電路的輸入端連接數(shù)字延遲陣列的輸出端,其輸出端作為流水線ADC的輸出端。本發(fā)明了降低量化噪聲對(duì)數(shù)字校準(zhǔn)的影響,改善了級(jí)間增益的校準(zhǔn)精度,提高了整體性能。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于模擬集成電路技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于數(shù)字校準(zhǔn)的流水線ADC。
背景技術(shù)
流水線ADC(Pipelined ADC)兼顧高速度和高精度,被廣泛地運(yùn)用于視頻成像系統(tǒng)、通信系統(tǒng)和測(cè)試設(shè)備中。流水線ADC由工作在雙相不交疊時(shí)鐘下的結(jié)構(gòu)相同的轉(zhuǎn)換子級(jí)級(jí)聯(lián)而成,各轉(zhuǎn)換子級(jí)則由基于運(yùn)算放大器(OPAMP)和開(kāi)關(guān)電容電路構(gòu)成的MDAC以及基于比較器的子ADC構(gòu)成。子級(jí)中存在開(kāi)關(guān)的電荷注入效應(yīng)、采樣電容失配、運(yùn)算放大器的有限增益和非線性效應(yīng)、比較器失調(diào)等非理想因素,這些因素限制了轉(zhuǎn)換器最終能夠達(dá)到的精度。為了降低非理想因素的影響,通常需要對(duì)ADC進(jìn)行模擬域或數(shù)字域的校準(zhǔn)。在模擬域消除這些誤差通常需要增加修調(diào)小電容網(wǎng)絡(luò),加大了電路的設(shè)計(jì)難度和復(fù)雜度;此外,數(shù)字電路技術(shù)的發(fā)展和CMOS工藝的改進(jìn),實(shí)現(xiàn)了數(shù)字電路面積和功耗的大幅度下降,因此,利用現(xiàn)有技術(shù)解決該難題最好的方法就是在數(shù)字域進(jìn)行校準(zhǔn)。與模擬校準(zhǔn)技術(shù)相比,數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù)先將誤差影響進(jìn)行量化,然后在數(shù)字域?qū)敵龃a字進(jìn)行補(bǔ)償。由于對(duì)工藝的依賴性小,數(shù)字校準(zhǔn)是目前最流行和研究最多的校準(zhǔn)技術(shù)。
PN(Pseudo-random Noise,偽隨機(jī)噪聲)注入數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù)只需要對(duì)模擬電路稍作修改就能夠提高ADC的性能,因此被廣泛的應(yīng)用于流水線ADC中。這種校準(zhǔn)技術(shù)首先將PN序列注入到子DAC中,然后在流水線ADC的輸出端注入相同的PN序列,通過(guò)對(duì)數(shù)字輸出Dout和PN序列做自相關(guān)運(yùn)算,提取級(jí)間增益誤差,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)級(jí)間增益的校準(zhǔn)。傳統(tǒng)的PN注入數(shù)字校準(zhǔn)技術(shù)中,數(shù)字輸出Dout中的與PN不相關(guān)的量均視為白噪聲,由于受到量化噪聲等PN非相關(guān)項(xiàng)的干擾,級(jí)間增益誤差提取速度慢,且隨校準(zhǔn)級(jí)數(shù)的增加,級(jí)間增益誤差的提取速度呈下降趨勢(shì),從而限制了ADC的精度和收斂速度。
圖1為傳統(tǒng)流水線ADC和其中每級(jí)流水線式ADC的結(jié)構(gòu)示意圖。假設(shè)該流水線一共含有N級(jí)電路,其中前(N-1)級(jí)均為m比特流水線式ADC,最后一級(jí)為k比特閃存式(FLASH)ADC。前(N-1)級(jí)流水線式ADC主要包含兩個(gè)模塊,即子ADC和MDAC。第i級(jí)的輸入信號(hào)同時(shí)連接到子ADC和MDAC,其中1≤i≤N-1,子ADC將輸入信號(hào)與參考電壓進(jìn)行比較,得到2m-1位溫度計(jì)碼。2m-1位溫度計(jì)碼經(jīng)過(guò)相應(yīng)的編碼得到m位數(shù)字碼Douti。同時(shí),2m-1位溫度計(jì)碼與時(shí)鐘信號(hào)經(jīng)過(guò)相應(yīng)的處理,所得結(jié)果作為MDAC中子DAC的控制信號(hào)連接到子DAC的輸入端。子DAC輸出結(jié)果與輸入信號(hào)的差值作為運(yùn)算放大器的輸入信號(hào),經(jīng)過(guò)運(yùn)算放大器的放大,所得結(jié)果輸入到下一級(jí)作為下一級(jí)的輸入信號(hào)Vresi。
如圖1所示,在未考慮PN序列注入的情況下,對(duì)于整體的流水線ADC,數(shù)字輸出的理想值可以表示為:
Di表示第i級(jí)ADC對(duì)應(yīng)的數(shù)字輸出,Wi表示第i級(jí)數(shù)字輸出對(duì)應(yīng)的權(quán)重,G0代表前端采樣保持電路的增益值,實(shí)際電路中一般取為1,Gj為第j級(jí)冗余放大器的級(jí)間增益,0≤j≤i-1,N表示整體ADC的總級(jí)數(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
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