[發明專利]數模轉換中故障表征

有效

• 申請號: 201810033429.9
• 申請日: 2018-01-11
• 公開（公告）號: CN108306643B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: P·恩懷特;M·閔西卡;F·唐尼
• 申請（專利權）人: 亞德諾半導體集團
• 主分類號: H03M1/10
• 分類號: H03M1/10
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 張鑫

本公開涉及數模轉換中故障表征。技術和相關電路被公開并且可以用于以快速和可重復的方式表征數模(DAC)轉換器電路的故障性能，例如用于提供交流(AC)故障值規范。故障引起的DAC輸出偏移值和DAC電路輸入事件速率之間可存在關系。事件速率(例如更新速率)與DAC輸出偏移量之間的關系可以用于至少部分地基于更新速率來預測偏移值，或者用于估計相應的故障脈沖區域。特別地，可以通過使用硬件集成電路來獲得表示故障脈沖區域的值，而不需要使用故障事件波形的數字化時間序列。

優先權聲明

本專利申請要求享有于2017年1月11日提交的題為“數模轉換中故 障表征”的Enright et al.的美國臨時專利申請序列號62,445,209(代理人 案卷號3867.360PRV)的優先權的利益，其全部內容通過引用的方式并入 本文。

技術領域

本文檔一般而非限制地涉及數模轉換，更具體地涉及數模轉換器 (DAC)電路操作中的故障現象。

背景技術

DAC電路可表現出導致瞬變輸出脈沖的動態行為，并且這種脈沖可以 被稱為故障現象。這種故障現象可能與輸出電平(如DAC輸出碼寄存器 變化)，取樣保持電路效應或數字饋通的編程變化有關，DAC電路輸入的 數字訪問導致或有助于瞬變輸出脈沖DAC輸出(有或沒有寄存器寫入對 應于輸出電平變化)。

發明內容

本發明人已經開發了可用于以快速且可重復的方式表征故障性能的 技術和相關電路，例如用于提供交流(AC)最大故障值規范。此外，本發 明人還確定了故障引起的DAC輸出偏移值與DAC電路輸入事件率之間的 關系。事件速率(例如更新速率)與DAC輸出偏移之間的關系可以用于 至少部分地基于更新速率來預測偏移值。特別地，可以通過使用硬件集成 電路來獲得表示故障脈沖區域的值。

指定的持續時間可用于集成單個故障事件或多個復制故障事件。這樣 的綜合事件可以與等效的重復事件或相應的事件進行比較，其中故障不存 在或者這樣的故障被已知量修改。作為說明性示例，可以在不更新(例如， 對應于數字饋通或采樣-保持電容行為，如果被觸發)的DAC寄存器寫入 和具有更新的DAC寄存器寫入之間確定集成區域的差異(包括貢獻對應 于輸出更新)。如果使用硬件集成方法，則故障區域的測量可以與DC測量 相關聯，使得這種方法可重復并且非常適合用于故障區域的片上測量，或 者用于自動測試設備(ATE)環境。

在例子中，用于表征與數模轉換器(DAC)電路相關的瞬變行為的方法 可包括：產生一系列DAC電路輸入事件，從而在DAC電路的輸出端產生 相應瞬變；以及例如使用積分器電路，對來自相應瞬變的貢獻求和以確定 代表所述瞬變的DAC電路輸出偏移值。該方法可包括以指定的重復率產 生一系列事件，例如導致對應于指定的重復率的DAC電路輸出偏移值。 該方法可包括使用所述輸出偏移值來估計代表性瞬變故障區域值。所述一 系列事件可包括一系列的DAC電路寄存器寫入。

在例子中，電路或系統可包括DAC電路。通常，DAC電路可包括： 模擬輸出；和數字輸入，被配置為觸發事件從而在模擬輸出處導致相應瞬 變。這種觸發可包括接收一系列數字輸入事件或產生這些事件。DAC電路 可耦合積分器電路，或可包括這種電路，被配置為對來自相應瞬變的貢獻 求和以確定代表所述瞬變的DAC電路輸出偏移值。DAC電路可包括偏移 補償電路，被配置為對應于確定的DAC電路輸出偏移值將偏移補償應用 于模擬輸出。

本文檔中的主題可以應用于例如DAC電路使用實現本文所述的電路 或技術的自動化測試設備(ATE)來表征，或者例如在DAC電路包括嵌 入式測量能力的情況下，例如作為集成電路的一部分包括DAC電路并且 實施在此描述的電路或技術。

本概述旨在提供本專利申請的主題的概述。這并不是為了提供對本發 明的排他或詳盡的解釋。包括詳細描述以提供關于本專利申請的進一步信 息。

附圖說明