[發(fā)明專利]一種多點(diǎn)同步測(cè)量方法和測(cè)量系統(tǒng)、以及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810029091.X
• 申請(qǐng)日: 2018-01-11
• 公開（公告）號(hào): CN110030922B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳百強(qiáng);李寧;翟學(xué)濤;高云峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市大族數(shù)控科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/00
• 分類號(hào): G01B11/00
• 代理公司: 深圳市世聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種多點(diǎn)同步測(cè)量方法和測(cè)量系統(tǒng)、以及存儲(chǔ)介質(zhì)，涉及電路板加工設(shè)備領(lǐng)域。所述多點(diǎn)同步測(cè)量方法包括：控制待測(cè)試設(shè)備按照一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行移動(dòng)，控制一個(gè)或多個(gè)激光頭組件發(fā)出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割為兩束次級(jí)激光束，其中一束次級(jí)激光束照射在待測(cè)試設(shè)備上，另一束次級(jí)激光束返回激光頭組件內(nèi)；采集照射在測(cè)試設(shè)備上返回的一束或者多束激光束，根據(jù)待測(cè)試設(shè)備返回的激光束和分割出來的另一束次級(jí)激光束得出待測(cè)試設(shè)備上各個(gè)反射點(diǎn)的位移值。本發(fā)明實(shí)施例所述的多點(diǎn)同步測(cè)量方法和測(cè)量系統(tǒng)、以及存儲(chǔ)介質(zhì)實(shí)現(xiàn)加工設(shè)備的工作臺(tái)多個(gè)部位的精度測(cè)試，取得準(zhǔn)確直觀的測(cè)試結(jié)果。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明實(shí)施例涉及電路板加工設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種多點(diǎn)同步測(cè)量方法和測(cè)量系統(tǒng)、以及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

在工業(yè)生產(chǎn)過程中，PCB板(Printed Circuit Board，印制電路板)通常采用機(jī)械鉆孔機(jī)進(jìn)行打孔加工操作。

發(fā)明人在研究本申請(qǐng)的過程中發(fā)現(xiàn)，在生產(chǎn)過程中，六軸的PCB機(jī)械鉆孔機(jī)做點(diǎn)位運(yùn)動(dòng)，此時(shí)，工作臺(tái)的定位精度直接影響鉆孔精度。由于在實(shí)際情況下，工作臺(tái)的剛度不可能無窮大、工作臺(tái)兩側(cè)不完全對(duì)稱、導(dǎo)軌安裝有偏差、電機(jī)推動(dòng)力不在絕對(duì)中心等原因，導(dǎo)致工作臺(tái)的各個(gè)部位的定位精度的不一致。反應(yīng)到整機(jī)精度上時(shí)，即為多個(gè)軸的加工精度會(huì)各不相同，導(dǎo)致工作臺(tái)兩側(cè)定位精度具有較大的偏差，所以在設(shè)備研發(fā)和驗(yàn)證階段必須準(zhǔn)確把握工作臺(tái)不同位置點(diǎn)的定位精度情況。因此，如何實(shí)現(xiàn)加工設(shè)備的工作臺(tái)多個(gè)部位的精度測(cè)試，取得準(zhǔn)確直觀的測(cè)試結(jié)果，成為亟待解決的問題。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題是，實(shí)現(xiàn)加工設(shè)備的工作臺(tái)多個(gè)部位的精度測(cè)試，取得準(zhǔn)確直觀的測(cè)試結(jié)果。

為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明實(shí)施例采用了以下的技術(shù)方案：

一方面，一種多點(diǎn)同步測(cè)量方法，包括：

控制待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定測(cè)試間距的一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行移動(dòng)，控制一個(gè)或多個(gè)激光頭組件發(fā)出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割為兩束次級(jí)激光束，其中一束次級(jí)激光束照射在待測(cè)試設(shè)備上，另一束次級(jí)激光束返回激光頭組件內(nèi)；

采集照射在測(cè)試設(shè)備上返回的一束或者多束激光束，根據(jù)待測(cè)試設(shè)備返回的激光束和分割出來的另一束次級(jí)激光束得出待測(cè)試設(shè)備上各個(gè)反射點(diǎn)的位移值；

根據(jù)待測(cè)試設(shè)備在一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)得到的一個(gè)或者多個(gè)位移值，并得出數(shù)據(jù)曲線。

在本發(fā)明的一個(gè)或者多個(gè)實(shí)施例中，每個(gè)激光頭組件發(fā)出激光束后，將激光束分割為相同強(qiáng)度的兩束次級(jí)激光束。

在本發(fā)明的一個(gè)或者多個(gè)實(shí)施例中，通過干涉原理比較每束待測(cè)試設(shè)備反射的激光束和分割出來的另一束次級(jí)激光束，換算得出待測(cè)試設(shè)備在當(dāng)前測(cè)試點(diǎn)上各個(gè)反射點(diǎn)所移動(dòng)的位移值。

在本發(fā)明的一個(gè)或者多個(gè)實(shí)施例中，所述控制一個(gè)或多個(gè)激光頭組件發(fā)出一束或者多束激光束，具體為：分別在待測(cè)試設(shè)備前方分別設(shè)置有三個(gè)激光頭組件，且所述激光頭組件分別固定在待測(cè)試設(shè)備的兩端和中部的前方，并使得每個(gè)激光頭組件在同一時(shí)刻被觸發(fā)，統(tǒng)一進(jìn)行被反射的激光束的采集。

在本發(fā)明的一個(gè)或者多個(gè)實(shí)施例中，通過待測(cè)試設(shè)備的兩端和中部的反射的激光束，得到待測(cè)試設(shè)備左端對(duì)應(yīng)的第一位移值、待測(cè)試設(shè)備右端對(duì)應(yīng)的第二位移值、以及待測(cè)試設(shè)備中部對(duì)應(yīng)的第三位移值；

另一方面，一種測(cè)量系統(tǒng)，用于實(shí)現(xiàn)所述的多點(diǎn)同步測(cè)量方法，包括：一個(gè)或多個(gè)激光頭組件、一個(gè)或多個(gè)分光組件、一個(gè)或多個(gè)反光組件、觸發(fā)器和處理器；

所述處理器控制待測(cè)試設(shè)備按照預(yù)定測(cè)試間距的一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行移動(dòng)，并控制一個(gè)或多個(gè)激光頭組件發(fā)出一束或者多束激光束，一個(gè)或多個(gè)分光組件使得每束激光束分割為兩束次級(jí)激光束，其中一束次級(jí)激光束照射在待測(cè)試設(shè)備上，另一束次級(jí)激光束返回激光頭組件內(nèi)；