[發明專利]一種多點同步測量方法和測量系統、以及存儲介質

有效

• 申請號: 201810029091.X
• 申請日: 2018-01-11
• 公開（公告）號: CN110030922B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 陳百強;李寧;翟學濤;高云峰
• 申請（專利權）人: 深圳市大族數控科技股份有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 深圳市世聯合知識產權代理有限公司 44385
• 代理人: 汪琳琳

1.一種多點同步測量方法，其特征在于，包括：

控制待測試設備按照預定測試間距的多個測試點進行移動，控制一個或多個激光頭組件發出一束或者多束激光束，使得每束激光束分割為兩束次級激光束，其中一束次級激光束照射在待測試設備上，另一束次級激光束返回激光頭組件內；

采集照射在測試設備上返回的一束或者多束激光束，根據待測試設備返回的激光束和分割出來的另一束次級激光束得出待測試設備上各個反射點的位移值；通過干涉原理比較每束待測試設備反射的激光束和分割出來的另一束次級激光束，換算得出待測試設備在當前測試點上各個反射點所移動的位移值；

根據待測試設備在多個測試點移動得到多個位移值，并得出數據曲線，通過得到多個部位的位移值進一步換算在數據曲線中標識設備兩端的位移差值的變化。

2.根據權利要求1所述的多點同步測量方法，其特征在于，每個激光頭組件發出激光束后，將激光束分割為相同強度的兩束次級激光束。

3.根據權利要求2所述的多點同步測量方法，其特征在于，所述控制多個激光頭組件發出多束激光束，具體為：在待測試設備前方分別設置有三個激光頭組件，且所述激光頭組件分別固定在待測試設備的兩端和中部的前方，并使得每個激光頭組件在同一時刻被觸發，統一進行被反射的激光束的采集。

4.根據權利要求3所述的多點同步測量方法，其特征在于，通過待測試設備的兩端和中部的反射的激光束，得到待測試設備左端對應的第一位移值、待測試設備右端對應的第二位移值、以及待測試設備中部對應的第三位移值。

5.一種測量系統，用于實現權利要求1-4中任一項所述的多點同步測量方法，其特征在于，包括：一個或多個激光頭組件、一個或多個分光組件、一個或多個反光組件、觸發器和處理器；

所述處理器控制待測試設備按照預定測試間距的多個測試點進行移動，并控制一個或多個激光頭組件發出一束或者多束激光束，一個或多個分光組件使得每束激光束分割為兩束次級激光束，其中一束次級激光束照射在待測試設備上，另一束次級激光束返回激光頭組件內；

一個或多個激光頭組件采集照射在測試設備上返回的一束或者多束待測試設備反射的激光束，并根據待測試設備返回的激光束和分割出來的另一束次級激光束得出待測試設備上各個反射點的位移值；

所述處理器根據待測試設備在多個測試點移動得到的多個位移值，并得出數據曲線。

6.根據權利要求5所述的測量系統，其特征在于，每個激光頭組件發出激光束后，分光組件將激光束分割為相同強度的兩束次級激光束。

7.根據權利要求6所述的測量系統，其特征在于，所述激光頭組件通過干涉原理比較每束待測試設備反射的激光束和分割出來的另一束次級激光束，換算得出待測試設備在當前測試點上各個反射點所移動的位移值。

8.根據權利要求7所述的測量系統，其特征在于，在待測試設備前方分別設置有三個激光頭組件，且所述激光頭組件分別固定在待測試設備的兩端和中部的前方，并使得每個激光頭組件在同一時刻被觸發，統一進行被反射的激光束的采集；

通過待測試設備的兩端和中部的反射的激光束，得到待測試設備左端對應的第一位移值、待測試設備右端對應的第二位移值、以及待測試設備中部對應的第三位移值。

9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有指令，所述指令被處理器執行時使得所述處理器執行根據權利要求1至4中任意一項所述多點同步測量方法。