[發(fā)明專利]可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測(cè)試的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀控制系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810028344.1
• 申請(qǐng)日: 2018-01-12
• 公開（公告）號(hào): CN108153230B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢錦繡
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 錢立文
• 主分類號(hào): G05B19/05
• 分類號(hào): G05B19/05;G01R31/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測(cè)試的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀控制系統(tǒng),包括成品膜卷檢測(cè)傳感器PH1(10)、可編程邏輯控制器PLC(11)、切換繼電器K1(12)，還包括兩個(gè)分別對(duì)應(yīng)于成品膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W1(1)、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2(2)、磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)及兩個(gè)分別用于成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1(4)、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2(5)；本發(fā)明可自動(dòng)完成適應(yīng)試樣膜卷及成品膜卷測(cè)試的張力調(diào)節(jié)及張力控制模式切換，又可以實(shí)現(xiàn)分別針對(duì)成品膜卷與試樣膜卷張力需要實(shí)現(xiàn)無極調(diào)速，可以適應(yīng)大小膜卷測(cè)試的需要。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及用于生產(chǎn)薄膜電容器的電工薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀的控制系統(tǒng),特別涉及一種可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測(cè)試的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀控制系統(tǒng)。

背景技術(shù)

現(xiàn)有的電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀一般包括試樣輥、導(dǎo)電橡膠板、電極銅輥、收卷輥；電極輥前端至少設(shè)置有一個(gè)展平輥，電極輥后端至少設(shè)置有一個(gè)導(dǎo)向輥，以及控制部分構(gòu)成。其工作原理是當(dāng)收卷輥帶動(dòng)試樣輥上的一定寬度的薄膜經(jīng)過電極輥，設(shè)置在電極輥上端一定寬度的等電位的導(dǎo)電橡膠板柔性與薄膜呈橫向線接觸，將電壓施加到薄膜上。導(dǎo)電橡膠板、移動(dòng)的薄膜、電極輥即構(gòu)成了一個(gè)高壓回路，此高壓回路的漏電流隨移動(dòng)的薄膜而變，當(dāng)薄膜某處有弱點(diǎn)（瑕疵）時(shí)，此高壓回路的漏電流會(huì)突變，在高壓回路中采集到這種突變的漏電流亦即測(cè)試到薄膜電弱點(diǎn)。CN201017020Y公開的就是這樣一種電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀；為了測(cè)試時(shí)薄膜展平效果好，通過磁粉制動(dòng)器對(duì)試樣輥施加的一定阻力，CN203587744U公開了一種薄膜展平效果好的電氣用塑料薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀；《電子工業(yè)專用設(shè)備》2013年第Z1期P43-P46公開本專利權(quán)人研制的這種薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，《智慧工廠》(曾用刊名：《可編程控制器與工廠自動(dòng)化》) 2013年第10期P53-P57+ P44本專利權(quán)人公布了這樣一種薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀控制系統(tǒng)。但這種儀器的使用條件都是必須先分切一卷直徑較小的試樣膜卷,然后人工將試樣膜卷架上測(cè)試腔內(nèi)的試樣輥上去；實(shí)際生產(chǎn)中，成品膜卷直徑很大，重量達(dá)150KG，該類儀器都無法完成對(duì)成品膜卷進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，因此存在明顯的使用局限性。為此，本專利權(quán)人已申報(bào)了可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測(cè)試的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀專利，既可以測(cè)試直徑較小的試樣膜卷，又可以測(cè)試直徑較大成品膜卷。然而，薄膜展平效果主要取決于薄膜所受張力，而薄膜所受張力取決于磁粉制動(dòng)器對(duì)放卷輥施加的阻力，成品膜卷與試樣膜卷直徑相差很大，這就決定成品膜卷與試樣膜卷必須有兩種張力控制，另一方面對(duì)于成品膜卷與試樣膜卷直徑不同，這兩種張力又是不同的且必須是無極可調(diào)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在提供一種可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測(cè)試的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀控制系統(tǒng)，使儀器自動(dòng)完成適應(yīng)試樣膜卷及成品膜卷測(cè)試的張力調(diào)節(jié)及張力控制模式切換，又可以實(shí)現(xiàn)分別針對(duì)成品膜卷與試樣膜卷張力需要實(shí)現(xiàn)無極調(diào)速，可以適應(yīng)大小膜卷測(cè)試的需要。

技術(shù)方案：

本發(fā)明采用了以下技術(shù)方案：

包括成品膜卷檢測(cè)傳感器PH1、可編程邏輯控制器PLC、切換繼電器K1，所述成品膜卷檢測(cè)傳感器PH1與可編程邏輯控制器PLC輸入端電連接，所述切換繼電器K1線包與可編程邏輯控制器PLC輸出端電連接；

還包括兩個(gè)分別對(duì)應(yīng)于成品膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W1、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2、磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器及兩個(gè)分別用于成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2, 所述兩個(gè)分別對(duì)應(yīng)于成品膜卷張力調(diào)節(jié)電位器W1、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2并聯(lián)在磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器的0-5V電壓之間形成兩組電壓取樣電路，成品膜卷、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W1、W2的中間抽頭分別通過切換繼電器K1的一對(duì)常開常閉觸點(diǎn)開關(guān)K1-1與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器的模擬量輸入端AV電連接，所述成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2的V+端分別通過切換繼電器K1的另一對(duì)常開常閉觸點(diǎn)開關(guān)K1-2與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器的輸出端V+電連接，成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2的V-端等電位與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器的輸出端V-電連接。