[發(fā)明專利]可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810028344.1
• 申請日: 2018-01-12
• 公開（公告）號: CN108153230B
• 公開（公告）日: 2020-06-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 錢錦繡
• 申請（專利權(quán)）人: 錢立文
• 主分類號: G05B19/05
• 分類號: G05B19/05;G01R31/12
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)，其特征在于：

A、該系統(tǒng)包括成品膜卷檢測傳感器PH1(10)、可編程邏輯控制器PLC(11)、切換繼電器K1(12)；

所述成品膜卷檢測傳感器PH1(10)與可編程邏輯控制器PLC(11)輸入端電連接，所述切換繼電器K1(12)線包與可編程邏輯控制器PLC(11)輸出端電連接；

所述成品膜卷檢測傳感器PH1(10)設(shè)置在儀器測試腔內(nèi)，位于過渡輥(22)與窗口(23)之間且低于過渡輥(22)中軸線；試樣膜卷(20)測試時(shí)，小膜卷上的薄膜不經(jīng)過過渡輥，因此成品膜卷檢測傳感器PH1(10)檢測不到成品膜卷上的薄膜；成品膜卷(21)測試時(shí)，將成品膜卷(21)上的薄膜從后壁窗口(23)引入，成品膜卷(21)上的薄膜經(jīng)過過渡輥(22)，成品膜卷檢測傳感器PH1(10)檢測到成品膜卷上的薄膜；

B、該系統(tǒng)還包括兩個(gè)分別對應(yīng)于成品膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W1(1)、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2(2)、磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)及兩個(gè)分別用于成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1(4)、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2(5)；

所述兩個(gè)分別對應(yīng)于成品膜卷張力調(diào)節(jié)電位器W1(1)、試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2(2)并聯(lián)在磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)的0-5V電壓之間形成兩組電壓取樣電路，成品膜卷張力調(diào)節(jié)電位器W1(1)、試樣膜卷張力調(diào)節(jié)電位器W2(2)的中間抽頭分別通過切換繼電器K1(12)的一對常開常閉觸點(diǎn)開關(guān)K1-1與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)的模擬量輸入端AV電連接；

所述成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1(4)、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2(5)的V+端分別通過切換繼電器K1(12)的另一對常開常閉觸點(diǎn)開關(guān)K1-2與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)的輸出端V+電連接，成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1(4)、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2(5)的V-端等電位與磁粉制動(dòng)器驅(qū)動(dòng)器(3)的輸出端V-電連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)，其特征在于，所述切換繼電器K1(12)至少包含兩對常開常閉觸點(diǎn)開關(guān)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)，其特征在于，所述成品膜卷張力調(diào)節(jié)電位器W1(1)及試樣膜卷的張力調(diào)節(jié)電位器W2(2)設(shè)置在儀器操作面板上，其阻值均為4.7KΩ。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)，其特征在于，所述成品膜卷檢測傳感器PH1(10)為E3F1-DS8C4型光電開關(guān)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的可實(shí)現(xiàn)大小膜卷測試的薄膜電弱點(diǎn)測試儀控制系統(tǒng)，其特征在于，所述成品膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z1(4)為FX-0.6YN薄型磁粉制動(dòng)器、試樣膜卷張力控制的磁粉制動(dòng)器Z2 (5)為FX-0.3YN薄型磁粉制動(dòng)器。