[發(fā)明專利]一種測(cè)量聚合物超痕量放射性本底的檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810023562.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108414607B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉洪濤 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中山大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N27/62 | 分類號(hào): | G01N27/62;G01N1/44 |
| 代理公司: | 北京市萬(wàn)慧達(dá)律師事務(wù)所 11111 | 代理人: | 謝敏楠 |
| 地址: | 510275 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 測(cè)量 聚合物 痕量 放射性 本底 檢測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明屬于分析化學(xué)領(lǐng)域,涉及一種測(cè)量聚合物中超痕量放射性本底的檢測(cè)方法。本發(fā)明采用干灰化法的前處理方式,建立了ICP?MS測(cè)量超痕量放射性本底的分析方法,實(shí)現(xiàn)了有機(jī)玻璃中超痕量元素的分析。本發(fā)明的檢測(cè)方法檢出限可達(dá)1pg/g以下,此外,本發(fā)明的方法還具有操作簡(jiǎn)單、快速、準(zhǔn)確的優(yōu)勢(shì)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于分析化學(xué)領(lǐng)域,涉及一種測(cè)量聚合物中超痕量放射性本底的檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
(1)放射性本底測(cè)量的研究背景
粒子物理作為前沿科學(xué)研究中最重要的學(xué)科之一,受到科研工作者的廣泛關(guān)注。其中,中微子研究在國(guó)際粒子物理研究中占據(jù)重要地位,是迄今為止唯一有實(shí)驗(yàn)證據(jù)的超越粒子物理標(biāo)準(zhǔn)模型的新物理,為了解微觀物質(zhì)結(jié)構(gòu)和宏觀宇宙的起源與演變提供充分證據(jù)。所以,中微子研究成為現(xiàn)代科研工作者研究的對(duì)象。繼2012年中國(guó)大亞灣中微子實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)一種新的中微子震蕩之后,第二個(gè)中微子實(shí)驗(yàn)計(jì)劃于2014年底開(kāi)始建設(shè)實(shí)施,該實(shí)驗(yàn)工作站最佳選址位于江門(mén),致力于打造世界上最高精度、最低本底、最大規(guī)模的中微子探測(cè)器,以徹底揭開(kāi)中微子質(zhì)量順序之謎。
當(dāng)前,江門(mén)中微子實(shí)驗(yàn)站計(jì)劃在地下700米建造一個(gè)大型的實(shí)驗(yàn)裝置,包括一個(gè)容納20kt液體閃爍體的有機(jī)玻璃中心探測(cè)器以及少量的配套設(shè)備。有機(jī)玻璃球面被500個(gè)以上的不銹鋼支撐節(jié)點(diǎn),外層有將近20000個(gè)光電倍增管觀測(cè)中微子與液體閃爍體介質(zhì)相互作用產(chǎn)生的微弱光信號(hào)。由于天然放射性元素普遍存在于我們生活的日常環(huán)境中,其原子核不穩(wěn)定常會(huì)以α射線、β射線以及γ射線等能量形式進(jìn)行輻射,同時(shí),環(huán)境中還存在大量的宇宙射線,兩者產(chǎn)生的光信號(hào)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)中微子信號(hào),對(duì)中微子信號(hào)的探測(cè)造成嚴(yán)重的背景干擾。因此,需要對(duì)中微子探測(cè)器的周邊環(huán)境提出高要求:1)建造于很深的地下,通過(guò)巖石層來(lái)阻擋大量的宇宙射線;2)中間以超純水作為屏蔽層,通過(guò)水來(lái)阻擋環(huán)境中天然放射性元素的衰變射線。
除此以外,在核物理、粒子物理、天體粒子物理這些領(lǐng)域中,大量實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,對(duì)幾乎所有的實(shí)驗(yàn)而言,探測(cè)器受裝置材料放射性本底的干擾最為嚴(yán)重,比如U-238,Th-232,K-40,Co-60等。這些放射性同位素在相當(dāng)長(zhǎng)的一段時(shí)間內(nèi)會(huì)發(fā)生alpha和beta衰變,伴隨產(chǎn)生gamma射線等光信號(hào),這樣的放射性衰變自然就會(huì)成為本底事例,制約中微子探測(cè)器靈敏度和工作效率,影響實(shí)驗(yàn)預(yù)期的物理結(jié)果。顯然,復(fù)雜的探測(cè)器裝置是由有機(jī)玻璃、不銹鋼連接件、光電倍增管以及電纜等材料搭建而成。而這些材料中放射性同位素U-238,Th-232,K-40和Co-60由于普遍存在于環(huán)境中,因此在材料生產(chǎn)、加工、運(yùn)輸、探測(cè)器裝配等環(huán)節(jié)都有可能被引入。目前,關(guān)于探測(cè)器材料本底的有效控制還面臨著巨大的挑戰(zhàn),同時(shí),測(cè)量探測(cè)器各種材料的放射性本底,并篩選出合格的材料將是一個(gè)重大課題。
基于此研究背景下,我們有必要對(duì)地下實(shí)驗(yàn)室基礎(chǔ)設(shè)施和中微子實(shí)驗(yàn)探測(cè)器系統(tǒng)所用材料進(jìn)行放射性本底的測(cè)量和評(píng)估,為中微子探測(cè)器的選材提供參考意見(jiàn),尋找到最合適的材料作為中微子探測(cè)裝置。
(2)放射性元素測(cè)量方法的發(fā)展現(xiàn)狀
自19世紀(jì)90年代發(fā)現(xiàn)放射性以來(lái),放射性元素在眾多學(xué)科中有著重要的研究?jī)r(jià)值,例如:生命科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、地質(zhì)年代學(xué)以及核應(yīng)用等。目前,關(guān)于放射性元素測(cè)量方法有很多,主流的有兩大技術(shù):1)傳統(tǒng)的放射性測(cè)量分析技術(shù);2)非放射性測(cè)量分析技術(shù):以質(zhì)譜分析為主。
傳統(tǒng)的放射性測(cè)量分析技術(shù)一直以來(lái)被頻繁使用,其主要包括以下三個(gè)方面:α計(jì)數(shù)、β計(jì)數(shù)、γ計(jì)數(shù)。對(duì)于本課題研究的關(guān)于材料中超痕量放射性本底的測(cè)量,上述方法都存在共同的弊端:1)儀器靈敏度和檢出限限制了超痕量放射性本底的測(cè)量;2)分析周期較長(zhǎng);3)背景噪音大;4)樣品用量大;5)計(jì)數(shù)率低。因此,在超痕量元素快速、準(zhǔn)確的測(cè)量上并不理想。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中山大學(xué),未經(jīng)中山大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810023562.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備
- 除污用磁性復(fù)合粒子、及其制造方法、以及放射性物質(zhì)類除污系統(tǒng)、及放射性物質(zhì)類的除污方法
- 一種放射性廢物桶活度測(cè)量裝置
- 放射性粒子自動(dòng)化植入設(shè)備
- 放射性粒子自動(dòng)化植入設(shè)備
- 放射性物質(zhì)監(jiān)測(cè)設(shè)備的測(cè)試裝置
- 一種放射性廢液預(yù)處理系統(tǒng)
- 用于核醫(yī)學(xué)診療設(shè)施的放射性廢液處理設(shè)備
- 用于核醫(yī)學(xué)診療設(shè)施的放射性廢液處理設(shè)備
- 放射性同位素發(fā)生器壽命的早期檢測(cè)
- 放射性化學(xué)廢物處理裝置以及放射性化學(xué)廢物處理方法





