[發明專利]一種測量聚合物超痕量放射性本底的檢測方法

有效

• 申請號: 201810023562.6
• 申請日: 2018-01-10
• 公開（公告）號: CN108414607B
• 公開（公告）日: 2021-01-01
• 發明（設計）人: 劉洪濤
• 申請（專利權）人: 中山大學
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62;G01N1/44
• 代理公司: 北京市萬慧達律師事務所 11111
• 代理人: 謝敏楠

1.一種測量聚合物中超痕量放射性本底的檢測方法，其特征在于包含以下步驟：

(1)將聚合物置于石英坩堝中焦化處理；

(2)經焦化處理的聚合物連同坩堝灰化至無明顯殘渣；

(3)灰化后冷卻至室溫，在坩堝中加入含HNO₃和HCl的水溶液；

(4)加熱石英坩堝至溶液微沸；

(5)冷卻后用ICP-MS測定；

所述的放射性本底為²³⁸U、²³²Th、⁶⁰Co、⁴⁰K中的一種或幾種。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的放射性本底為²³⁸U、²³²Th、⁶⁰Co中的一種或幾種。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的放射性本底為²³⁸U和/或²³²Th。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的聚合物選自有機聚合物。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述的有機聚合物選自生物醫用聚酯、聚偏二氟乙烯、聚甲基丙烯酸甲酯中的任意一種。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的聚合物選自聚甲基丙烯酸甲酯。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，聚合物的取樣量為10～25g。

8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，聚合物的取樣量為18～22g。

9.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，聚合物的取樣量為20g。

10.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，取樣采用四分法取樣。

11.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，在電爐上進行焦化處理。

12.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，焦化處理的溫度為200～400℃。

13.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，焦化處理的溫度為250～350℃。

14.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(1)中，焦化處理的溫度為300℃。

15.根據權利要求1所述的方法，其特征在于步驟(1)中，將坩堝置于電爐上進行焦化處理。

16.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(2)中，灰化的溫度為450～600℃，灰化的時間為不低于30min。

17.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(2)中，灰化的溫度為500℃；灰化的時間為30min。

18.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(3)中，用含HNO₃和HCl的水溶液沿石英坩堝壁加入，均勻浸濕坩堝壁。

19.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(3)中，含HNO₃和HCl的水溶液中，HNO₃的體積分數為1％～10％。