[發明專利]一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法

有效

• 申請號: 201810014752.1
• 申請日: 2018-01-08
• 公開（公告）號: CN108318514B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發明（設計）人: 邱振;盧斌;周尚文;董大忠
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01N23/22
• 分類號: G01N23/22;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝

本申請實施例公開了一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法，包括：對頁巖樣品的斷面進行鍍碳處理；利用臺式掃描電鏡對所述頁巖樣品進行初步掃描，確定所述頁巖樣品中筆石體及圍巖中的有機質分布位置；利用聚焦離子束掃描電鏡對所述頁巖樣品的筆石體及圍巖中的有機質分布位置處進行成像操作，得到掃描圖像；對所述掃描圖像進行第一屬性提取，分別計算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機質豐度；對所述掃描圖像中筆石體和圍巖的孔隙進行清繪，對清繪后的掃描圖像進行第一處理，根據第一處理結果分別計算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機質孔隙的直徑和面孔率。可以準確獲得筆石體與圍巖的有機質豐度和有機質孔隙特征情況。

技術領域

本申請涉及石油勘探技術領域，特別涉及一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法。

背景技術

四川盆地及周緣五峰組-龍馬溪組地層中發育著大量的富含有機質的黑色筆石頁巖，蘊含著豐富的地球化學信息，是目前中國頁巖氣勘探開發的重點層系。開展頁巖中有機質特征研究對于頁巖氣的勘探開發具有重要的指導意義。

前人對筆石開展了大量的研究工作，主要研究了筆石的物質組成和光學特征，提出了筆石的反射率指示烴源巖成熟度，以及討論了筆石對頁巖儲層儲集能力的貢獻。由于筆石體的尺寸較大(長度在mm-cm級)，目前通常采用普通的光學顯微鏡來研究筆石中有機質的微細結構和光性特征，為生物地層學和烴源巖成熟度的研究奠定了理論基礎。

目前對于筆石體與圍巖中有機質與孔隙特征的差異研究甚少。現有研究頁巖中筆石的技術手段主要是基于肉眼觀察、普通光學顯微鏡和顯微傅立葉紅外光譜等方法，對筆石體與圍巖組成和形態特征進行研究。

發明人發現現有技術中至少存在如下問題：由于普通光學顯微鏡的分辨率低，景深小，較難對筆石體與圍巖的有機質和微孔隙特征進行有效的表征，因此，無法準確獲得筆石體與圍巖的有機質豐度和有機質孔隙特征情況。

發明內容

本申請實施例的目的是提供一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法，以準確獲得筆石體與圍巖的有機質豐度和有機質孔隙特征情況。

為解決上述技術問題，本申請實施例提供一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法是這樣實現的：

一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法，包括：

對頁巖樣品的斷面進行鍍碳處理；

利用臺式掃描電鏡對所述頁巖樣品進行初步掃描，確定所述頁巖樣品中筆石體及圍巖中的有機質分布位置；

利用聚焦離子束掃描電鏡對所述頁巖樣品的筆石體及圍巖中的有機質分布位置處進行成像操作，得到掃描圖像；

對所述掃描圖像進行第一屬性提取，分別計算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機質豐度；

對所述掃描圖像中筆石體和圍巖的孔隙進行清繪，對清繪后的掃描圖像進行第一處理，根據第一處理結果分別計算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機質孔隙的直徑和面孔率。

優選方案中，所述頁巖樣品的斷面上具有至少1條筆石體，所述頁巖樣品的尺寸小于2厘米×2厘米。

優選方案中，所述鍍碳處理采用真空鍍膜技術，具體包括：將碳棒在真空下通過大電流加熱進行蒸發，蒸發的蒸汽沉積在所述頁巖樣品的表面形成碳膜。

優選方案中，所述大電流加熱蒸發的時間為10-15分鐘。

優選方案中，所述臺式掃描電鏡放大倍數為130-150倍，掃描電壓為5千伏。

優選方案中，所述聚焦離子束掃描電鏡的放大倍數為1000-60000倍，掃描電壓為5千伏。

優選方案中，所述聚焦離子束掃描電鏡利用二次電子探頭采集圖像，以得到所述掃描圖像。