[發(fā)明專利]一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810014752.1
• 申請(qǐng)日: 2018-01-08
• 公開（公告）號(hào): CN108318514B
• 公開（公告）日: 2021-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 邱振;盧斌;周尚文;董大忠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)石油天然氣股份有限公司
• 主分類號(hào): G01N23/22
• 分類號(hào): G01N23/22;G01N23/2202;G01N15/08;G01N1/28
• 代理公司: 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 李輝

1.一種確定筆石體與圍巖的屬性信息的方法，其特征在于，包括：

對(duì)頁巖樣品的斷面進(jìn)行鍍碳處理；

利用臺(tái)式掃描電鏡對(duì)所述頁巖樣品進(jìn)行初步掃描，確定所述頁巖樣品中筆石體及圍巖中的有機(jī)質(zhì)分布位置；所述臺(tái)式掃描電鏡放大倍數(shù)為130-150倍，掃描電壓為5千伏；

利用聚焦離子束掃描電鏡對(duì)所述頁巖樣品的筆石體及圍巖中的有機(jī)質(zhì)分布位置處進(jìn)行成像操作，得到掃描圖像；所述聚焦離子束掃描電鏡的放大倍數(shù)為1000-60000倍，掃描電壓為5千伏；所述聚焦離子束掃描電鏡利用二次電子探頭采集圖像；

對(duì)所述掃描圖像進(jìn)行第一屬性提取，分別計(jì)算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機(jī)質(zhì)豐度；所述對(duì)所述掃描圖像進(jìn)行第一屬性提取包括提取所述圖像的灰度屬性，所述分別計(jì)算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機(jī)質(zhì)豐度，包括：計(jì)算所述掃描圖像中筆石體分布位置處，第一屬性為黑色的第一像素?cái)?shù)；計(jì)算所述掃描圖像中圍巖分布位置處，第一屬性為黑色的第二像素?cái)?shù)；第一像素?cái)?shù)與掃描圖像總像素?cái)?shù)的比值為筆石體的有機(jī)質(zhì)豐度，第二像素?cái)?shù)與掃描圖像總像素?cái)?shù)的比值為圍巖的有機(jī)質(zhì)豐度；

對(duì)所述掃描圖像中筆石體和圍巖的孔隙進(jìn)行清繪，對(duì)清繪后的掃描圖像進(jìn)行第一處理，根據(jù)第一處理結(jié)果分別計(jì)算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機(jī)質(zhì)孔隙的直徑和面孔率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述頁巖樣品的斷面上具有至少1條筆石體，所述頁巖樣品的尺寸小于2厘米×2厘米。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述鍍碳處理采用真空鍍膜技術(shù)，具體包括：將碳棒在真空下通過電流加熱進(jìn)行蒸發(fā)，蒸發(fā)的蒸汽沉積在所述頁巖樣品的表面形成碳膜。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述電流加熱蒸發(fā)的時(shí)間為10-15分鐘。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述對(duì)清繪后的掃描圖像進(jìn)行第一處理，包括：對(duì)所述清繪的掃描圖像中的孔隙進(jìn)行灰度處理，以使所述孔隙為灰度圖像。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)第一處理結(jié)果分別計(jì)算所述掃描圖像中筆石體與圍巖的有機(jī)質(zhì)孔隙的直徑和面孔率，包括：

識(shí)別所述第一處理結(jié)果中筆石體分布位置處的第一孔隙，統(tǒng)計(jì)所述第一孔隙的孔隙直徑和面孔率；

識(shí)別所述第一處理結(jié)果中圍巖分布位置處的第二孔隙，統(tǒng)計(jì)所述第二孔隙的孔隙直徑和面孔率。