[發明專利]一種芯片調試方法及裝置在審
| 申請號： | 201810010819.4 | 申請日： | 2018-01-05 |
| 公開（公告）號： | CN110008075A | 公開（公告）日： | 2019-07-12 |
| 發明（設計）人： | 張超 | 申請（專利權）人： | 深圳市中興微電子技術有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/26 | 分類號： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京安信方達知識產權代理有限公司 11262 | 代理人： | 孫敬霞;龍洪 |
| 地址： | 518055 廣東省深*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 寄存器 芯片調試 寄存器地址信號 讀取 串行輸入 地址信號 關鍵信號 調試 芯片 輸出 申請 | ||
1.一種芯片調試方法，其特征在于，包括：
在進入DEBUG模式之后，接收串行輸入的寄存器的地址信號；
根據所述寄存器地址信號，讀取相應寄存器的值；
將所述寄存器的值串行輸出。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述寄存器地址信號，讀取相應寄存器的值，包括：
解碼所述寄存器地址信號，確定相應寄存器所屬的模塊，并向所述寄存器所屬的模塊讀取所述寄存器的值。
3.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
所述讀取所述寄存器的值之后，執行并轉串操作。
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
通過預先定義的DEBUG_ADDR管腳將所述寄存器的值串行輸出。
5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括如下之一：
將DEBUG_EN管腳置為高，以進入所述DEBUG模式；
將所述寄存器的值串行輸出之后，將所述DEBUG_EN管腳置為低，以退出所述DEBUG模式。
6.一種芯片調試裝置，包括：
解碼模塊，用于在進入DEBUG模式之后，接收串行輸入的寄存器的地址信號，根據所述寄存器地址信號，讀取相應寄存器的值；
輸出模塊，用于將所述寄存器的值串行輸出。
7.根據權利要求6所述的芯片調試裝置，其特征在于，還包括：轉換模塊；
所述解碼模塊，具體用于接收串行輸入的寄存器地址信號，解碼所述寄存器地址信號，確定相應寄存器所屬的模塊，并向所述寄存器所屬的模塊中的轉換模塊發送讀操作指令；
所述轉換模塊，用于接收來自所述解碼模塊的讀操作指令，讀取相應寄存器的值并將所述寄存器的值進行并轉串操作。
8.根據權利要求6所述的芯片調試裝置，其特征在于，
所述輸出模塊，至少包括：預先定義的DEBUG_ADDR管腳。
9.根據權利要求6所述的芯片調試模塊，其特征在于，還包括：
DEBUG_EN管腳，用于在置為高時指示已進入DEBUG模式。
10.一種芯片，包括：
存儲有芯片調試程序的存儲器；
處理器，配置為執行所述芯片調試程序以執行如權利要求1至5任一項所述芯片調試方法的操作。
11.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有芯片調試程序，所述芯片調試程序被處理器執行時實現如權利要求1至5中任一項所述芯片調試方法的步驟。
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