[發明專利]一種單事件死時間的檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201810005487.0
• 申請日: 2018-01-03
• 公開（公告）號: CN108287361B
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發明（設計）人: 常杰;劉勺連;孫智鵬
• 申請（專利權）人: 東軟醫療系統股份有限公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;A61B6/03
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 黨麗;王寶筠

本發明實施例公開了一種單事件死時間的檢測方法及裝置，適用于閃爍晶體包括固有放射性核素的PET系統，先獲得空掃后的第一數據，再獲得放置放射源掃描后的第二數據，在空掃之后的數據為固有放射性核素衰變對應的數據，而放射源衰變的能區與固有放射性核素第一數據中的能區不同，這樣，在放射源掃描后的數據中可以區分出固有放射性核素的用于計數的能區，從而，可以獲得放置放射源掃描后的固有放射性核素衰變對應的計數率，而前后兩次掃描后相同衰變產生的光子計數率相同，通過所述第一數據和所述第二數據，可以獲得單事件死時間。該方法采集次數少且所需時間短，且操作簡單，提高PET系統的利用效率。

技術領域

本發明涉及醫學影像成像及處理技術領域，尤其涉及一種單事件死時間的檢測方法及裝置。

背景技術

正電子發射斷層成像(Positron Emission Computed Tomography，簡稱PET)系統，是目前最先進的醫療診斷成像設備之一，其利用發生β衰變的核素，在衰變中產生的正電子被周圍的電子俘獲，發生湮滅效應而產生γ光子，對這些光子進行計數，進而實現成像。

在PET系統有多個子系統組成，處理連續兩個事件時每一個子系統要求一個最小處理時間，該最小處理時間稱作死時間。PET系統死時間為探測器處理模塊要求的最小處理時間，在該最小處理時間內，能夠確保完成一個湮滅事件的處理，這樣，避免后一個湮滅事件發生之前來不及處理完畢前一個湮滅事件，而導致前一湮滅事件的丟失，造成死時間的損失，死時間的損失會造成光子計數丟失，進而低估圖像的像素值，影響成像質量。目前，主要是采用衰變源法確定PET系統死時間，該方法需要高活度的放射源進行長時間的測量，測試難度高且時間長。PET系統死時間包括單事件死時間和符合事件死時間，并且PET系統死時間主要由單事件死時間貢獻。

發明內容

本發明提供了一種單事件死時間的檢測方法及裝置，易于操作且效率高。

本發明提供了一種單事件死時間的檢測方法，應用于PET系統，所述PET系統的探測器中的閃爍晶體包括固有放射性核素，包括：

執行空掃，獲得空掃后的第一數據，所述第一數據包括第一總譜單事件計數率和能區的第一單事件計數率，所述能區對應于所述固有放射性核素衰變的全能峰區域；

執行放置放射源的掃描，獲得第二數據，所述第二數據包括第二總譜單事件計數率和所述能區的第二單事件計數率，其中，所述放射源衰變的全能峰區域不同于所述能區對應的全能峰區域；

通過所述第一數據和所述第二數據，獲得單事件死時間。

可選地，所述能區為一個或多個。

可選地，所述閃爍晶體的固有放射性核素包含Lu176元素。

可選地，所述能區為一個，所述通過所述第一數據和所述第二數據，獲得單事件死時間，包括：

根據死時間的非癱瘓公式，以及前后兩次掃描后同一衰變對應的真單事件計數率相同，通過所述第一數據和所述第二數據，獲得單事件死時間。

可選地，所述特定能區為多個，所述通過所述第一數據和所述第二數據，獲得單事件死時間，包括：

根據死時間的非癱瘓公式，以及前后兩次掃描后各衰變對應的真單事件計數率之和不變，通過所述第一數據和第二數據，獲得單事件死時間。

一種單事件死時間的檢測裝置，應用于PET系統，所述PET系統的探測器中的閃爍晶體包括固有放射性核素，包括：