[發(fā)明專利]一種單事件死時間的檢測方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201810005487.0
• 申請日: 2018-01-03
• 公開（公告）號: CN108287361B
• 公開（公告）日: 2019-08-27
• 發(fā)明（設計）人: 常杰;劉勺連;孫智鵬
• 申請（專利權(quán)）人: 東軟醫(yī)療系統(tǒng)股份有限公司
• 主分類號: G01T1/29
• 分類號: G01T1/29;A61B6/03
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 黨麗;王寶筠

1.一種單事件死時間的檢測方法，應用于PET系統(tǒng)，所述PET系統(tǒng)的探測器中的閃爍晶體包括固有放射性核素，其特征在于，包括：

執(zhí)行空掃，獲得空掃后的第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)包括第一總譜單事件計數(shù)率和能區(qū)的第一單事件計數(shù)率，所述能區(qū)對應于所述固有放射性核素衰變的全能峰區(qū)域；

執(zhí)行放置放射源的掃描，獲得第二數(shù)據(jù)，所述第二數(shù)據(jù)包括第二總譜單事件計數(shù)率和所述能區(qū)的第二單事件計數(shù)率，其中，所述放射源衰變的全能峰區(qū)域不同于所述能區(qū)對應的全能峰區(qū)域；

根據(jù)死時間的非癱瘓公式，以及兩次掃描后各衰變對應的真單事件計數(shù)率之和不變，通過所述第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，獲得單事件死時間。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述能區(qū)為一個。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述閃爍晶體的固有放射性核素包含Lu176元素。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述能區(qū)為一個，所述通過所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，獲得單事件死時間，包括：

根據(jù)死時間的非癱瘓公式，以及兩次掃描后同一衰變對應的真單事件計數(shù)率相同，通過所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，獲得單事件死時間。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述能區(qū)為多個。

6.一種單事件死時間的檢測裝置，應用于PET系統(tǒng)，所述PET系統(tǒng)的探測器中的閃爍晶體包括固有放射性核素，其特征在于，包括：

掃描單元，用于執(zhí)行空掃和放置放射源的掃描，在執(zhí)行空掃后，獲得第一數(shù)據(jù)，所述第一數(shù)據(jù)包括第一總譜單事件計數(shù)率和能區(qū)的第一單事件計數(shù)率，所述能區(qū)對應于所述固有放射性核素衰變的全能峰區(qū)域；在執(zhí)行放置放射源的掃描后，獲得第二數(shù)據(jù)，所述第二數(shù)據(jù)包括第二總譜單事件計數(shù)率和所述能區(qū)的第二單事件計數(shù)率，其中，所述放射源衰變的全能峰區(qū)域不同于所述能區(qū)對應的全能峰區(qū)域；

單事件死時間確定單元，用于根據(jù)死時間的非癱瘓公式，以及兩次掃描后各衰變對應的真單事件計數(shù)率之和不變，通過所述第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)，獲得單事件死時間。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述能區(qū)為一個。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述閃爍晶體的固有放射性核素包含Lu176元素。

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述能區(qū)為一個，所述單事件死時間確定單元中，根據(jù)死時間的非癱瘓公式，以及兩次掃描后同一衰變對應的真單事件計數(shù)率相同，通過所述第一數(shù)據(jù)和所述第二數(shù)據(jù)，獲得單事件死時間。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述能區(qū)為多個。