[發明專利]降噪方法、降噪裝置和光檢測系統

有效

• 申請號: 201810001549.0
• 申請日: 2018-01-02
• 公開（公告）號: CN108200363B
• 公開（公告）日: 2020-05-29
• 發明（設計）人: 鄭智仁;劉偉;丁小梁;王鵬鵬;韓艷玲;曹學友;張平
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: H04N5/357
• 分類號: H04N5/357
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;劉偉

本發明提供一種降噪方法、降噪裝置和光檢測系統。降噪方法包括:設定單元設定選通關態電壓；設定單元設定測試用選通開態電壓；信噪比檢測單元檢測分別對應于至少兩個所述測試用選通開態電壓的輸出電壓的信噪比；選擇單元選擇對應于最高的所述信噪比的一所述測試用選通開態電壓作為光檢測用選通開態電壓；所述測試用選通開態電壓在預定電壓范圍內；所述輸出電壓為所述光電檢測單元檢測得到的放大后的所述輸出節點的電壓。本發明所述的降噪方法、降噪裝置和光檢測系統能夠選定時鐘控制信號的較佳的開態電壓和關態電壓，以達到光檢測輸出信噪比最佳化的結果。

技術領域

本發明涉及光檢測技術領域，尤其涉及一種降噪方法、降噪裝置和光檢測系統。

背景技術

現有的APS(Active Pixel Senor，主動式像素檢測)電路，而APS電路的跟隨可以有效的阻隔其他電路或像素對自身影響，其中利用了需要時鐘控制信號去進行重置與選通的開關器件，由于工藝mobility(遷移率)不足，因此會需要利用比較大的開態電壓對以上開關器件進行開啟，而時鐘控制信號的較大的開態電壓與關態之間的電壓差值便會影響光檢測輸出的結果且增加額外的噪聲。時鐘控制信號在開啟或關閉相應的開關器件時會造成額外的信號到光檢測電路的輸出電壓中，并且時鐘控制信號的開態電壓與關態之間的電壓差值和輸出噪聲之間并沒有規律，加上屏集成APS電路的器件數目限制，無法利用其他方法消除以上噪聲。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種降噪方法、降噪裝置和光檢測系統，解決現有的光檢測電路由于時鐘控制信號而產生噪聲的問題。

為了達到上述目的，本發明提供了一種降噪方法，應用于光檢測電路，所述光檢測電路包括的選通單元的控制端與選通控制端連接，所述選通單元的第一端與輸出節點連接，所述選通單元的第二端與跟隨節點連接；所述光檢測電路包括的光電檢測單元用于對所述輸出節點的電壓進行放大，并檢測放大后的所述輸出節點的電壓；所述降噪方法包括:

設定單元設定選通關態電壓Vg1，以使得當所述選通控制端上的選通控制信號的電位為該選通關態電壓Vg1時，所述選通單元控制斷開所述輸出節點與所述跟隨節點之間的連接；

所述設定單元設定測試用選通開態電壓，以使得當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時，所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開；所述測試用選通開態電壓的個數為至少兩個；

信噪比檢測單元檢測分別對應于至少兩個所述測試用選通開態電壓的輸出電壓的信噪比；

選擇單元選擇對應于最高的所述信噪比的一所述測試用選通開態電壓作為光檢測用選通開態電壓；

所述測試用選通開態電壓在預定電壓范圍內；所述輸出電壓為所述光電檢測單元檢測得到的放大后的所述輸出節點的電壓。

實施時，所述設定單元設定測試用選通開態電壓，以使得當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時，所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開步驟具體包括至少兩個測試用選通開態電壓設定步驟；

一所述測試用選通開態電壓設定步驟包括：

起始選通設定步驟：所述設定單元設定起始選通開態電壓和第一循環次數；起始選通時鐘電壓差V0等于所述起始選通開態電壓與所述選通關態電壓Vg1之間的電壓差值；所述第一循環次數為大于1的整數；

選通設置步驟：所述設定單元將選通時鐘電壓差設置為0.5V0，此時所述選通開態電壓等于0.5V0+Vg1；第一計數單元設定第一計數值為1；

選通結果得到步驟：所述設定單元根據當所述選通控制信號的電位與所述選通關態電壓Vg1之間的電壓差值為所述選通時鐘電壓差時，所述光電檢測單元檢測得到的輸出電壓，得到當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時，所述選通單元是否能夠控制其包括的選通晶體管完全打開的判斷結果；