[發明專利]降噪方法、降噪裝置和光檢測系統有效
| 申請號: | 201810001549.0 | 申請日: | 2018-01-02 |
| 公開(公告)號: | CN108200363B | 公開(公告)日: | 2020-05-29 |
| 發明(設計)人: | 鄭智仁;劉偉;丁小梁;王鵬鵬;韓艷玲;曹學友;張平 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H04N5/357 | 分類號: | H04N5/357 |
| 代理公司: | 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243 | 代理人: | 許靜;劉偉 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 方法 裝置 檢測 系統 | ||
1.一種降噪方法,應用于光檢測電路,所述光檢測電路包括的選通單元的控制端與選通控制端連接,所述選通單元的第一端與輸出節點連接,所述選通單元的第二端與跟隨節點連接;所述光檢測電路包括的光電檢測單元用于對所述輸出節點的電壓進行放大,并檢測放大后的所述輸出節點的電壓;其特征在于,所述降噪方法包括:
設定單元設定選通關態電壓Vg1,以使得當所述選通控制端上的選通控制信號的電位為該選通關態電壓Vg1時,所述選通單元控制斷開所述輸出節點與所述跟隨節點之間的連接;
所述設定單元設定測試用選通開態電壓,以使得當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時,所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開;所述測試用選通開態電壓的個數為至少兩個;
信噪比檢測單元檢測分別對應于至少兩個所述測試用選通開態電壓的輸出電壓的信噪比;
選擇單元選擇對應于最高的所述信噪比的一所述測試用選通開態電壓作為光檢測用選通開態電壓;
所述測試用選通開態電壓在預定電壓范圍內;所述輸出電壓為所述光電檢測單元檢測得到的放大后的所述輸出節點的電壓。
2.如權利要求1所述的降噪方法,其特征在于,所述設定單元設定測試用選通開態電壓,以使得當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時,所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開步驟具體包括至少兩個測試用選通開態電壓設定步驟;
一所述測試用選通開態電壓設定步驟包括:
起始選通設定步驟:所述設定單元設定起始選通開態電壓和第一循環次數;起始選通時鐘電壓差V0等于所述起始選通開態電壓與所述選通關態電壓Vg1之間的電壓差值;所述第一循環次數為大于1的整數;
選通設置步驟:所述設定單元將選通時鐘電壓差設置為0.5V0,此時所述選通開態電壓等于0.5V0+Vg1;第一計數單元設定第一計數值為1;
選通結果得到步驟:所述設定單元根據當所述選通控制信號的電位與所述選通關態電壓Vg1之間的電壓差值為所述選通時鐘電壓差時,所述光電檢測單元檢測得到的輸出電壓,得到當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時,所述選通單元是否能夠控制其包括的選通晶體管完全打開的判斷結果;
選通時鐘電壓差設置步驟:當所述判斷結果為所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開時,所述設定單元將所述選通時鐘電壓差設置為0.25V0;當所述判斷結果為所述選通單元不能控制其包括的選通晶體管完全打開時,所述設定單元將所述選通時鐘電壓差設置為0.75V0;第一計數單元控制第一計數值加1;
選通流轉步驟:當所述第一計數值不等于所述第一循環次數時轉至所述選通結果得到步驟;
測試用選通開態電壓設定步驟:當所述第一計數值等于所述第一循環次數時,所述設定單元將當前的選通時鐘電壓差與所述選通關態電壓Vg1的和值設定為所述測試用選通開態電壓。
3.如權利要求2所述的降噪方法,其特征在于,所述選通結果得到步驟包括:
所述設定單元計算當所述選通控制信號的電位與所述選通關態電壓Vg1之間的電壓差值為所述選通時鐘電壓差時,所述光電檢測單元檢測得到的輸出電壓與第一起始輸出電壓之間的電壓差值;所述第一起始輸出電壓為當所述選通控制信號的電位為起始選通開態電壓時所述光電檢測單元檢測得到的輸出電壓;
當該電壓差值在第一預定電壓差值范圍內時,所述設定單元得到當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時,所述選通單元控制其包括的選通晶體管完全打開的判斷結果;
當該電壓差值不在第一預定電壓差值范圍內時,所述設定單元得到當所述選通控制信號的電位為所述測試用選通開態電壓時,所述選通單元不能控制其包括的選通晶體管完全打開的判斷結果。
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