[發明專利]四極桿質譜分析裝置

有效

• 申請號: 201780091831.6
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN110720133B
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 下村學
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: H01J49/06
• 分類號: H01J49/06;G01N27/62;H01J49/42
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

一邊利用CD電壓調整部(96)使對檢測部(6)的轉換打拿極(61)施加的CD電壓一點點地變化，一邊在分析控制部(94)的控制下重復進行標準試樣的測定。而且，每當獲得實測的質譜時，譜圖案判定部(93)判定實測質譜的圖案是否與化合物數據庫(92)中的該標準試樣的標準質譜的圖案一致，將視為一致的時刻的CD電壓確定為其設定值。在改變向離子透鏡(3)施加的施加電壓來調整了質譜的圖案的情況下，由于透鏡電極的污染等，靈敏度等性能往往不穩定，但由于檢測部(6)不易受到這樣的污染的影響，因此能夠避免性能的不穩定。

技術領域

本發明涉及一種將四極桿濾質器用作質量分離器的四極桿質譜分析裝置。在本說明書中，“四極桿質譜分析裝置”是指如下的質譜分析裝置：在離子檢測器的正前方配置的質量分離器是四極桿濾質器，“四極桿質譜分析裝置”不僅包括單型的四極桿質譜分析裝置，還包括隔著碰撞分析室在前后配置有四極桿濾質器的三重四極桿質譜分析裝置。

背景技術

在氣相色譜質譜聯用儀(GC-MS)等中使用的普通的四極桿質譜分析裝置中，在離子源中從試樣氣體中包含的化合物生成離子，使該生成的各種離子在四極桿濾質器中根據質荷比m/z分離，并在離子檢測器中對該分離出的離子進行檢測。通過在四極桿濾質器中重復進行遍及規定的質荷比范圍的質量掃描，能夠重復地獲取表示質荷比與信號強度的關系的質譜。在這樣的質譜分析裝置中進行化合物鑒定時，經常進行數據庫檢索(庫檢索)，在該數據庫檢索中，將所得到的質譜的譜圖案與已知的化合物數據庫中收錄的質譜的譜圖案進行比較，搜索該圖案類似的化合物(參照專利文獻1等)。

在以這樣的目的使用的化合物數據庫中存在各種各樣的質譜，但是所收錄的質譜大多為用舊式的質譜分析裝置測定出的質譜。在這種情況下，通過利用相對較高的精度和靈敏度的質譜分析裝置測定某種化合物所得到的質譜與化合物數據庫中收錄的該化合物的質譜在圖案上往往顯著不同。因此，在利用收錄有由這種舊式的質譜分析裝置測定出的質譜的化合物數據庫來進行化合物鑒定的情況下，調整要實施測定的質譜分析裝置自身，使得針對相同化合物的實測的質譜的譜圖案與化合物數據庫中的質譜的譜圖案盡可能一致。

上述調整可以說是有意地降低質譜分析裝置的性能的調整，通常，為了將由離子源生成的離子高效地導入四極桿濾質器中，大多調整對構成配置于兩者之間的離子透鏡的透鏡電極施加的電壓。當使該電壓變化時，離子透鏡的收斂性變化，但該收斂性的變化程度根據質荷比的不同而不同。因此，當改變向透鏡電極施加的施加電壓時，向四極桿濾質器導入離子的導入效率根據質荷比發生變化，結果是，所獲得的質譜的譜圖案變化。另外，通過使對透鏡電極施加的電壓與質量掃描同步地適當地變化，也能夠使質譜的譜圖案變化。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2005-83952號公報([0002]-[0003])

專利文獻2：日本特開2002-329474號公報

發明內容

發明要解決的問題

如上所述，通過調整對透鏡電極施加的施加電壓，能夠調整質譜的譜圖案。在這種調整中，由于透鏡電極的電壓被設定為在離子通過效率上不是最佳的狀態，因此存在性能不穩定的傾向，例如當透鏡電極被污染時，檢測靈敏度整體降低，無法檢測一部分化合物，或者質譜的譜圖案發生變化。另一方面，用于收斂從離子源射出的離子的透鏡電極暴露在許多離子中，而且未被離子化的試樣成分分子或在氣相色譜儀中使用的載氣等也碰撞透鏡電極，因此容易加重污染。因此，存在以下問題：為了針對例如某種化合物穩定地獲得與數據庫中的質譜相同的譜圖案的實測質譜，必須要以高頻率重新調整質譜分析裝置。

本發明是為了解決上述問題而完成的，其目的在于提供一種能夠穩定地調整用于化合物鑒定等的質譜的譜圖案的四極桿質譜分析裝置。