[發明專利]用于測試包括多個輻射元件的天線的方法和系統

有效

• 申請號: 201780090793.2
• 申請日: 2017-03-16
• 公開（公告）號: CN110741264B
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 盧多維奇·杜蘭德;呂克·杜謝恩;尼古拉斯·格羅斯
• 申請（專利權）人: MVG工業公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;王朝輝

本發明涉及一種用于測試包括多個輻射元件的天線的方法和系統，其中一個或多個探針的陣列被放置在將被測試的天線的前面，并且其中執行以下步驟：通過所述一個或多個探針的陣列或者通過受測試的天線的輻射元件獲取受測試的天線或所述一個或多個探針的陣列發射的RF信號，通過計算所述一個或多個探針的陣列的各個探針或受測試的天線的輻射元件接收的信號來對發射的信號進行反向傳播重構，對如此重構的信號或其參數進行測試以檢測天線的潛在缺陷。

技術領域

本發明涉及在天線的制造期間測試天線。

更具體地說，本發明提出了一種用于在生產中測試天線的測試方法和測試系統。

所提出的測試方法和系統在諸如基站天線(BTS)的陣列天線的情況下是特別有益的。BTS由幾個陣列天線(幾個端口)形成。

背景技術

陣列天線通常由多個輻射元件形成，這些輻射元件經由電纜鏈接到在相位和幅值上控制所述輻射元件的電路。

這些電纜可以被手動焊接到輻射元件，并且諸如以下的缺陷可以存在：

-不良焊接(導致短路)；

-無焊接(導致開路)；

-錯誤位置焊接(導致兩個元件之間(諸如與兩個不同的偏振相對應的兩個元件之間)的調換)。

基站和陣列天線越來越復雜，需要縮短它們的測試所花費的時間并且降低報廢率。

生產測試儀常用于在生產期間執行相位-幅值測試。通常，單個探針或一個或多個探針的陣列被圍繞天線移動以測量發送的信號。這樣的測試儀可以檢測到天線沒有適當地工作，但是沒有給予問題來自天線內哪里的指示和缺陷的性質。此外，這些測試儀非常耗時。

發明內容

因此，本發明旨在進一步改進用于天線的測試儀。

為此，公開了一種用于測試包括多個輻射元件的天線的方法，其中一個或多個探針的陣列被放置在將被測試的天線的前面，并且其中執行以下步驟：

·通過所述一個或多個探針的陣列的每個探針獲取受測試的天線發射的RF信號，或者通過受測試的天線獲取所述一個或多個探針的陣列的每個探針發射的RF信號，

·通過計算所述一個或多個探針的陣列的各個探針接收或發射的信號來對所述一個或多個探針的陣列的每個探針接收或發射的信號進行反向傳播重構，

·對如此重構的信號或其參數進行測試以檢測所述天線的潛在缺陷。

反向重構可以是無限重構，并且其中計算如此重構的信號以確定傾斜角度、束寬和旁瓣電平，所述傾斜角度、束寬和旁瓣電平被測試以檢測所述天線的潛在缺陷。

在補充中或者作為替代，反向傳播重構在靠近被測試的天線的輻射元件或者與被測試的天線的輻射元件一致的表面上重構所述信號，并且其中所述方法進一步執行以下步驟：

·將對受測試的天線的輻射元件中的每個如此重構的信號的幅值和/或相位與對用作參考的一個金質天線或幾個金質天線的平均水平的對應的輻射元件重構的信號的幅值和/或相位進行比較，該比較的結果被用于決定缺陷檢測。

這樣的測試方法具有不耗時的優點。它提供關于天線的哪個輻射元件具有缺陷的信息，并且使得可以診斷缺陷的類型。

這樣的方法進一步可能補充有單獨地或組合地發生的以下特征：

-對受測試的天線的給定的輻射元件檢測缺陷，其中對金質天線的對應元件和對受測試的天線的所述輻射元件重構的信號的幅值和/或相位相差超過預定容限幀；

-如果缺陷被檢測到，則測試與兩個垂直偏振相對應的兩個輻射元件是否已經被調換；