[發明專利]用于測試包括多個輻射元件的天線的方法和系統

有效

• 申請號: 201780090793.2
• 申請日: 2017-03-16
• 公開（公告）號: CN110741264B
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 盧多維奇·杜蘭德;呂克·杜謝恩;尼古拉斯·格羅斯
• 申請（專利權）人: MVG工業公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;王朝輝

1.一種用于測試包括多個輻射元件的天線的方法，其中一個或多個探針的陣列被放置在將被測試的天線的前面，并且其中執行以下步驟：

-通過所述一個或多個探針的陣列的每個探針獲取受測試的天線發射的RF信號，或者通過受測試的天線獲取所述一個或多個探針的陣列的每個探針發射的RF信號，

-通過計算所述一個或多個探針的陣列的各個探針接收或發射的信號來對所述一個或多個探針的陣列的每個探針接收或發射的信號進行反向傳播重構，

-對如此重構的信號或其參數進行測試以檢測所述天線的潛在缺陷，

其中所述反向傳播重構在靠近被測試的天線的輻射元件或者與被測試的天線的輻射元件一致的表面上重構所述信號，并且其中所述方法進一步執行以下步驟：

-將對受測試的天線的輻射元件中的每個如此重構的信號的幅值和/或相位與對用作參考的金質天線的對應的輻射元件重構的信號的幅值和/或相位進行比較，該比較的結果被用于決定缺陷檢測。

2.根據權利要求1所述的方法，其中所述反向傳播重構是無限重構，并且其中計算如此重構的信號以確定傾斜角度、束寬和旁瓣電平，所述傾斜角度、束寬和旁瓣電平被測試以檢測所述天線的潛在缺陷。

3.根據權利要求1所述的方法，其中對受測試的天線的給定的輻射元件檢測缺陷，其中對所述金質天線的對應的輻射元件和對受測試的天線的所述輻射元件重構的信號的幅值和/或相位相差超過預定容限幀。

4.根據權利要求3所述的方法，其中，當缺陷被檢測到時，測試與兩個垂直偏振相對應的兩個輻射元件是否已經被調換。

5.根據權利要求4所述的方法，其中比較對所述輻射元件重構的信號的幅值，并且使用該比較的結果來檢測這兩個輻射元件是否已經被調換。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，當對受測試的天線的給定的輻射元件檢測到沒有調換發生時，進一步執行測試以檢測所述輻射元件是否短路/開路。

7.根據權利要求6所述的方法，其中關于所述輻射元件是否短路/開路的檢測包括對重構的信號的幅值的水平進行測試。

8.根據前述權利要求中任一項所述的方法，其中執行以下測試：

-所述一個或多個探針的陣列發送將被受測試的天線接收的給定的RF信號；

-所述給定端口的輻射元件中的每個接收所述RF信號；

-組合所述輻射元件接收的信號并且傳送到分析器；

-對于受測試的天線的端口中的每個，對發送的信號和接收的信號進行處理以測量所述陣列的每個探針的傳輸系數。

9.一種用于測試包括多個輻射元件的天線的測試系統，所述系統包括放置在將被測試的天線的前面的一個或多個探針的陣列，并且進一步包括由計算機控制的矢量網絡分析器或能夠測量幅值和相位的任何儀器，所述分析器和/或計算機被編程為運行根據前述權利要求中任一項所述的方法的各種步驟。

10.根據權利要求9所述的測試系統，其中所述陣列是線性探針陣列。

11.根據權利要求9所述的測試系統，其中所述陣列包括分布在表面上的多個探針。