[發明專利]溫度測定裝置以及溫度測定方法

有效

• 申請號: 201780090565.5
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN110612436B
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 濱野寬之;宮崎敬史
• 申請（專利權）人: 株式會社索思未來
• 主分類號: G01K7/01
• 分類號: G01K7/01
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 金雪梅;王海奇

一種溫度測定裝置，具有：第一半導體元件以及第二半導體元件，它們具有PN結；晶體管組，具有源極與電源連接且各自的柵極彼此連接而構成電流源的多個晶體管，對上述第一半導體元件以及第二半導體元件輸出第一電流和與上述第一電流不同的大小的第二電流；以及選擇器，從上述多個晶體管選擇至少一個第一晶體管和與上述第一晶體管不同的多個第二晶體管，將上述第一晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的一個連接，并將上述多個第二晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的另一個連接。

技術領域

本發明涉及溫度測定裝置以及溫度測定方法。

背景技術

以往，提出了在抑制面積的增大的同時使溫度的測定的精度提高的溫度測定裝置。

作為其一個例子，以往，有具有生成成為溫度測定的基準的電流的電流源部、基于電流值生成與絕對溫度成比例的電壓的傳感器部、以及對電壓進行A/D轉換的ADC部的溫度測定裝置。在該溫度測定裝置中，已知通過利用開關動態地進行切換并測量溫度，檢測構成各電流源部、傳感器部、ADC部的晶體管、電阻的失配并進行修正。

并且，在該溫度測定裝置中，已知電流源部與傳感器部分別具有流動與控制電壓對應的第一電流的第一晶體管、和輸出與第一電流不同的第二電流的第二晶體管。

專利文獻1：日本特開2015－190799號公報

然而，在上述的以往的技術中，不能夠修正電流源部具有的第一晶體管與傳感器部具有的第一晶體管之間、以及電流源部具有的第二晶體管與傳感器部具有的第二晶體管之間的失配。

因此，在以往的技術中，為了維持溫度測定的精度，在電流源部和傳感器部各自中，需要使第一以及第二晶體管的元件尺寸為能夠抑制失配的影響的程度的大小，而難以進一步的小型化。

發明內容

公開的技術是鑒于上述情況而完成的，其目的在于使溫度測定的精度提高，并且進行小型化。

公開的技術是一種溫度測定裝置，具有：第一半導體元件以及第二半導體元件，它們具有PN結；晶體管組，具有源極與電源連接，且各自的柵極彼此連接而構成電流源的多個晶體管，對上述第一半導體元件以及第二半導體元件輸出第一電流和與上述第一電流不同的大小的第二電流；以及選擇器，其從上述多個晶體管選擇至少一個第一晶體管和與上述第一晶體管不同的多個第二晶體管，將上述第一晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的一個連接，并將上述多個第二晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的另一個連接。

能夠使溫度測定的精度提高，并且小型化。

附圖說明

圖1是說明第一實施方式的溫度測定裝置的圖。

圖2是說明第一實施方式的傳感器部的構成的圖。

圖3是說明第一實施方式的溫度測定裝置的動作的流程圖。

圖4是說明第一實施方式的溫度測定裝置的動作的第一圖。

圖5是說明第一實施方式的溫度測定裝置的動作的第二圖。

圖6是說明第一實施方式的溫度測定裝置的動作的第三圖。

圖7是說明第一實施方式的溫度測定裝置的動作的第三圖。

圖8是說明第一實施方式的效果的圖。

圖9是說明第二實施方式的溫度測定裝置的構成的圖。

圖10是說明第二實施方式的溫度測定裝置的動作的流程圖。

具體實施方式

(第一實施方式)

以下參照附圖對第一實施方式進行說明。圖1是說明第一實施方式的溫度測定裝置的圖。