[發明專利]溫度測定裝置以及溫度測定方法

有效

• 申請號: 201780090565.5
• 申請日: 2017-05-15
• 公開（公告）號: CN110612436B
• 公開（公告）日: 2022-01-07
• 發明（設計）人: 濱野寬之;宮崎敬史
• 申請（專利權）人: 株式會社索思未來
• 主分類號: G01K7/01
• 分類號: G01K7/01
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 金雪梅;王海奇

1.一種溫度測定裝置，具有：

第一半導體元件以及第二半導體元件，它們具有PN結；

晶體管組，具有源極與電源連接且各自的柵極彼此連接而構成電流源的多個晶體管，對上述第一半導體元件以及第二半導體元件輸出第一電流和與上述第一電流不同的大小的第二電流；以及

選擇器，從上述多個晶體管選擇每個晶體管作為第一晶體管，并且從上述多個晶體管選擇與所選擇的上述第一晶體管不同的對應的多個第二晶體管，將上述第一晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的一個連接，并將上述多個第二晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的另一個連接。

2.根據權利要求1所述的溫度測定裝置，其特征在于，具有：

AD轉換器，將上述第一半導體元件的PN結的正向電壓與上述第二半導體元件的PN結的正向電壓的差分轉換為數字值并輸出；以及

運算部，基于從上述AD轉換器輸出的輸出值輸出運算結果。

3.根據權利要求2所述的溫度測定裝置，其特征在于，

上述運算部基于上述AD轉換器的多個輸出值，輸出上述運算結果。

4.根據權利要求3所述的溫度測定裝置，其特征在于，

上述運算結果是上述多個輸出值的平均值。

5.根據權利要求1～4中任意一項所述的溫度測定裝置，其特征在于，

具有放大器，該放大器將基于上述第一半導體元件的PN結的正向電壓和上述第二半導體元件的PN結的正向電壓生成的電壓供給至上述多個晶體管的柵極。

6.根據權利要求5所述的溫度測定裝置，其特征在于，還包含：

第一電阻元件，一端經由上述選擇器與上述多個晶體管的任意一個晶體管連接，另一端與上述第一半導體元件連接，并產生與在上述第一半導體元件流動的電流對應的電壓下降；以及

第二電阻元件，一端經由上述選擇器與上述多個晶體管的任意一個晶體管連接，另一端與上述第二半導體元件連接，并產生與在上述第二半導體元件流動的電流對應的電壓下降，

具有將上述第一電阻元件與上述多個晶體管的任意一個晶體管的連接點的電壓以及上述第二半導體元件的PN結的正向電壓，或者，上述第二電阻元件與上述多個晶體管的任意一個晶體管的連接點的電壓以及上述第一半導體元件的PN結的正向電壓的任意一方作為上述放大器的非反轉輸入端子以及反轉輸入端子的輸入的切換部。

7.一種溫度測定方法，其特征在于，

通過包含源極與電源連接且各自的柵極彼此連接而構成電流源的多個晶體管的晶體管組，對具有PN結的第一半導體元件以及第二半導體元件輸出第一電流和與上述第一電流不同的大小的第二電流，

從上述多個晶體管選擇每個晶體管作為第一晶體管，并且從上述多個晶體管選擇與所選擇的上述第一晶體管不同的對應的多個第二晶體管，將上述第一晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的一個連接，并將上述多個第二晶體管的漏極與上述第一半導體元件以及第二半導體元件中的另一個連接。