[發明專利]飛機用部件的缺陷檢測系統及飛機用部件的缺陷檢測方法

在審

• 申請號: 201780089852.4
• 申請日: 2017-11-01
• 公開（公告）號: CN110537203A
• 公開（公告）日: 2019-12-03
• 發明（設計）人: 小西高三郎;岡本素子;長谷川修
• 申請（專利權）人: 三菱重工業株式會社;SOINN株式會社
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G01N21/88
• 代理公司: 11105 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 邸萬奎<國際申請>=PCT/JP2017

1.一種飛機用部件的缺陷檢測系統，檢測對象物即飛機用部件的缺陷，具有：

原圖像獲取單元，獲取含有缺陷的部位的圖像的所述對象物的圖像即原圖像；

圖像處理單元，基于所述原圖像內的圖像的亮度，從所述原圖像內提取作為所述缺陷的部位的候選的區域即缺陷候選區域，基于所述缺陷候選區域和其周圍區域的亮度的差分，計算所述缺陷候選區域的特征量；

特征量范圍設定單元，將所述圖像處理單元對于被預先檢測出所述缺陷的部位的學習用原圖像算出的所述特征量和所述缺陷的部位的信息相關聯，設定判定為是缺陷的所述特征量的范圍即缺陷特征量范圍和判定為不是缺陷的所述特征量的范圍即非缺陷特征量范圍；以及

缺陷檢測單元，基于所述圖像處理單元對于未檢測出所述缺陷的部位的判定用原圖像算出的所述特征量、所述缺陷特征量范圍、以及所述非缺陷特征量范圍，判定所述判定用原圖像內的所述缺陷候選區域是否為所述缺陷的部位。

2.如權利要求1所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述圖像處理單元具有：

候選區域提取單元，將在所述原圖像內的區域之中、該區域和周圍區域的亮度的方差為規定的方差值以上的區域作為所述缺陷的候選區域提取；

缺陷候選區域提取單元，將所述候選區域之中、為預定的規定的形狀的所述候選區域除去，將未除去的所述候選區域作為所述缺陷候選區域提取；以及

特征量計算單元，基于所述缺陷候選區域和其周圍區域的亮度的差分，計算所述缺陷候選區域的特征量。

3.如權利要求2所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述缺陷候選區域提取單元使用霍夫變換，判定通過多個所述候選區域連續是否構成圓形，將構成所述圓形的候選區域除去。

4.如權利要求2或權利要求3所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述特征量計算單元計算所述特征量，作為缺陷候選區域和其周圍區域中的亮度的變化量。

5.如權利要求4所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述特征量計算單元將所述缺陷候選區域的定向梯度直方圖特征量作為所述特征量計算。

6.如權利要求1至權利要求5的任意一項所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述缺陷檢測單元具有：

特征量獲取單元，獲取所述判定用原圖像的所述特征量即判定用特征量；

特征量范圍獲取單元，從所述特征量范圍設定單元獲取所述缺陷特征量范圍及所述非缺陷特征量范圍；以及

缺陷判定單元，基于所述判定用特征量和所述缺陷特征量范圍之間的差分值即缺陷差分值、以及所述判定用特征量和所述非缺陷特征量范圍之間的差分值即非缺陷差分值，判定所述缺陷候選區域是否為所述缺陷的部位。

7.如權利要求6所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

在所述缺陷差分值與所述非缺陷差分值的比率為規定的閾值以下的情況下，所述缺陷判定單元判定為所述缺陷候選區域是所述缺陷的部位。

8.如權利要求7所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述規定的閾值為大于1的值。

9.如權利要求5至權利要求8的任意一項所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，還具有：

圖像顯示控制單元，對所述原圖像，將在所述缺陷檢測單元判定為所述缺陷的部位的部位上添加了標記的判定圖像顯示在顯示單元上。

10.如權利要求9所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，

所述圖像顯示控制單元使所述判定圖像被顯示，使得所述標記的顯示根據所述缺陷差分值與所述非缺陷差分值的比率而不同。

11.如權利要求1至權利要求10的任意一項所述的飛機用部件的缺陷檢測系統，還具有：

原圖像創建單元，拍攝所述對象物的表面并創建所述原圖像。