[發明專利]監視電子設備的熱健康

在審

• 申請號: 201780089746.6
• 申請日: 2017-04-18
• 公開（公告）號: CN110520702A
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 納爾森·博阿斯·科斯塔·萊特;奧古斯托·凱羅斯·德·馬塞多;約翰·朗德里
• 申請（專利權）人: 惠普發展公司;有限責任合伙企業
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00;G06F1/32;G05D23/00;G05B17/00
• 代理公司: 11018 北京德琦知識產權代理有限公司
• 代理人: 康泉;宋志強<國際申請>=PCT/US2

描述了一種用于監視電子設備的熱健康的系統。所述系統包括使用模型來預測所述電子設備的預期溫度的預測器。所述系統還包括計算所述電子設備的實際溫度與所述預期溫度之間的差、計算所述差的z評分、將所述z評分映射到所述電子設備的熱健康等級的計算管理器。

背景技術

電子設備的溫度由留存的熱確定。留存的熱是生成的熱與消散的熱之間的差。電子設備的熱行為與設備的平臺類型密切相關。然而，其它因素也促進了電子設備的熱行為。這些因素包括電子設備的使用和外部因素，諸如支撐電子設備的表面、周圍溫度或濕度之類，以及其它因素。

附圖說明

在下面的詳細描述中參考附圖描述了特定示例，其中：

圖1為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康的過程的示意圖；

圖2為根據本技術的示例的監視電子設備的熱健康時顯示風扇速度、電池使用率、以及CPU使用率的相對于重要性的條形圖；

圖3為根據本技術的示例的監視電子設備的熱健康時實際與期望溫度之間的差的直方圖；

圖4為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康時、將z評分映射到熱健康等級的表；

圖5為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康的系統的框圖；

圖6為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康的系統的框圖；

圖7為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康的方法的過程流圖；

圖8為根據本技術的示例的用于監視電子設備的熱健康的方法的過程流圖；

圖9為根據本技術的示例的包含執行電子設備的熱健康的監視的代碼的介質的框圖；以及

圖10為根據本技術的示例的監視電子設備的健康的示例。

具體實施方式

本文討論了用于監視電子設備的熱健康的技術。例如，可預測電子設備的預期溫度的用于監視熱健康的系統。為了執行此功能，可計算電子設備的實際溫度與預期溫度之間的差。可計算用于實際溫度與預期溫度之間的差的z評分，并將z評分映射到電子設備的熱健康等級。

在特定情形下，電子設備可能具有不足的散熱。這些情形可能導致電子設備的處理不適或壽命縮短。

本文描述的技術可使用電子設備數據和機器學習技術來訓練模型，以評估設備的熱健康。尤其是，訓練的模型基于設備的熱屬性生成電子設備的熱健康等級。隨著散熱變得更為不足，給電子設備的等級可能變得更糟。本文討論的技術可用來檢測可何時維護電子設備。同樣，本文討論的技術可延長電子設備的壽命。

圖1為用于監視電子設備的熱健康的過程100的示意圖。過程100可具有三個階段，數據收集102、模型訓練104和分級106。在數據收集102期間，數據可實地從電子設備收集并存儲在數據儲存庫108中。可從各種電子設備平臺收集數據。這些平臺可包括臺式計算機、膝上計算機、平板、智能電話等。在一些示例中，可針對產品線上的一組設備收集數據。

數據收集102期間收集的數據可具有兩種類型，描述性特征和儀器特征。描述性特征可包括諸如設備平臺、形狀系數、冷卻系統、CPU模型和設備中的若干CPU之類的事物。這些描述性特征可用來給具有類似物理特性的設備的數據進行分組。了解設備平臺或產品線可對于將電子設備分類到適當的組是有用的。另外，了解形狀因數、冷卻系統機CPU模型可足以對電子設備進行分組。

儀器特征可包括從檢測電子設備的溫度的傳感器接收的數據，和隨著時間影響設備的熱行為的其它參數。這些其它參數可包括CPU使用率、風扇速度、電池使用率、電池溫度、設備年齡、GPU使用，以及其它參數。例如，CPU使用率和GPU使用可表示為使用CPU或GPU的時間百分比，可以以從0到100的尺度提供風扇速度，電池使用率可以取決于是否使用電池可為真或假。