[發明專利]監視電子設備的熱健康

在審

• 申請號: 201780089746.6
• 申請日: 2017-04-18
• 公開（公告）號: CN110520702A
• 公開（公告）日: 2019-11-29
• 發明（設計）人: 納爾森·博阿斯·科斯塔·萊特;奧古斯托·凱羅斯·德·馬塞多;約翰·朗德里
• 申請（專利權）人: 惠普發展公司;有限責任合伙企業
• 主分類號: G01K13/00
• 分類號: G01K13/00;G06F1/32;G05D23/00;G05B17/00
• 代理公司: 11018 北京德琦知識產權代理有限公司
• 代理人: 康泉;宋志強<國際申請>=PCT/US2

1.一種用于監視電子設備的熱健康的系統，包括：

預測器，用于使用模型來預測所述電子設備的預期溫度；

計算管理器，用于：

計算所述電子設備的實際溫度與所述預期溫度之間的差；

計算所述差的z評分；以及

將所述z評分映射到所述電子設備的熱健康等級。

2.根據權利要求1所述的系統，包括：

數據傳感器，用于收集來自所述電子設備的數據，其中所述數據被收集在數據記錄中，并且其中所述數據記錄被存儲在數據儲存庫中；以及

模型訓練器，用于使用來自所述數據儲存庫的所述數據記錄來訓練所述模型。

3.根據權利要求2所述的系統，其中所述模型包括隨機森林模型。

4.根據權利要求2所述的系統，其中所述數據記錄包括所述電子設備的溫度、CPU使用率、風扇速度以及電池使用率。

5.根據權利要求2所述的系統，其中所述模型被訓練以用于電子設備平臺或產品線，或者用于電子設備平臺以及產品線兩者。

6.根據權利要求1所述的系統，其中所述熱健康等級的尺度為從0到100，并且其中較高的熱健康等級指示較好的熱健康。

7.一種用于監視電子設備的熱健康的方法，包括：

使用模型來預測所述電子設備的預期溫度；

計算所述電子設備的實際溫度與所述預期溫度之間的差；

計算所述差的z評分；并且

將所述z評分映射到所述電子設備的熱健康等級。

8.根據權利要求7所述的方法，包括：

從所述電子設備收集數據，其中所述數據被收集在數據記錄中，并且其中所述數據記錄被存儲在數據儲存庫中；以及

使用來自所述數據儲存庫的所述數據記錄來訓練所述模型。

9.根據權利要求8所述的方法，其中所述模型包括隨機森林模型。

10.根據權利要求8所述的方法，其中所述數據記錄包括所述電子設備的溫度、CPU使用率、風扇速度以及電池使用率。

11.根據權利要求8所述的方法，包括訓練所述模型以用于電子設備平臺或產品線，或者用于電子設備平臺以及產品線兩者。

12.根據權利要求7的所述方法，其中所述熱健康等級的尺度為從0到100，并且其中較高的熱健康等級指示較好的熱健康。

13.一種非暫時性計算機可讀介質，包括用于監視電子設備的熱健康的機器可讀指令，所述指令在被執行時指示處理器：

使用模型來預測所述電子設備的預期溫度；

計算所述電子設備的實際溫度與所述預期溫度之間的差；

計算所述差的z評分；并且

將所述z評分映射到所述電子設備的熱健康等級。

14.根據權利要求13所述的非暫時性計算機可讀介質，其中所述指令在被執行時指示所述處理器：

從所述電子設備收集數據，其中所述數據被收集在數據記錄中，并且其中所述數據記錄被存儲在數據儲存庫中；并且

使用來自所述數據儲存庫的所述數據記錄來訓練所述模型。

15.根據權利要求14所述的非暫時性計算機可讀介質，其中所述指令在被執行時指示所述處理器訓練所述模型以用于電子設備平臺或產品線，或者用于電子設備平臺以及產品線兩者。