[發明專利]元素分析裝置和元素分析方法

在審

• 申請號: 201780074869.2
• 申請日: 2017-12-15
• 公開（公告）號: CN110036292A
• 公開（公告）日: 2019-07-19
• 發明（設計）人: 荒井正浩;平野彰弘;西方康博
• 申請（專利權）人: 株式會社堀場制作所
• 主分類號: G01N31/00
• 分類號: G01N31/00;G01N1/00;G01N1/22;G01N31/12
• 代理公司: 北京信慧永光知識產權代理有限責任公司 11290
• 代理人: 周善來;李雪春

1.一種元素分析裝置，其對金屬材料所含的氫進行定量分析，所述元素分析裝置的特征在于，

所述元素分析裝置包括：

加熱機構，用于在加熱爐內對放入坩堝中的金屬材料進行加熱；

氧化器，將從被加熱了的金屬材料產生的H₂氣體氧化為H₂O氣體；

非分散紅外檢測器，檢測通過所述氧化器氧化得到的H₂O氣體；以及

控制裝置，對所述加熱機構進行控制，

在對規定的H₂濃度的校準氣體進行測定的校準工序中，在向所述加熱爐內導入所述校準氣體之前，所述控制裝置控制所述加熱機構來對所述加熱爐內進行加熱并進行所述加熱爐內的脫氣。

2.根據權利要求1所述的元素分析裝置，其特征在于，

所述加熱機構具有夾持所述坩堝并且施加電壓的一對電極，對所述坩堝進行通電加熱。

3.根據權利要求1或2所述的元素分析裝置，其特征在于，

構成為在所述校準工序后進行分析工序。

4.根據權利要求1至3中任意一項所述的元素分析裝置，其特征在于，

所述金屬材料的氫含有率小于10ppm。

5.一種元素分析方法，其特征在于，所述元素分析方法利用元素分析裝置對金屬材料所含的氫進行定量分析，所述元素分析裝置包括：加熱機構，用于在加熱爐內對放入坩堝中的金屬材料進行加熱；氧化器，將從被加熱了的金屬材料產生的H₂氣體氧化為H₂O氣體；以及非分散紅外檢測器，檢測通過所述氧化器氧化得到的H₂O氣體，

所述元素分析方法在對規定的H₂濃度的校準氣體進行測定的校準工序中，在向所述加熱爐內導入所述校準氣體之前對所述加熱爐內進行加熱。

6.根據權利要求5所述的元素分析方法，其特征在于，

利用通過所述校準工序得到的檢測強度，對分析所述金屬材料而得到的檢測強度進行修正。

7.根據權利要求5或6所述的元素分析方法，其特征在于，

所述金屬材料的氫含有率小于10ppm。