[發明專利]質譜分析

有效

• 申請號: 201780069889.0
• 申請日: 2017-09-12
• 公開（公告）號: CN109937465B
• 公開（公告）日: 2023-03-31
• 發明（設計）人: 彼得·歐康納;瑪麗亞·安德烈亞·范阿格托文
• 申請（專利權）人: 華威大學
• 主分類號: H01J49/00
• 分類號: H01J49/00;H01J49/42
• 代理公司: 成都超凡明遠知識產權代理有限公司 51258
• 代理人: 魏彥;洪玉姬

一種進行質譜分析的方法，包括：使用靜電或電動離子阱來容納多個離子，每個離子具有質荷比，離子具有第一多個質荷比，每個離子沿著具有半徑的靜電或電動離子阱內的路徑；并且對于第二多個質荷比中的每一個：依賴于質荷比，以質荷比依賴性方式調整離子半徑；以半徑依賴的方式碎裂由此調整的離子；并測定離子的質譜。

本發明涉及進行質譜分析的方法和質譜儀器。

二維質譜分析(2D MS)是一種將樣品中的前體與碎片離子相關聯而不需要事先進行離子分離的技術。2D MS首先由等人在1987(P.Pfaendler,G.Bodenhausen,J.Rapin,R.Houriet,T./Two-dimensional Fourier transform ion cyclotronresonance mass spectrometry.Chem.Phys.Lett.1987,138,195；P.Pfaendler,G.Bodenhausen,J.Rapin,M.E.Walser,T./Broad-band two-dimensionalFourier transform ion cyclotron resonance.J.Am.Chem.Soc.1988,110,5625；M.Bensimon,G.Zhao,T./A method to generate phase continuity in two-dimensional Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry.Chem.Phys.Lett.1989,157,97)針對傅里葉變換離子回旋共振質譜儀(FT-ICR MS)(M.B.Comisarow,A.G.Marshall.Fourier transform ion cyclotron resonance spectroscopy.Chem.Phys.Lett.1974,25,282)提出的。用于2D MS的脈沖序列受到NOESY NMR光譜(A.Kumar,R.R.Ernst,K.Wuethrich.A two-dimensional nuclear Overhauserenhancement(2D NOE)experiment for the elucidation of complete proton-protoncross-relaxation networks in biological macromolecules.Biochem.Biophys.Res.Commun.1980,95,1)和Marshall等人進行的相位反轉實驗兩者啟發。使用由規則遞增延遲分開的兩個相同的激發脈沖，離子回旋半徑根據他們的回旋頻率(即，質荷比)在半徑依賴的碎裂法的碎裂期之前進行調整(S.Guan,P.R.Jones.A theory for two-dimensionalFourier-transform ion cyclotron resonance mass spectrometry.J.Chem.Phys.1989,91,5291)。所得的2D質譜示出了來自樣品的所有離子的碎裂規律，其使得能夠容易地提取碎片離子掃描、前體離子掃描和中性損失線，以及在一些情況下的電子捕獲線(M.A.vanAgthoven,M.-A.Delsuc,G.Bodenhausen,C.Rolando.Towards analytically useful two-dimensional Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometry.Anal.Bioanal.Chem.2013,405,51)。由于2D質譜示出了來自樣品的所有離子的碎片規律而不需要離子分離，因此，該技術可以說是真正全面的且可以用于復雜樣品的分析。