[發明專利]用于調準激光掃描熒光顯微鏡的方法和具有自動調準設備的激光掃描熒光顯微鏡

有效

• 申請號: 201780068291.X
• 申請日: 2017-09-05
• 公開（公告）號: CN109923459B
• 公開（公告）日: 2022-03-15
• 發明（設計）人: J·海涅;M·羅伊斯;B·哈爾克;L·卡斯特魯普
• 申請（專利權）人: 阿貝里奧儀器有限責任公司
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G01N21/63;G01N21/64
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 郭毅

1.一種用于調節激光掃描熒光顯微鏡(15)的正確調準的方法，在所述正確調準中，布置在所述激光掃描熒光顯微鏡(15)的熒光探測器(18)前的光闌(2)的成像與激勵光(6)的最大強度(1)和熒光阻止光(7)的最小強度(4)在鏡頭(20)的焦點中重合，其中，以所述激勵光(6)的最大強度(1)掃描樣品(22)中的以熒光著色劑標記的結構，以便產生所述樣品(22)的圖像(A、B)，所述圖像具有所述結構的影像(3，30，31，32)，其中，所產生的圖像相應于所述熒光阻止光(7)的不同強度，其中，在所產生的圖像中計算所述結構的影像(3，30，31，32)的位置之間的錯位(8)，其特征在于，為了調節所述激光掃描熒光顯微鏡(15)的正確調準，使所述光闌(2)的成像相對于所述熒光阻止光(7)的最小強度(4)在所述錯位(8)的方向上移位，在相應于所述熒光阻止光(7)的較高強度的圖像中結構的影像(32)相對于在相應于所述熒光阻止光(7)的較低強度的另一圖像中結構的影像(31)具有所述錯位。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，使所述光闌(2)的成像(5)移位以下程度：所述程度相應于F倍的錯位(8)，其中，F大于或等于1，其中，F是所述熒光阻止光(7)的不同強度的函數，所述圖像和所述另一圖像相應于所述不同強度。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，以所述激勵光(6)的最大強度(1)重復地掃描所述樣品(22)中的以所述熒光著色劑標記的結構，其中，逐圖像地改變所述熒光阻止光(7)的強度，以便產生所述樣品(22)的圖像，所述圖像相應于所述熒光阻止光(7)的不同強度。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，一次以所述激勵光(6)的最大強度(1)掃描所述樣品(22)中的以所述熒光著色劑標記的結構，其中，產生原始圖像，在所述原始圖像中所述樣品(22)的兩個圖像疊加，所述兩個圖像能夠分配給所述熒光阻止光(7)的不同強度，其方式是：借助所述激光掃描熒光顯微鏡(15)的熒光探測器(18)對于以下時間段記錄所述樣品(22)的熒光(19)：所述時間段處在所述熒光阻止光(7)起作用前和/或所述熒光阻止光(7)起作用后，其中，由所述原始圖像求取兩個疊加的圖像。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，在使用所述錯位(8)的情況下，在所述鏡頭(20)的焦點中相對于所述激勵光(6)的最大強度(1)和所述熒光阻止光(7)的最小強度(4)將另一熒光阻止光(7)的另一最小強度(4)調節到正確調準。

6.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其特征在于，在使用相應于所述熒光阻止光(7)的不同強度的圖像中所述結構的影像(9、10)的位置之間的錯位(8)的情況下，所述激勵光(6)的多個最大強度(1)和所述熒光阻止光(7)的多個最小強度(4)或多個布置在多個熒光探測器(18)前的光闌(2)的成像在所述鏡頭(20)的焦點中成對地重疊。

7.一種用于調節激光掃描熒光顯微鏡(15)的正確調準的方法，在所述正確調準中，激勵光(6)的最大強度(1)和布置在所述熒光探測器(18)前的光闌(2)的成像(5)在鏡頭(20)的焦點中重合，其中，以所述激勵光(6)的最大強度(1)掃描樣品(22)中的以所述熒光著色劑標記的結構，以便產生所述樣品(22)的圖像(A、B)，所述圖像具有所述結構的影像(3，30，31，32)，其特征在于，所產生的圖像相應于所述光闌(2)的不同光闌開口，計算在所產生的圖像中在所述結構的影像(3，30，31，32)的位置之間的錯位(8)，并且為了調節所述激光掃描熒光顯微鏡(15)的正確調準，使所述激勵光(6)的最大強度(1)相對于所述光闌(2)的成像在所述錯位(8)的方向上移位，在相應于所述光闌(2)的較小的光闌開口的圖像中所述結構的影像(30)相對于在相應于所述光闌(2)的較大的光闌開口的另一圖像中所述結構的影像(3)具有所述錯位。