[發明專利]磷酸鈣燒結體粒子及其制造方法在審
| 申請號： | 201780066421.6 | 申請日： | 2017-08-30 |
| 公開（公告）號： | CN109890779A | 公開（公告）日： | 2019-06-14 |
| 發明（設計）人： | 小粥康充;青井信雄;能美大輔;河邊卡爾和重 | 申請（專利權）人： | 株式會社索夫塞拉 |
| 主分類號： | C04B35/447 | 分類號： | C04B35/447;A61K6/033;A61L27/32;A61M37/00;C01B25/32 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人： | 曹陽 |
| 地址： | 日本國*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 陶瓷粒子 磷酸鈣燒結體 粒子 使用方式 碳酸鈣 粒子組 小粒徑 粒徑 制造 | ||
1.一種陶瓷粒子組，其特征在于，其為包含陶瓷粒子的陶瓷粒子組，
所述陶瓷粒子的粒徑在10nm～700nm的范圍內，
所述陶瓷粒子為磷酸鈣燒結體粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸鈣，
所述陶瓷粒子利用X射線衍射法測定的d＝2.814處的半峰寬在0.2～0.8的范圍內。
2.根據權利要求1所述的陶瓷粒子組，其特征在于，所述陶瓷粒子滿足下述性質(A)：
(A)充分干燥后，在常壓下、溫度25℃、濕度50％的條件下放置3天以上后，用熱重差熱分析裝置TG－DTA在氮氣流下、10℃/分鐘的條件下進行測定，在25℃～200℃的溫度范圍內減少的重量為2％以下，所述熱重差熱分析裝置是精工儀器公司制的EXSTAR6000。
3.一種陶瓷粒子組，其特征在于，其為包含陶瓷粒子的陶瓷粒子組，
所述陶瓷粒子的粒徑在10nm～700nm的范圍內，
所述陶瓷粒子為磷酸鈣燒結體粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸鈣，
所述陶瓷粒子滿足下述性質(A)：
(A)充分干燥后，在常壓下、溫度25℃、濕度50％的條件下放置3天以上后，用熱重差熱分析裝置TG－DTA在氮氣流下、10℃/分鐘的條件下進行測定，在25℃～200℃的溫度范圍內減少的重量為2％以下，所述熱重差熱分析裝置是精工儀器公司制的EXSTAR6000。
4.根據權利要求1～3中任一項所述的陶瓷粒子組，其中，所述陶瓷粒子至少在其表面包含碳酸磷灰石。
5.一種陶瓷粒子組，其特征在于，其為包含陶瓷粒子的陶瓷粒子組，
所述陶瓷粒子的粒徑在10nm～700nm的范圍內，
所述陶瓷粒子為磷酸鈣燒結體粒子，
所述陶瓷粒子不含碳酸鈣，
所述陶瓷粒子包含B型碳酸磷灰石。
6.根據權利要求5所述的陶瓷粒子組，其特征在于，所述陶瓷粒子利用X射線衍射法測定的d＝2.814處的半峰寬在0.2～0.8的范圍內。
7.根據權利要求5或6所述的陶瓷粒子組，其特征在于，所述陶瓷粒子滿足下述性質(A)：
(A)充分干燥后，在常壓下、溫度25℃、濕度50％的條件下放置3天以上后，用熱重差熱分析裝置TG－DTA在氮氣流下、10℃/分鐘的條件下進行測定，在25℃～200℃的溫度范圍內減少的重量為2％以下，所述熱重差熱分析裝置是精工儀器公司制的EXSTAR6000。
8.根據權利要求1～7中任一項所述的陶瓷粒子組，其中，所述陶瓷粒子為球狀。
9.根據權利要求1～8中任一項所述的陶瓷粒子組，其特征在于，其為包含陶瓷粒子的陶瓷粒子組，
關于所述陶瓷粒子的粒徑，短軸的最大直徑為30nm～5μm，長軸為75nm～10μm，沿著c軸方向生長，晶體的縱橫比即c軸長/a軸長為1～30。
10.根據權利要求1～9中任一項所述的陶瓷粒子組，其中，所述陶瓷粒子為羥基磷灰石燒結體粒子。
11.根據權利要求1～10中任一項所述的陶瓷粒子組，其中，所述陶瓷粒子不含堿金屬元素。
12.一種醫用材料，其使用權利要求1～11中任一項所述的陶瓷粒子組而得到。
13.一種醫療器械，其將權利要求12所述的醫用材料作為一種材料而得到。
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