[發(fā)明專(zhuān)利]超聲波檢查裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780066138.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-08 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109863394A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-06-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松本徹 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 浜松光子學(xué)株式會(huì)社 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N29/265 | 分類(lèi)號(hào): | G01N29/265;G01N29/28;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京尚誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11322 | 代理人: | 楊琦 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體設(shè)備 超聲波振動(dòng)器 超聲波檢查裝置 超聲波 解析 相對(duì)位置移動(dòng) 介質(zhì)保持部 檢查對(duì)象 相對(duì)配置 封裝 傳播 | ||
1.一種超聲波檢查裝置,其中,
是以被封裝化的半導(dǎo)體設(shè)備為檢查對(duì)象的超聲波檢查裝置,
具備:
超聲波振動(dòng)器,其與所述半導(dǎo)體設(shè)備相對(duì)地配置;
介質(zhì)保持部,其設(shè)置于所述超聲波振動(dòng)器中與所述半導(dǎo)體設(shè)備相對(duì)的端部,并保持傳播所述超聲波的介質(zhì);
平臺(tái),其使所述半導(dǎo)體設(shè)備與所述超聲波振動(dòng)器的相對(duì)位置移動(dòng);及
解析部,其解析與利用所述超聲波振動(dòng)器的超聲波的輸入對(duì)應(yīng)的所述半導(dǎo)體設(shè)備的反應(yīng)。
2.如權(quán)利要求1所述的超聲波檢查裝置,其中,
所述介質(zhì)保持部由設(shè)置于所述超聲波振動(dòng)器的所述端部的筒狀構(gòu)件構(gòu)成。
3.如權(quán)利要求1或2所述的超聲波檢查裝置,其中,
所述介質(zhì)保持部滑動(dòng)自如地嵌合于所述超聲波振動(dòng)器的所述端部。
4.如權(quán)利要求1~3中任一項(xiàng)所述的超聲波檢查裝置,其中,
所述介質(zhì)保持部包含調(diào)整所述介質(zhì)的保持量的介質(zhì)流通口。
5.如權(quán)利要求1~4中任一項(xiàng)所述的超聲波檢查裝置,其中,
所述介質(zhì)保持部包含檢測(cè)所述介質(zhì)的保持量的保持量檢測(cè)部。
6.如權(quán)利要求1~5中任一項(xiàng)所述的超聲波檢查裝置,其中,
還具備:
電源裝置,其對(duì)所述半導(dǎo)體設(shè)備施加恒定電壓或恒定電流;及
反應(yīng)檢測(cè)部,其在所述恒定電壓或所述恒定電流的施加狀態(tài)下,檢測(cè)與所述超聲波的輸入對(duì)應(yīng)的所述半導(dǎo)體設(shè)備的電流或電壓,
所述解析部基于來(lái)自所述反應(yīng)檢測(cè)部的檢測(cè)信號(hào)而生成解析圖像。
7.如權(quán)利要求6所述的超聲波檢查裝置,其中,
還包含:信號(hào)產(chǎn)生部,其對(duì)所述超聲波振動(dòng)器輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào),且輸出與所述驅(qū)動(dòng)信號(hào)對(duì)應(yīng)的參考信號(hào),
所述解析部基于所述檢測(cè)信號(hào)與所述參考信號(hào)而生成所述解析圖像。
8.如權(quán)利要求6或7所述的超聲波檢查裝置,其中,
還包含:反射檢測(cè)部,其檢測(cè)由所述半導(dǎo)體設(shè)備反射的所述超聲波的反射波,
所述解析部基于來(lái)自所述反射檢測(cè)部的檢測(cè)信號(hào)而生成反射圖像。
9.如權(quán)利要求8所述的超聲波檢查裝置,其中,
所述解析部生成將所述解析圖像與所述反射圖像重疊后的重疊圖像。
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