[發(fā)明專利]用于半導(dǎo)體器件的襯底噪聲隔離結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780057726.0 | 申請日: | 2017-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN109716504B | 公開(公告)日: | 2022-11-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | J·荊;S·吳;J·W·索瓦茲 | 申請(專利權(quán))人: | 賽靈思公司 |
| 主分類號: | H01L21/761 | 分類號: | H01L21/761;H01L21/8234 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所 11256 | 代理人: | 王茂華;崔卿虎 |
| 地址: | 美國加利*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 半導(dǎo)體器件 襯底 噪聲 隔離 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,包括:
第一電路和第二電路,形成在半導(dǎo)體襯底中;
第一保護(hù)結(jié)構(gòu),形成在所述半導(dǎo)體襯底中并且設(shè)置在所述第一電路與所述第二電路之間,所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿第一軸設(shè)置的第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對;以及
第二保護(hù)結(jié)構(gòu),形成在所述半導(dǎo)體襯底中并且設(shè)置在所述第一電路與所述第二電路之間,所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿所述第一軸設(shè)置的第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對,所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對關(guān)于所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對交錯,使得所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間的間隙與所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間的間隙沿垂直于所述第一軸的第二軸不對準(zhǔn)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其中所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿垂直于所述第一軸的所述第二軸延伸的第一連續(xù)擴(kuò)散,并且所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿所述第二軸延伸的第二連續(xù)擴(kuò)散。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體器件,其中所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)是圍繞所述第一電路形成的第一保護(hù)環(huán),所述第一保護(hù)環(huán)包括由第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散的相應(yīng)的第一集合和第二集合形成的第一邊和第二邊以及由所述第一連續(xù)擴(kuò)散的相應(yīng)的第一部分和第二部分形成的第二邊和第三邊。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體器件,其中所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)是圍繞所述第一保護(hù)環(huán)形成的第二保護(hù)環(huán),所述第二保護(hù)環(huán)包括由第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散的相應(yīng)的第一集合和第二集合形成的第一邊和第二邊以及由所述第二連續(xù)擴(kuò)散的相應(yīng)的第一部分和第二部分形成的第二邊和第三邊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,進(jìn)一步包括:
壕溝,在所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對與所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,進(jìn)一步包括:
深阱,形成在所述半導(dǎo)體襯底中并且設(shè)置在所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對與所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,其中所述半導(dǎo)體襯底包括p型襯底,并且其中所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)和所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)形成在所述p型襯底中。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,其中阱形成在所述襯底中,并且其中所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)和所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)形成在所述阱中。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,其中對于所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對中的每一對,n+擴(kuò)散關(guān)于p+擴(kuò)散交錯。
10.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的半導(dǎo)體器件,進(jìn)一步包括:
第三保護(hù)結(jié)構(gòu),形成在所述半導(dǎo)體襯底中并且設(shè)置在所述第一電路與所述第二電路之間,所述第三保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿所述第一軸設(shè)置的第三不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對,所述第三不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對關(guān)于所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對交錯。
11.一種制造半導(dǎo)體器件的方法,包括:
在半導(dǎo)體襯底中形成第一電路和第二電路;
在所述半導(dǎo)體襯底中在所述第一電路與所述第二電路之間形成第一保護(hù)結(jié)構(gòu),所述第一保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿第一軸設(shè)置的第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對;以及
在所述半導(dǎo)體襯底中在所述第一電路與所述第二電路之間形成第二保護(hù)結(jié)構(gòu),所述第二保護(hù)結(jié)構(gòu)包括沿所述第一軸設(shè)置的第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對,所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對關(guān)于所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對交錯,使得所述第一不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間的間隙與所述第二不連續(xù)n+和p+擴(kuò)散對之間的間隙沿垂直于所述第一軸的第二軸不對準(zhǔn)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





