[發(fā)明專利]安全邏輯的自測試

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201780053277.2
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN109642926B
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: S·蘭加查理;S·賈蘭
• 申請（專利權(quán)）人: 德克薩斯儀器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3183
• 分類號: G01R31/3183;G01R31/3187;G06F11/00
• 代理公司: 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245
• 代理人: 徐東升;趙蓉民

在所描述的用于安全關(guān)鍵設(shè)備中的安全邏輯(100)的自測試邏輯的示例中，安全邏輯(100)包括耦合到安全關(guān)鍵設(shè)備中的主模塊(300)和比較模塊(302)的比較器邏輯，并且自測試邏輯被配置為測試比較器邏輯。自測試邏輯可以實現(xiàn)為單周期并行位反轉(zhuǎn)方法、多周期串行位反轉(zhuǎn)方法或單周期測試模式注入方法。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請總體涉及安全關(guān)鍵設(shè)備，并且更具體地涉及安全關(guān)鍵設(shè)備中的安全邏輯的自測試。

背景技術(shù)

諸如汽車雷達系統(tǒng)和工業(yè)控制的安全關(guān)鍵系統(tǒng)可以實現(xiàn)為嵌入式系統(tǒng)。通常需要這種嵌入式系統(tǒng)的硬件(例如，一個或更多個片上系統(tǒng)(SOC)和/或微控制器(MCU))以及軟件來滿足功能安全要求，其包括具有內(nèi)置自測試機制(即安全邏輯)，以識別硬件邏輯中的故障。此外，需要測試機制來識別安全邏輯中的故障。

發(fā)明內(nèi)容

在所描述的示例中，一種裝置包括：被測電路(CUT)，其被配置為生成信號對，其中，對于每個信號對，預期信號對中的第一信號與信號對中的第二信號相同；安全邏輯，其耦合到CUT以測試CUT，其中安全邏輯包括比較器，每個比較器耦合到相應(yīng)的信號對，并且被配置為當相應(yīng)的信號對的第一信號的第一信號位值和第二信號的相應(yīng)的第二信號位值相同時輸出第一位值，并且當?shù)谝恍盘栁恢岛偷诙盘栁恢挡煌瑫r輸出第二位值，第二位值指示CUT中的故障；以及自測試邏輯，其耦合到安全邏輯以測試安全邏輯，其中自測試邏輯被配置為當自測試邏輯被啟用時致使比較器中的至少一個比較器輸出第二位值。

在所描述的一種用于耦合到被測電路(CUT)的安全邏輯的自測試的方法的示例中，該方法包括：致使安全邏輯中的多個比較器中的至少一個比較器輸出第二位值，其中比較器中的每個比較器耦合到由CUT生成的多個信號對中的相應(yīng)的信號對，并且被配置為當相應(yīng)的信號對的第一信號的第一信號位值和相應(yīng)的信號對的第二信號的相應(yīng)的第二信號位值相同時輸出第一位值，并且當?shù)谝恍盘栁恢岛偷诙盘栁恢挡煌瑫r輸出第二位值，其中致使至少一個比較器由耦合到安全邏輯的自測試邏輯執(zhí)行；以及在集中器中組合比較器的輸出，其中由集中器輸出的位值指示安全邏輯中是否存在故障。

附圖說明

圖1是包括單周期并行位反轉(zhuǎn)自測試邏輯的實施例的示例安全邏輯的框圖。

圖2是包括多周期串行位反轉(zhuǎn)自測試邏輯的實施例的示例安全邏輯的框圖。

圖3是耦合到圖1的安全邏輯的鎖步安全關(guān)鍵模塊的框圖。

圖4是耦合到圖2的安全邏輯的鎖步安全關(guān)鍵模塊的框圖。

圖5是耦合到圖1的安全邏輯的奇偶校驗邏輯的框圖。

圖6是示例頻率調(diào)制連續(xù)波(FMCW)雷達系統(tǒng)的框圖，在該雷達系統(tǒng)中可以使用圖1和圖2的自測試邏輯的實施例。

圖7是包括在圖6的FMCW雷達系統(tǒng)中的示例雷達片上系統(tǒng)(SOC)的框圖。

圖8是圖7的雷達SOC的數(shù)字前端的抽取濾波器鏈的示例架構(gòu)的框圖。

圖9和圖10是用于安全邏輯的自測試的方法的流程圖。

圖11是包括自測試邏輯的示例安全邏輯的框圖。

圖12是用于安全邏輯的自測試的方法的流程圖。

具體實施方式

在附圖中，為了一致性，相同的元件由相同的附圖標記表示。