[發明專利]安全邏輯的自測試

有效

• 申請號: 201780053277.2
• 申請日: 2017-08-31
• 公開（公告）號: CN109642926B
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: S·蘭加查理;S·賈蘭
• 申請（專利權）人: 德克薩斯儀器股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3183
• 分類號: G01R31/3183;G01R31/3187;G06F11/00
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 徐東升;趙蓉民

1.一種用于安全邏輯的自測試裝置，包括：

被測電路即CUT，其被配置為生成多個信號對，其中，對于每個信號對，預期所述信號對中的第一信號與所述信號對中的第二信號相同；

安全邏輯，其耦合到所述CUT以測試所述CUT，其中所述安全邏輯包括多個比較器，每個比較器耦合到相應的信號對，并且每個比較器被配置為當所述相應的信號對的所述第一信號的第一信號位值和所述第二信號的相應的第二信號位值相同時輸出第一位值，并且當所述第一信號位值和所述第二信號位值不同時輸出第二位值，所述第二位值指示所述CUT中的故障；以及

自測試邏輯，其耦合到所述安全邏輯以測試所述安全邏輯，其中所述自測試邏輯被配置為當所述自測試邏輯被啟用時致使所述多個比較器中的至少一個比較器輸出所述第二位值。

2.根據權利要求1所述的自測試裝置，其中所述自測試邏輯包括：

多個反相器，其中每個反相器耦合在所述CUT和所述多個比較器中的相應的比較器之間以接收耦合到所述相應的比較器的所述信號對的所述第一信號和所述第二信號中的一個信號，并且每個反相器被配置為當被啟用時反轉所述一個信號的信號位值以致使所述相應的比較器輸出所述第二位值。

3.根據權利要求2所述的自測試裝置，其中：

所述安全邏輯包括耦合到所述多個比較器的輸出的集中器，其中所述集中器被配置為組合所述多個比較器的輸出位值，使得當所述輸出位值全部是所述第一位值時，由所述集中器輸出所述第一位值，并且當所述輸出位值中的至少一個是所述第二位值時，輸出所述第二位值；并且

所述自測試邏輯包括耦合到所述多個反相器的移位寄存器，所述移位寄存器被配置為當所述自測試邏輯被啟用時依次啟用每個反相器，其中在時鐘周期中啟用一個反相器以致使耦合到所述一個反相器的所述比較器輸出所述第二位值，

其中由所述集中器輸出所述第一位值指示所述安全邏輯中的故障。

4.根據權利要求2所述的自測試裝置，其中所述自測試邏輯包括：

自測試啟用線，其耦合到所述多個反相器，所述自測試啟用線被配置為在單個時鐘周期中啟用所有所述反相器；以及

集中器，其耦合到所述多個比較器的輸出，其中所述集中器被配置為組合所述多個比較器的輸出位值，使得當所述輸出位值全部是所述第二位值時，由所述集中器輸出所述第一位值，并且當所述輸出位值中的至少一個是所述第一位值時，輸出所述第二位值，

其中，由所述集中器輸出所述第二位值指示所述安全邏輯中的故障。

5.根據權利要求4所述的自測試裝置，其中由所述集中器輸出的所述第一位值或所述第二位值被反轉。

6.根據權利要求1所述的自測試裝置，其中所述自測試邏輯包括：

測試模式生成器，其被配置為生成測試模式，所述測試模式包括用于每個比較器的一對輸入位值，其中對于每對輸入位值，一個輸入位值是所述第一位值，并且另一輸入位值是所述第二位值；

信號選擇邏輯，其耦合在所述CUT和所述多個比較器之間以接收所述信號對，并且所述信號選擇邏輯耦合到所述測試模式生成器以接收所述測試模式，所述信號選擇電路被配置為當所述自測試邏輯未被啟用時將每個信號對發送到相應的比較器，并且當所述自測試邏輯被啟用時，將所述測試模式的相應的一對輸入位值發送到所述多個比較器中的每個比較器；以及

集中器，其耦合到所述多個比較器的輸出，其中所述集中器被配置為組合所述多個比較器的輸出位值，使得當所述輸出位值全部是所述第二位值時，由所述集中器輸出所述第一位值，并且當所述輸出位值中的至少一個是所述第一位值時，輸出所述第二位值；

其中，由所述集中器輸出所述第二位值指示所述安全邏輯中的故障。

7.根據權利要求1所述的自測試裝置，其中所述CUT包括雙鎖步安全關鍵模塊。

8.根據權利要求7所述的自測試裝置，其中所述雙鎖步安全關鍵模塊是雷達系統中的復制定時引擎。