[發明專利]信號處理設備、信號處理方法和非暫態計算機可讀介質

有效

• 申請號: 201780048126.8
• 申請日: 2017-08-03
• 公開（公告）號: CN109565545B
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 三谷均;若園雅史
• 申請（專利權）人: 索尼公司
• 主分類號: H04N5/232
• 分類號: H04N5/232;H04N9/04;G01J4/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 高欣

1.一種處理設備，包括：

電路，所述電路被配置成

獲取通過圖像傳感器時序地捕獲的多個圖像，所述多個圖像中的每個圖像基于在多個預定偏振方向中的一個偏振方向上并且在多個預定波長帶中的一個波長帶之中的光；和

把與單個偏振方向和來自所述多個預定波長帶的單個預定波長帶對應的所述多個圖像的至少一部分拼接在一起以生成合成圖像。

2.按照權利要求1所述的處理設備，其中

所述電路還被配置成

把所述多個圖像拼接在一起，以生成包括所述合成圖像的多個合成圖像，所述多個合成圖像中的每一個對應于所述多個預定偏振方向中的所述一個偏振方向和所述多個預定波長帶中的所述一個波長帶，和

根據所述多個合成圖像來生成最終的輸出圖像。

3.按照權利要求1所述的處理設備，其中

所述電路還被配置成

把所述多個圖像拼接在一起，以生成包括所述合成圖像的第一多個合成圖像，所述第一多個合成圖像中的每一個對應于所述多個預定偏振方向中的所述一個偏振方向和所述多個預定波長帶中的所述一個波長帶，

把所述第一多個合成圖像拼接在一起，以生成第二多個合成圖像，所述第二多個合成圖像中的每一個對應于所述多個預定波長帶中的所述一個波長帶，和

根據所述第二多個合成圖像來生成最終的輸出圖像。

4.按照權利要求1所述的處理設備，還包括：

偏振參數提取電路，被配置成從所述多個圖像中的一個或多個圖像中提取指示檢查對象的表面上的光的偏振狀態的偏振參數；和

鏡面反射分量除去電路，被配置成基于所述偏振參數，從所述多個圖像中的所述一個或多個圖像中除去檢查對象的表面上的鏡面反射分量。

5.按照權利要求4所述的處理設備，其中

所述多個圖像是從相鄰地布置在一起的傳感器元件獲取的，

所述傳感器元件的數目對應于所述多個預定偏振方向的數目，和

所述偏振參數提取電路還被配置成基于所述傳感器元件之間的輸出差來提取所述偏振參數。

6.按照權利要求4所述的處理設備，還包括：

偏振參數特征點檢測電路，被配置成從所述多個圖像中的所述一個或多個圖像中檢測特征點，

其中，為了把與所述單個偏振方向和來自所述多個預定波長帶的所述單個預定波長帶對應的所述多個圖像的所述至少一部分拼接在一起以生成合成圖像，所述電路還被配置成基于所述特征點來拼接所述多個圖像的所述至少一部分。

7.按照權利要求6所述的處理設備，還包括：

分割電路，被配置成把所述多個圖像分割成多批分割圖像，每批分割圖像至少部分基于所述多個預定波長帶中的一個波長帶。

8.按照權利要求7所述的處理設備，

其中所述偏振參數提取電路還被配置成響應于提取所述偏振參數，控制所述分割電路把所述多個圖像分割成所述多批分割圖像。

9.按照權利要求7所述的處理設備，其中

所述分割電路還被配置成響應于把所述多個圖像分割成所述多批分割圖像，控制所述偏振參數提取電路提取所述偏振參數。

10.按照權利要求7所述的處理設備，還包括：

分析電路，被配置成分析所述多個圖像；和

處理選擇電路，被配置成基于所述分析電路的分析結果，在所述多個圖像的第一處理和所述多個圖像的第二處理之間進行選擇。