[發(fā)明專利]碳化硅半導(dǎo)體裝置及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201780041004.6 | 申請日: | 2017-06-29 |
| 公開(公告)號: | CN109417087B | 公開(公告)日: | 2021-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 竹內(nèi)有一;鈴木克己;渡邊行彥 | 申請(專利權(quán))人: | 株式會社電裝;豐田自動車株式會社 |
| 主分類號: | H01L29/06 | 分類號: | H01L29/06;H01L29/12;H01L29/47;H01L29/78;H01L29/861;H01L29/868;H01L29/872 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 72002 | 代理人: | 徐殿軍 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碳化硅 半導(dǎo)體 裝置 及其 制造 方法 | ||
1.一種碳化硅半導(dǎo)體裝置,其是具有單元部和外周部的半導(dǎo)體裝置,該外周部包括包圍所述單元部的外周的保護環(huán)部、以及位于該保護環(huán)部和所述單元部之間的連接部,
所述碳化硅半導(dǎo)體裝置具有第1或者第2導(dǎo)電型的基板(1、101)、以及第1導(dǎo)電型的漂移層(2、102),該漂移層形成于所述基板的表面?zhèn)龋辉O(shè)為雜質(zhì)濃度比所述基板的雜質(zhì)濃度低,
在所述單元部或者在所述單元部及所述連接部設(shè)有第2導(dǎo)電型層(5、31、103),該第2導(dǎo)電型層被配置于在所述漂移層形成為條狀的多個線狀的第1溝槽內(nèi)(5a、30a、103a),由第2導(dǎo)電型的外延膜構(gòu)成,
在所述單元部具有與所述第2導(dǎo)電型層電連接的第1電極(9、106)和形成于所述基板的背面?zhèn)鹊牡?電極(11、107),
在所述第1電極和所述第2電極之間設(shè)有流過電流的縱型的半導(dǎo)體元件,
在所述保護環(huán)部或者在所述保護環(huán)部及所述連接部設(shè)有第2導(dǎo)電型環(huán)(21、104、105),該第2導(dǎo)電型環(huán)被配置在線狀的第2溝槽(21a、104a、105a)內(nèi),由第2導(dǎo)電型的外延膜構(gòu)成,該第2溝槽從所述漂移層的表面形成,并且形成為包圍所述單元部的多個框形狀,
將所述第2導(dǎo)電型環(huán)中位于外周側(cè)的至少一部分作為所述保護環(huán)部具有的保護環(huán)(21、104),相鄰的所述保護環(huán)彼此的間隔越朝向所述單元部的外周越大,并且相鄰的所述保護環(huán)彼此的間隔中最大的間隔被設(shè)為相鄰的所述第2導(dǎo)電型層彼此的間隔以下。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的碳化硅半導(dǎo)體裝置,
所述保護環(huán)中最外周側(cè)的保護環(huán)和與其緊接著的內(nèi)側(cè)的一個保護環(huán)的間隔,被設(shè)為相鄰的所述第2導(dǎo)電型層彼此的間隔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的碳化硅半導(dǎo)體裝置,
所述保護環(huán)中最外周側(cè)的保護環(huán)和與其緊接著的內(nèi)側(cè)的一個保護環(huán)的間隔,小于相鄰的所述第2導(dǎo)電型層彼此的間隔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任意一項所述的碳化硅半導(dǎo)體裝置,
在所述單元部形成有縱型的半導(dǎo)體元件,該半導(dǎo)體元件具有:
第2導(dǎo)電型的基極區(qū)域(3),形成于所述漂移層(2)之上;
第1導(dǎo)電型的源極區(qū)域(4),形成于所述基極區(qū)域之上,被設(shè)為雜質(zhì)濃度比所述漂移層的雜質(zhì)濃度高;
溝槽柵極構(gòu)造,形成于柵極溝槽(6)內(nèi),具有在該柵極溝槽的內(nèi)壁面形成的柵極絕緣膜(7)和在所述柵極絕緣膜上形成的柵極電極(8),所述柵極溝槽從所述源極區(qū)域的表面一直形成到比所述基極區(qū)域深的位置;
深層(5),一直形成到所述漂移層中比所述柵極溝槽深的位置,構(gòu)成被配置在作為所述第1溝槽的至少一部分而含有的深溝槽(5a)內(nèi)的、所述第2導(dǎo)電型層的至少一部分;
源極電極(9),構(gòu)成與所述源極區(qū)域及所述基極區(qū)域電連接的所述第1電極;
漏極電極(11),構(gòu)成在所述基板的背面?zhèn)刃纬傻乃龅?電極。
5.根據(jù)權(quán)利要求1~3中任意一項所述的碳化硅半導(dǎo)體裝置,
所述基板(101)是第1導(dǎo)電型,
在所述單元部形成有縱型的肖特基二極管,該肖特基二極管具有:
深層(103),構(gòu)成被配置在作為所述第1溝槽的至少一部分而含有的深層溝槽(103a)內(nèi)的、所述第2導(dǎo)電型層的至少一部分;
肖特基電極(106),構(gòu)成與所述漂移層(102)及所述深層(103)接觸的所述第1電極;
歐姆電極(107),構(gòu)成在所述基板的背面?zhèn)刃纬傻乃龅?電極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個電位躍變勢壘或表面勢壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過對一個不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進行控制的
H01L29-82 ..通過施加于器件的磁場變化可控的





