[發明專利]基板位置檢測裝置

有效

• 申請號: 201780036475.8
• 申請日: 2017-04-13
• 公開（公告）號: CN109315090B
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 二宮隆弘;高村健介;梅村信行
• 申請（專利權）人: CKD株式會社
• 主分類號: H05K13/04
• 分類號: H05K13/04
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 劉軍

1.一種基板位置檢測裝置，其特征在于，包括：

照射單元，所述照射單元能夠向基板的預定范圍照射預定的光；

拍攝單元，所述拍攝單元能夠拍攝被照射了所述預定的光的所述基板的預定范圍；以及

移動單元，所述移動單元能夠至少使所述拍攝單元和所述基板相對移動，

所述基板位置檢測裝置通過針對設置于所述基板的多個識別對象依次執行移動處理、拍攝處理以及識別處理，能夠檢測所述基板的位置，所述移動處理是使所述拍攝單元相對移動到與所述多個識別對象中的預定的識別對象對應的位置的處理，所述拍攝處理是在預定的拍攝條件之下拍攝該預定的識別對象的處理，所述識別處理是基于通過所述拍攝處理得到的圖像數據來識別該預定的識別對象的處理，

所述基板位置檢測裝置的在與所述多個識別對象中的預定的識別對象有關的所述拍攝處理結束后，能夠執行所述移動處理，使所述拍攝單元相對移動到與該預定的識別對象不同的其他識別對象對應的位置，并且同時執行與該預定的識別對象有關的所述識別處理，

在至少針對所述多個識別對象全部執行了所述識別處理之后，無法識別所述多個識別對象中的最后識別對象以外的識別對象的情況下，能夠執行再拍攝處理和再識別處理，所述再拍攝處理是再次移動到與該識別對象對應的位置再次拍攝該識別對象的處理，所述再識別處理是基于通過所述再拍攝處理得到的圖像數據識別該識別對象的處理。

2.如權利要求1所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

在執行所述再拍攝處理時，能夠執行變更所述拍攝條件的變更處理。

3.如權利要求2所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的光量。

4.如權利要求2所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的照射角度，或者能夠變更從所述照射單元照射光的至少一個光源。

5.如權利要求3所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的照射角度，或者能夠變更從所述照射單元照射光的至少一個光源。

6.如權利要求2所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的顏色。

7.如權利要求3所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的顏色。

8.如權利要求4所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的顏色。

9.如權利要求5所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

作為所述拍攝條件，能夠變更從所述照射單元照射的光的顏色。

10.如權利要求1至9中任一項所述的基板位置檢測裝置，其特征在于，

所述基板是安裝電子部件的印刷基板。