[發(fā)明專利]圖像獲取裝置和圖像獲取方法

有效

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• 申請日: 2017-12-21
• 公開（公告）號: CN109313078B
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發(fā)明（設計）人: 陽光
• 申請（專利權）人: 深圳配天智能技術研究院有限公司
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/18
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

本發(fā)明公開了一種圖像獲取裝置和圖像獲取方法。圖像獲取裝置包括衍射光學元件、電振鏡、線陣傳感器，其中，所述電振鏡設置在所述衍射光學元件的出射光的傳輸路徑上，線陣傳感器設置于電振鏡的反射光的傳輸路徑上，其特征在于，所述衍射光學元件用于接收檢測對象的反射光線，將所述反射光線分解為多個子波段光束，并將子波段光束通過出射面射出；電振鏡用于接收子波段光束，并將子波段光束進行反射；線陣傳感器用于接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息，并根據(jù)子波段光束的頻譜信息合成檢測對象的圖像信息，其中，線陣傳感器的檢測頻率與電振鏡的振動頻率相同。本發(fā)明的圖像獲取裝置能夠降低圖像獲取成本，提高用戶體驗度。

技術領域

本發(fā)明涉及工業(yè)視覺領域，特別是涉及圖像獲取裝置和圖像獲取方法。

背景技術

在工業(yè)領域進行物體識別時，一種方式是模式匹配?；谖矬w的二維圖像與模板圖像進行匹配，從而獲取待檢測對象的種類。另一種方式是頻譜分析，通過獲取物體的高光譜圖像并根據(jù)該高光譜圖像分析物體的反射率隨波長變化的曲線得到物體的類別。兩者相比，模式匹配中獲取物體二維圖像使用的設備簡單，價格低廉，但根據(jù)獲取的二維圖像進行模式匹配時，只能對外型變化不大的物體進行檢測，比如物體發(fā)生折卷、缺失、甚至外包裝變化等外型變化就極易出現(xiàn)無法識別或識別錯誤的情況；頻譜分析中根據(jù)獲取的高光譜圖像可以準確得到待測物體的元素含量進而分析出物體的種類，但對物體的外形區(qū)分困難。并且傳統(tǒng)的獲取物體高光譜圖像的光譜測量儀由眾多光學、電學與機械等分立器件組成，需要極其復雜的光路系統(tǒng)與精密機械結構，降低了整個儀器的可靠性，對儀器工作、存放環(huán)境也有著嚴格的要求，成本高，難以應用在工業(yè)領域。

發(fā)明內容

本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種圖像獲取裝置和圖像獲取方法，能夠獲取模式匹配和頻譜分析兩種識別方式所需要的兩種圖像，降低圖像獲取成本，可以應用在工業(yè)領域。

為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是：提供一種圖像獲取裝置，所述圖像獲取裝置包括衍射光學元件、電振鏡、線陣傳感器，其中，所述電振鏡設置在所述衍射光學元件的出射光的傳輸路徑上，所述線陣傳感器設置于所述電振鏡的反射光的傳輸路徑上，所述衍射光學元件用于接收檢測對象的反射光線，將所述反射光線分解為多個子波段光束，并將所述子波段光束通過出射面射出；所述電振鏡用于接收所述子波段光束，并將所述子波段光束進行反射；所述線陣傳感器用于接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息，并根據(jù)所述子波段光束的頻譜信息合成所述檢測對象的圖像信息，其中，所述線陣傳感器的檢測頻率與所述電振鏡的振動頻率相對應。

為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的另一個技術方案是：提供一種圖像獲取方法，所述圖像獲取方法包括：圖像獲取裝置通過其衍射光學元件接收檢測對象的反射光線，將所述反射光線分解為多個子波段光束，并將所述子波段光束通過出射面射出；通過電振鏡接收所述子波段光束，并將所述子波段光束進行反射；其中，所述電振鏡設置在所述衍射光學元件的出射光的傳輸路徑上；通過線陣傳感器接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息，并根據(jù)所述子波段光束的頻譜信息合成所述檢測對象的圖像信息，其中，所述線陣傳感器設置于所述電振鏡的反射光的傳輸路徑上，所述線陣傳感器的檢測頻率與所述電振鏡的振動頻率相對應。

本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術的情況，本發(fā)明在檢測對象通過編碼傳送裝置運動時，利用衍射光學元件將待檢測對象的反射光束分解為子波段光束，通過振動的電振鏡將子波段光束反射給線陣傳感器，線陣傳感器接收電振鏡反射的子波段光束，并根據(jù)該子波段光束形成檢測對象的圖像。本發(fā)明能夠獲取模式匹配和頻譜分析兩種識別方式所需要的圖像，并將其應用到工業(yè)物體識別領域，降低了圖像獲取成本，提高用戶體驗度。

附圖說明

圖1是本發(fā)明圖像獲取裝置一實施例的結構示意圖；

圖2是本發(fā)明圖像獲取方法一實施例的流程示意圖。

具體實施方式