[發明專利]圖像獲取裝置和圖像獲取方法有效
| 申請號: | 201780036084.6 | 申請日: | 2017-12-21 |
| 公開(公告)號: | CN109313078B | 公開(公告)日: | 2021-01-08 |
| 發明(設計)人: | 陽光 | 申請(專利權)人: | 深圳配天智能技術研究院有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28;G01J3/18 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 李慶波 |
| 地址: | 518063 廣東省深圳市南山區粵海街道高*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 獲取 裝置 方法 | ||
1.一種圖像獲取裝置,所述圖像獲取裝置包括衍射光學元件、電振鏡、線陣傳感器,其中,所述電振鏡設置在所述衍射光學元件的出射光的傳輸路徑上,所述線陣傳感器設置于所述電振鏡的反射光的傳輸路徑上,其特征在于,
所述衍射光學元件用于接收檢測對象的反射光線,將所述反射光線分解為多個子波段光束,并將所述子波段光束通過出射面射出;
所述電振鏡用于接收所述子波段光束,并將所述子波段光束進行反射;
所述線陣傳感器用于接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息,并形成連續的波譜曲線,以將所述頻譜信息形成的波譜曲線傳輸給外接控制器,并通過所述外接控制器根據接收的所述子波段光束的波譜曲線形成所述檢測對象的高光譜圖像,并從所述高光譜圖像中獲取所述檢測對象的二維圖像,并將所述高光譜圖像和所述二維圖像提供給可以進行模式匹配和/或頻譜分析的設備,從而獲取所述檢測對象的種類,其中,所述線陣傳感器的檢測頻率與所述電振鏡的振動頻率相對應。
2.根據權利要求1所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述線陣傳感器和所述電振鏡的距離與所述檢測對象的高光譜圖像的光譜區分度相一致。
3.根據權利要求1所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述線陣傳感器的測量尺寸與所述檢測對象的高光譜圖像的光譜區分度相一致。
4.根據權利要求1所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述圖像獲取裝置包括多個線陣傳感器,所述多個線陣傳感器分別用于獲取不同頻段的子波段光束的頻譜信息,并分別將所述不同頻段的子波段光束的頻譜信息發送至外接控制器,通過所述外接控制器根據所述子波段光束的頻譜信息合成所述檢測對象的圖像信息。
5.根據權利要求1所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述電振鏡的振動頻率為18K赫茲。
6.根據權利要求1或5所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述電振鏡為微機電振鏡。
7.根據權利要求1所述的圖像獲取裝置,其特征在于,所述線陣傳感器的測量尺寸為0.003毫米~0.01毫米量級。
8.一種圖像獲取方法,其特征在于,所述圖像獲取方法包括:
圖像獲取裝置通過其衍射光學元件接收檢測對象的反射光線,將所述反射光線分解為多個子波段光束,并將所述子波段光束通過出射面射出;
通過電振鏡接收所述子波段光束,并將所述子波段光束進行反射;其中,所述電振鏡設置在所述衍射光學元件的出射光的傳輸路徑上;
通過線陣傳感器接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息,并形成連續的波譜曲線,以將所述頻譜信息形成的波譜曲線傳輸給外接控制器,并通過所述外接控制器根據接收的所述子波段光束的波譜曲線形成所述檢測對象的高光譜圖像,并從所述高光譜圖像中獲取所述檢測對象的二維圖像,并將所述高光譜圖像和所述二維圖像提供給可以進行模式匹配和/或頻譜分析的設備,從而獲取所述檢測對象的種類,其中,所述線陣傳感器設置于所述電振鏡的反射光的傳輸路徑上,所述線陣傳感器的檢測頻率與所述電振鏡的振動頻率相對應。
9.根據權利要求8所述的圖像獲取方法,其特征在于,所述線陣傳感器與所述電振鏡的距離與所述檢測對象的高光譜圖像的光譜區分度相一致。
10.根據權利要求8所述的圖像獲取方法,其特征在于,所述線陣傳感器的測量尺寸與所述檢測對象的高光譜圖像的光譜區分度相一致。
11.根據權利要求8所述的圖像獲取方法,其特征在于,所述通過線陣傳感器接收電振鏡反射的子波段光束的頻譜信息,并根據所述子波段光束的頻譜信息合成所述檢測對象的圖像信息的步驟具體包括:
通過多個線陣傳感器分別獲取不同頻段的子波段光束的頻譜信息,并分別將所述不同頻段的子波段光束的頻譜信息發送至外接控制器;
通過所述外接控制器根據所述子波段光束的頻譜信息合成所述檢測對象的圖像信息。
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