[發明專利]底面位置檢測裝置、圖像獲取裝置、底面位置檢測方法以及圖像獲取方法在審
| 申請號: | 201780021925.6 | 申請日: | 2017-04-05 |
| 公開(公告)號: | CN108885088A | 公開(公告)日: | 2018-11-23 |
| 發明(設計)人: | 柴田文晴;池澤良介;小久保正彥 | 申請(專利權)人: | 株式會社斯庫林集團 |
| 主分類號: | G01B11/00 | 分類號: | G01B11/00;C12M1/34;G02B7/28;G02B21/00;G01N1/28 |
| 代理公司: | 隆天知識產權代理有限公司 72003 | 代理人: | 向勇;宋曉寶 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 底面位置 檢測 反射光 底面 檢測裝置 凹部 圖像獲取裝置 峰值位置 光照射部 反射 圖像獲取 照射光 圖像 細胞 配置 | ||
1.一種底面位置檢測裝置,檢測透光性的容器的底面位置,其中,
所述底面位置檢測裝置具有:
保持部,將所述容器保持為水平;
光照射部,向所述容器的底部照射光;
檢測部,檢測從所述光照射部照射并在所述容器反射的光;以及
控制部,
所述容器具有沿上下凹陷的一個以上的凹部,
所述檢測部檢測從所述容器的底面即第一底面反射的第一反射光以及從所述凹部的底面即第二底面反射的第二反射光,
所述控制部基于所述檢測部檢測到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,計算所述第二底面的位置。
2.根據權利要求1所述的底面位置檢測裝置,其中,
所述光照射部朝向所述容器的底部,并向斜上方照射光。
3.一種圖像獲取裝置,獲取配置于所述容器的所述凹部的細胞的圖像,其中,
所述圖像獲取裝置具有:
權利要求1或2所述的底面位置檢測裝置;
拍攝部,拍攝所述凹部內的細胞的圖像;
圖像處理部,對由所述拍攝部拍攝的圖像進行處理;
上下方向移動機構,使所述保持部沿上下方向移動;
自動對焦機構,調整所述拍攝部相對于所述細胞的焦點位置;以及
水平方向移動機構,使所述拍攝部、所述光照射部以及所述檢測部相對于所述容器沿水平方向相對移動,
所述控制部一邊參照所述檢測部的檢測結果,一邊控制所述上下方向移動機構,在所述拍攝部的焦點位置對焦于所述第二底面后,控制所述自動對焦機構。
4.根據權利要求3所述的圖像獲取裝置,其中,
所述控制部將某個位置下的所述第二底面的位置作為自動對焦基準位置進行存儲,在控制所述水平方向移動機構后,基于所述自動對焦基準位置以及所述檢測部檢測到的所述第二峰值位置,控制所述自動對焦機構。
5.根據權利要求3或4所述的圖像獲取裝置,其中,
所述控制部將所述第一峰值位置與所述第二峰值位置的差分作為替代校正值進行存儲,在控制所述水平方向移動機構后,基于所述檢測部檢測到的第一峰值位置以及所述替代校正值,控制所述自動對焦機構。
6.一種底面位置檢測方法,檢測具有沿上下凹陷的一個以上的凹部的透光性的容器的底面位置,其中,
所述底面位置檢測方法具有:
工序a),將所述容器保持為水平;
工序b),從光照射部向所述容器的底部照射光;
工序c),通過檢測部檢測向所述容器的底部照射并在所述容器反射的光;以及
工序d),計算所述容器的底面位置,
在所述工序c)中,檢測從所述容器的底面即第一底面反射的第一反射光以及從所述凹部的底面即第二底面反射的第二反射光,
在所述工序d)中,基于由所述工序c)檢測到的第一反射光的第一峰值位置以及第二反射光的第二峰值位置,計算所述第二底面的位置。
7.根據權利要求6所述的底面位置檢測方法,其中,
在所述工序c)中,朝向所述容器的底部,并向斜上方照射光。
8.一種圖像獲取方法,包含權利要求6或7所述的底面位置檢測方法,獲取配置于所述容器的所述凹部的細胞的圖像,其中,
所述圖像獲取方法具有:
工序e),通過拍攝部拍攝所述凹部內的細胞的圖像;以及
工序f),對所述拍攝部所拍攝的圖像進行處理,
在所述工序d)中,一邊參照所述工序c)的檢測結果,一邊使所述容器沿上下方向移動,在所述拍攝部的焦點位置對焦于所述第二底面后,通過自動對焦機構調整所述拍攝部相對于所述細胞的焦點位置。
9.根據權利要求8所述的圖像獲取方法,其中,
在所述工序d)中,將某個位置下的所述第二底面的位置作為自動對焦基準位置進行存儲,在控制所述水平方向移動機構后,基于所述自動對焦基準位置以及所述檢測部檢測到的所述第二峰值位置,控制所述自動對焦機構。
10.根據權利要求8或9所述的圖像獲取方法,其中,
所述工序d)包括如下工序:將所述第一峰值位置與所述第二峰值位置的差分作為替代校正值進行存儲,基于在所述工序c)中檢測到的第一峰值位置以及所述替代校正值,控制所述自動對焦機構。
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