[發明專利]谷類的精磨度評價方法及其裝置

有效

• 申請號: 201780018893.4
• 申請日: 2017-03-15
• 公開（公告）號: CN108885169B
• 公開（公告）日: 2021-03-02
• 發明（設計）人: 內田和也
• 申請（專利權）人: 株式會社佐竹
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;B02B7/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 舒艷君;李洋

1.一種谷類的精磨度評價方法，具備：

染色步驟，使用染色液對谷粒進行染色；

照射步驟，對所述谷粒照射光；

圖像獲取步驟，獲取被照射所述光的谷粒的圖像；以及

精磨度判別步驟，針對構成由所述圖像獲取步驟獲取到的谷粒一粒的圖像的多個像素的每個，基于預先決定的基準來區分是與糠部分對應還是與胚乳部分對應，并在與糠部分對應的像素存在規定數以上或者規定比例以上時，判別為與由所述多個像素構成的所述圖像對應的谷粒是有殘留糠的精磨不良粒，

所述圖像獲取步驟具備針對構成所述谷粒的圖像的多個像素的每個獲取R波長成分、G波長成分、B波長成分的步驟，

將所述R波長成分、所述G波長成分以及所述B波長成分包括在內而設定所述基準，

所述谷類的精磨度評價方法具備：RGB表色系統數據獲取步驟，針對對于精磨度已知的谷粒的樣本利用與所述染色步驟、所述照射步驟以及所述圖像獲取步驟相同的方法獲取到的圖像，按照每個像素獲取包括R波長成分、G波長成分和B波長成分的RGB表色系統數據；

三維顏色空間創建步驟，在將R、G、B的各表色軸設為正交坐標的三維顏色空間上標繪在所述RGB表色系統數據獲取步驟中獲取到的所述RGB表色系統數據；以及

基準設定步驟，將在所述三維顏色空間中由線性判別函數Z定義的面設定為所述基準，

所述線性判別函數Z由下式表示，

Z＝a×(R波長的值)+b×(G波長的值)+c×(B波長的值)+A，

其中，a、b、c為系數，A為常量，a、b、c、A從已知的樣本中求出，

在所述精磨度判別步驟中，針對構成由所述圖像獲取步驟獲取到的谷粒一粒的圖像的所述多個像素的每個，根據通過所述線性判別函數Z計算的值的正負來區分是與所述糠部分對應還是與所述胚乳部分對應，

通過計算針對所述糠部分的像素數來求出殘留糠面積，

通過進行所述殘留糠面積相對于谷粒的整體面積的比例是規定值以上還是小于規定值的判別，來評價谷粒是正常粒還是異常粒。

2.根據權利要求1所述的谷類的精磨度評價方法，其中，

在所述精磨度判別步驟的后期階段還具備按照多等級對精磨不良粒進行分級的等級評價步驟。

3.一種谷類的精磨度評價裝置，具備：

拍攝裝置，獲取使用染色液進行了染色的谷粒的表面的圖像；以及

運算裝置，根據由所述拍攝裝置獲取到的谷粒的圖像來運算該谷粒的精磨度，

所述運算裝置具備精磨度判別部，所述精磨度判別部針對構成由所述拍攝裝置獲取到的谷粒一粒的圖像的多個像素的每個，基于預先決定的基準來區分是與糠部分對應還是與胚乳部分對應，

所述精磨度判別部在針對所述糠部分的像素存在規定數以上或者規定比例以上時，判別為與由多個像素構成的所述圖像對應的谷粒是有殘留糠的精磨不良粒,

所述拍攝裝置針對構成所述谷粒的圖像的多個像素的每個，獲取R波長成分、G波長成分、B波長成分，

將所述R波長成分、所述G波長成分以及所述B波長成分包括在內而設定所述基準，

所述運算裝置具備：

RGB表色系統數據獲取部，針對構成由所述拍攝裝置獲取到的一粒谷粒的圖像的多個像素的每個，獲取包括R波長成分、G波長成分和B波長成分的RGB表色系統數據；

三維顏色空間創建部，在將R、G、B的各表色軸設為正交坐標的三維顏色空間上標繪由所述RGB表色系統數據獲取部獲取到的RGB表色系統數據；

基準設定部，將在所述三維顏色空間中由線性判別函數Z定義的面設定為所述基準，

所述線性判別函數Z由下式表示，

Z＝a×(R波長的值)+b×(G波長的值)+c×(B波長的值)+A，

其中，a、b、c為系數，A為常量，a、b、c、A從已知的樣本中求出，

所述精磨度判別部針對構成由所述拍攝裝置獲取到的谷粒一粒的圖像的所述多個像素的每個，根據通過所述線性判別函數Z計算的值的正負來區分是與所述糠部分對應還是與所述胚乳部分對應，

通過計算針對所述糠部分的像素數來求出殘留糠面積，

通過進行所述殘留糠面積相對于谷粒的整體面積的比例是規定值以上還是小于規定值的判別，來評價谷粒是正常粒還是異常粒。

4.根據權利要求3所述的谷類的精磨度評價裝置，其中，

所述運算裝置還具備按照多等級對精磨不良粒進行分級的等級評價部。