[發明專利]模型參數值推定裝置及推定方法、記錄介質、模型參數值推定系統

有效

• 申請號: 201780014460.1
• 申請日: 2017-01-27
• 公開（公告）號: CN108700852B
• 公開（公告）日: 2021-07-16
• 發明（設計）人: 吉田泰浩;德田勇也;吉田卓彌;榎本裕基;大崎展弘;長濱義人
• 申請（專利權）人: 三菱動力株式會社
• 主分類號: G05B13/04
• 分類號: G05B13/04;G06F17/18
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 曾賢偉;郝慶芬

1.一種模型參數值推定裝置，其具備：工廠模型，其是將對象產品的動作進行模擬的預先設定的物理模型，輸入模型參數值并計算過程值；模型參數值推定部，其根據上述過程值，推定似然度更高的上述模型參數值；蓄積部，其蓄積上述模型參數值推定部的運算結果；以及輸出部，其輸出上述模型參數值推定部的運算結果，其特征在于，

上述模型參數值推定部輸入上述對象產品的測量值以及通過上述工廠模型計算出的多個過程值，將根據相對于上述測量值的上述多個過程值的精度評價所生成的函數視為似然度函數，對蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數進行貝葉斯更新，

上述模型參數值推定部具備：

模型參數信息獲取部，其獲取上述模型參數值的上限和下限值；

模型參數值輸出部，其輸入上述模型參數值的上限和下限值，在輸入的上限和下限值的范圍內改變上述模型參數值，輸出到上述工廠模型；

過程值輸入部，其輸入與各模型參數值對應地從上述工廠模型輸出的多個過程值；

評價值生成部，其輸入上述多個過程值和上述對象產品的測量值，根據輸入的多個過程值與對象產品的測量值的差分，生成表示相對于上述測量值的上述多個過程值的精度評價的評價值；

散點圖生成部，其輸入上述評價值和上述各模型參數值，獲取表示輸入的評價值與各模型參數值的關系的散點圖；

函數回歸部，其輸入上述散點圖，將所輸入的散點圖進行函數回歸而生成函數；

似然度函數獲取部，其輸入上述函數，對輸入的函數進行標準化而視為與上述模型參數值有關的概率密度函數，作為似然度函數而輸出；以及

貝葉斯學習部，其輸入上述似然度函數以及蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數，將蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數設為先驗分布，使用輸入的似然度函數進行貝葉斯更新。

2.根據權利要求1所述的模型參數值推定裝置，其特征在于，

上述輸出部將貝葉斯更新前后的概率密度函數進行比較并輸出。

3.根據權利要求1所述的模型參數值推定裝置，其特征在于，

所述模型參數值推定裝置具備產品狀態推定部，該產品狀態推定部根據蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數的平均值的推移，來推定對象產品的狀態變化。

4.一種模型參數值推定裝置，其具備：工廠模型，其是將對象產品的動作進行模擬的預先設定的物理模型，輸入模型參數值并計算過程值；模型參數值推定部，其根據上述過程值，推定似然度更高的上述模型參數值；蓄積部，其蓄積上述模型參數值推定部的運算結果；以及輸出部，其輸出上述模型參數值推定部的運算結果，其特征在于，

上述模型參數值推定部輸入上述對象產品的測量值以及通過上述工廠模型計算出的多個過程值，將根據相對于上述測量值的上述多個過程值的精度評價所生成的函數視為似然度函數，對蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數進行貝葉斯更新，

上述模型參數值推定部具備：

模型參數信息獲取部，其獲取與兩種以上的模型參數有關的模型參數值的上限和下限值；

模型參數值輸出部，其輸入與兩種以上的上述模型參數有關的模型參數值的上限和下限值，在輸入的上限和下限值的范圍內同時使兩種以上的上述模型參數的模型參數值變化，輸出到上述工廠模型；

過程值輸入部，其輸入與各模型參數值對應地從上述工廠模型輸出的多個過程值；

評價值生成部，其輸入上述多個過程值和上述對象產品的測量值，根據輸入的多個過程值與對象產品的測量值的差分，生成表示相對于上述測量值的上述多個過程值的精度評價的評價值；

散點圖生成部，其輸入上述評價值和上述各模型參數值，獲取表示輸入的評價值與各模型參數值的關系的散點圖；

函數回歸部，其輸入上述散點圖，將輸入的散點圖進行函數回歸而生成函數；

似然度函數獲取部，其輸入上述函數，對輸入的函數進行標準化并視為與上述模型參數值有關的概率密度函數，作為似然度函數進行輸出；以及

貝葉斯學習部，其輸入上述似然度函數以及蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數，將蓄積在上述蓄積部中的概率密度函數設為先驗分布，使用輸入的似然度函數進行貝葉斯更新。