[發(fā)明專利]用于制造包括貫穿基板延伸的導(dǎo)電孔的互連部的方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201780007371.4 | 申請(qǐng)日: | 2017-01-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108475660A | 公開(公告)日: | 2018-08-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 朱利安·維蒂耶洛;法比安·皮亞拉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 庫(kù)伯斯股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;H01L21/285;C23C16/455 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219 | 代理人: | 陸弋;安翔 |
| 地址: | 法國(guó)蒙博諾*** | 國(guó)省代碼: | 法國(guó);FR |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基板 脈沖序列 孔洞 噴射路徑 沉積 氮化鉭層 氮化鈦 導(dǎo)電孔 互連部 噴射 延伸 室內(nèi) 沉積銅層 反應(yīng)氣體 沉積室 內(nèi)表面 前驅(qū)體 銅填充 相位差 主表面 貫穿 制造 | ||
1.一種用于制造包括貫穿基板(1)延伸的導(dǎo)電孔(V)的互連部的方法,所述方法包括以下的連續(xù)步驟:
a)在所述基板的主表面(1A)上以及至少一個(gè)孔洞(10)的內(nèi)表面(10A、10B)上沉積氮化鈦或氮化鉭層(11),所述至少一個(gè)孔洞(10)延伸到所述基板的厚度的至少一部分內(nèi);
b)在所述氮化鈦或氮化鉭層(11)上沉積銅層(12);
c)用銅填充所述孔洞(10);
所述方法的特征在于,在步驟(a)期間,所述基板(1)被布置在第一沉積室(100)內(nèi),并且,所述步驟(a)包括:根據(jù)第一脈沖序列、經(jīng)由第一噴射路徑將氣相的鈦或鉭前驅(qū)體噴射到所述沉積室內(nèi);以及,根據(jù)第二脈沖序列、經(jīng)由與所述第一噴射路徑不同的第二噴射路徑將含氮反應(yīng)氣體噴射到所述沉積室內(nèi),所述第一脈沖序列和所述第二脈沖序列是異相的,在步驟a)的整個(gè)持續(xù)時(shí)間內(nèi),所述第一沉積室(100)內(nèi)的壓力大于500毫托。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一脈沖序列中和所述第二脈沖序列中的脈沖的持續(xù)時(shí)間均在0.02s至5s的范圍內(nèi);并且所述第一脈沖序列中和所述第二脈沖序列中的兩個(gè)脈沖之間的延遲均在0.02s至10s或在0.5s至10s的范圍內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,通過(guò)電沉積銅來(lái)執(zhí)行所述孔洞(10)的填充步驟(c)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法,其特征在于,通過(guò)繼續(xù)進(jìn)行在步驟(b)中執(zhí)行的銅沉積來(lái)執(zhí)行所述孔洞(10)的填充。
5.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,在步驟(a)中沉積的所述氮化鈦或氮化鉭層(11)的厚度小于或等于100nm。
6.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,在步驟(b)中沉積的所述銅層(12)的厚度在50至300nm的范圍內(nèi)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,在與所述第一室(100)不同的第二沉積室(200)內(nèi)執(zhí)行步驟(b)中的所述銅層(12)的沉積。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,通過(guò)化學(xué)氣相沉積來(lái)執(zhí)行步驟(b)。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8之一所述的方法,其特征在于,所述第一沉積室和第二沉積室(100、200)分別以密封方式連接至中間室(300),并且在步驟(a)和(b)之間,所述基板在真空下從所述第一室(100)通過(guò)所述中間室(300)轉(zhuǎn)移至所述第二室(200)。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,所述導(dǎo)電孔(V)具有大于或等于5:1的形狀因子。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,所述方法包括:在已經(jīng)填充了所述孔洞(10)之后,在與其上已沉積有所述氮化鈦或氮化鉭層和銅層的所述主表面(1A)相反的一側(cè)移除所述基板(1)的厚度的至少一部分(1B),以暴露所述導(dǎo)電孔(V)的內(nèi)部,從而將所述導(dǎo)電孔變成通孔式導(dǎo)電孔。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,在步驟(a)之后,所述方法包括:清潔已經(jīng)在其內(nèi)沉積了所述氮化鈦或氮化鉭層(10)的所述室(100),以移除被沉積在所述室的內(nèi)壁上的所述氮化鈦或氮化鉭,所述清潔是通過(guò)含氟反應(yīng)氣體執(zhí)行的并且由等離子源激活。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求之一所述的方法,其特征在于,在步驟(b)之后,所述方法包括:清潔已經(jīng)在其內(nèi)沉積了所述銅層(11)的所述室(200),以移除被沉積在所述室的內(nèi)壁上的所述銅,所述清潔包括以下步驟:
(i)將銅氧化;
(ii)根據(jù)脈沖序列噴射適合使所述被氧化的銅揮發(fā)的化學(xué)物質(zhì),所述步驟(ii)在步驟(i)開始之后開始。
14.一種用于實(shí)施根據(jù)權(quán)利要求1至13之一所述的方法的裝置,其特征在于,所述裝置包括以下部件:
-第一密封沉積室(100),所述第一密封沉積室(100)通過(guò)第一噴射路徑連接至鈦或鉭前驅(qū)體源,并通過(guò)與所述第一路徑不同的第二噴射路徑連接至含氮反應(yīng)氣體源,
-第二密封沉積室(200),所述第二密封沉積室(200)連接至銅源,以及
-中間室(300),所述第一沉積室和所述第二沉積室(100,200)分別以密封方式連接至所述中間室(300)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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