[發明專利]包括參考圖像獲取模塊和用戶模塊的對象真實性檢測系統及其方法

在審

• 申請號: 201780003169.4
• 申請日: 2017-05-24
• 公開（公告）號: CN108140127A
• 公開（公告）日: 2018-06-08
• 發明（設計）人: I·雷澤遜
• 申請（專利權）人: 埃爾比特系統C4I有限公司
• 主分類號: G06K9/20
• 分類號: G06K9/20;G02B27/00
• 代理公司: 北京市鑄成律師事務所 11313
• 代理人: 張臻賢;李夠生

1.一種用于確定對象的真實性的系統，其包括：

參考圖像獲取模塊，其用于獲取用于對象真實性檢測的參考圖像，所述參考圖像獲取模塊包括：

光源(554)，其將周向光引導朝向所述對象上的認證區域(566)，所述周向光至少是準直和遠心中的至少一種，所述周向光從多個不同的方位角方向并且相對于由所述對象限定的平面的法線以預定的傾斜角度撞擊在所述認證區域上，所述周向光的一部分從所述認證區域朝向鏡面反射區域反射，所述周向光的另一部分從所述認證區域散射；

成像器(552)，其包括成像傳感器(553)，所述成像器(552)聚焦在所述認證區域上，所述成像器(552)獲取至少一個參考圖像(570)，所述參考圖像是所述散射光的聚焦圖像，所述圖像至少包括與所述認證區域的表面特征散射現象有關的圖像特征(572)，所述鏡面反射區域和由所述成像傳感器限定的區域在空間上相互排斥；以及

數據庫(557)，其與所述成像器(552)耦接以用于存儲所述參考圖像。

2.根據權利要求1所述的系統，其中所述光源包括環狀光源。

3.根據權利要求1所述的系統，其中所述光源包括布置成圓形的多個離散光源。

4.根據權利要求1所述的系統，其中所述光源包括至少一個發光二極管、準直光學器件和軸錐鏡，所述準直光學器件與所述發光二極管和所述軸錐鏡光耦接，所述發光二極管朝向所述準直光學器件發射光，所述準直光學器件使從其中穿過的光束準直，所述軸錐鏡使所述平行光束折射，從而在多個方位角方向上產生周向光束。

5.根據權利要求1所述的系統，其還包括處理器，所述處理器用于處理所獲取參考圖像。

6.根據權利要求5所述的系統，其中，所述處理包括濾波、直方圖均衡化和圖像壓縮中的至少一項。

7.根據權利要求1所述的系統，其位于殼體內，所述殼體包括將所述對象與所述傳感器之間的距離維持在預定距離的止動件。

8.根據權利要求1所述的系統，其還包括成像光學器件，所述成像光學器件與成像器光耦接。

9.根據權利要求1所述的系統，其還包括光圈，所述光圈位于所述成像器與所述對象之間以用于阻擋鏡面反射光撞擊在所述成像傳感器上。

10.根據權利要求1所述的系統，其還包括分束器，所述分束器與所述光源和所述成像器光耦接，所述分束器以所述預定的傾斜角度使所述光源所發射的所述光朝向所述認證區域偏轉。

11.根據權利要求1所述的系統，其還包括光源光學器件，所述光源光學器件與光源和所述分束器光耦接，所述光源光學器件是準直光學器件和遠心光學器件中的一個。