[發(fā)明專利]檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201780003126.6
• 申請(qǐng)日: 2017-08-08
• 公開（公告）號(hào): CN109313164B
• 公開（公告）日: 2021-10-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 申?yáng)|桓;申芮知;車承垠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 申?yáng)|桓;申芮知;車承垠
• 主分類號(hào): G01N29/24
• 分類號(hào): G01N29/24;G01N29/36;G01N29/06
• 代理公司: 南京瑞弘專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32249
• 代理人: 梁天彥

本發(fā)明涉及一種檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法，且更具體來(lái)說(shuō)，涉及用于在不毀壞檢驗(yàn)對(duì)象的條件下檢測(cè)檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的缺陷的一種檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法。根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的一種檢測(cè)缺陷的裝置包括：第一探測(cè)單元，被配置成向檢驗(yàn)對(duì)象中傳送信號(hào)并接收在所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)產(chǎn)生的信號(hào)；第二探測(cè)單元，相對(duì)于所述第一探測(cè)單元單獨(dú)地安裝，且被配置成接收在所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)產(chǎn)生的所述信號(hào)；以及位置確定單元，被配置成利用由所述第一探測(cè)單元接收的所述信號(hào)及由所述第二探測(cè)單元接收的所述信號(hào)來(lái)檢測(cè)所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的缺陷位置。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法，且更具體來(lái)說(shuō)，涉及用于在不毀壞檢驗(yàn)對(duì)象的條件下檢測(cè)檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的缺陷的一種檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法。

背景技術(shù)

通常，在組件或材料的壽命預(yù)測(cè)及完整性評(píng)估中，關(guān)于缺陷位置的信息非常重要，此需要一種準(zhǔn)確且快速的檢測(cè)技術(shù)。

作為現(xiàn)有非毀壞性缺陷檢測(cè)技術(shù)中的一種，脈沖回波技術(shù)(pulse echotechnique)是一種根據(jù)檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)存在的缺陷所反射的能量的幅值(Amplitude)來(lái)檢測(cè)所述缺陷的技術(shù)。然而，由于所反射能量的幅值取決于反射表面的狀態(tài)，因此難以測(cè)量缺陷的準(zhǔn)確大小。

相反，作為一種利用波的衍射現(xiàn)象的缺陷檢測(cè)技術(shù)，飛行時(shí)間衍射方法(TOFD：Time Of Flight Diffraction)具有比脈沖回波技術(shù)快10倍或更多倍的檢驗(yàn)速度而能夠使檢驗(yàn)器輕易地檢測(cè)到缺陷，且不依賴于缺陷的方向，且因此飛行時(shí)間衍射方法作為穩(wěn)定的檢驗(yàn)方法而受到矚目。

飛行時(shí)間衍射方法是一種利用傳送探針及接收探針向檢驗(yàn)對(duì)象(即，媒介)傳送波且分析檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的缺陷位置(例如，不連續(xù)性)的技術(shù)。從傳送探針傳送的波穿過(guò)所述媒介以與所述媒介內(nèi)的缺陷碰撞，且產(chǎn)生衍射波。所產(chǎn)生的衍射波是通過(guò)接收探針來(lái)接收，且缺陷位置是通過(guò)測(cè)量從傳送探針傳送所述波的時(shí)間及所述接收探針接收到所述衍射波的時(shí)間來(lái)檢測(cè)。

然而，對(duì)于飛行時(shí)間衍射方法，由于僅測(cè)量傳送波與因所述傳送波產(chǎn)生的衍射波之間的總移動(dòng)距離，因此難以準(zhǔn)確地測(cè)量在檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)存在的缺陷的三維位置，所述三維位置包括所述檢驗(yàn)對(duì)象的表面上的缺陷位置、相對(duì)于所述檢驗(yàn)對(duì)象的表面的缺陷深度、及類似參數(shù)。

[現(xiàn)有技術(shù)參考]

韓國(guó)專利申請(qǐng)?jiān)缙诠_第10-2015-0115725號(hào)

發(fā)明內(nèi)容

[技術(shù)問(wèn)題]

本發(fā)明提供能夠在不毀壞檢驗(yàn)對(duì)象的條件下檢測(cè)檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)存在的準(zhǔn)確缺陷位置的一種檢測(cè)缺陷的裝置及其檢測(cè)缺陷的方法。

[技術(shù)解決方案]

根據(jù)示例性實(shí)施例，一種檢測(cè)缺陷的裝置包括：第一探測(cè)單元，被配置成向檢驗(yàn)對(duì)象中傳送信號(hào)并接收在所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)產(chǎn)生的信號(hào)；第二探測(cè)單元，相對(duì)于所述第一探測(cè)單元單獨(dú)地安裝，且被配置成接收在所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)產(chǎn)生的所述信號(hào)；以及位置確定單元，被配置成利用由所述第一探測(cè)單元接收的所述信號(hào)及由所述第二探測(cè)單元接收的所述信號(hào)來(lái)檢測(cè)所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的缺陷位置。

所述第一探測(cè)單元及所述第二探測(cè)單元可沿所述檢驗(yàn)對(duì)象的表面能夠移動(dòng)地安裝。

在所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)產(chǎn)生的所述信號(hào)可包括因從所述第一探測(cè)單元傳送的所述信號(hào)被缺陷衍射而產(chǎn)生的衍射信號(hào)。

所述位置確定單元可利用所述第一探測(cè)單元與所述第二探測(cè)單元之間的間隔(L)、從所述第一探測(cè)單元到所述缺陷的距離(S₁)、及從所述第二探測(cè)單元到所述缺陷的距離(S₂)來(lái)確定所述檢驗(yàn)對(duì)象內(nèi)的所述缺陷位置。