[實用新型]一種基于電磁波的刀具的監測系統有效
| 申請號: | 201721908456.3 | 申請日: | 2017-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN207798017U | 公開(公告)日: | 2018-08-31 |
| 發明(設計)人: | 譚易東;潘奕;丁慶 | 申請(專利權)人: | 深圳市太赫茲科技創新研究院有限公司;深圳市太赫茲科技創新研究院 |
| 主分類號: | G01B11/06 | 分類號: | G01B11/06 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 劉雯 |
| 地址: | 518102 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 刀片 監測系統 電磁波 傳送帶 刀具 輔助處理設備 電磁接收 監測裝置 吸收光譜 控制器 測量 發生儀 衰減波 探測波 樣品臺 本實用新型 測量效果 刀片加工 計算刀片 無接觸式 折射率 頻段 傳送 發射 吸收 運作 | ||
本實用新型涉及一種基于電磁波的刀具的監測系統。該監測系統包括太赫茲監測裝置、傳送帶和控制器。太赫茲監測裝置包括樣品臺、電磁發生儀、電磁接收儀和輔助處理設備;電磁發生儀用于向刀片發射探測波;電磁接收儀用于接收透過刀片的衰減波;輔助處理設備用于比較衰減波和探測波,得到刀片的吸收光譜,并根據吸收光譜計算刀片的厚度;傳送帶用于將刀片在刀片加工裝置和樣品臺之間傳送;控制器用于控制傳送帶的運作。上述基于電磁波的刀具的監測系統,根據刀片對于太赫茲頻段的電磁波的吸收時間和刀片本身的折射率即可計算出刀片的厚度。實現了刀片厚度無接觸式的測量,測量簡單,測量精度較高,因此測量效果較好。
技術領域
本實用新型涉及刀具質量檢測領域,特別涉及一種基于電磁波的刀具的監測系統。
背景技術
現代的刀具生產工藝中,大多使用磨床進行加工,其精度和效率都遠遠大于傳統的手工打造技術。此處以陶瓷刀具為例,陶瓷刀片的厚度是決定刀具質量的最重要因素。為了保持刀片的厚度符合設計的要求,經常需要熟練的工人將刀片從磨床上取下,使用卡尺等測量工具逐一進行校對,并由此來判定磨床的設置是否精確,機器的運作是否正常。但是,傳統的測量刀片厚度的方法大多數是接觸式的,操作復雜,且測得的刀片的厚度精度較差,測量效果不好。
實用新型內容
基于此,有必要針對傳統的測量刀片厚度的方法操作復雜且測量效果不好的問題,提供一種基于電磁波的刀具的監測系統。
一種基于電磁波的刀具的監測系統,所述刀具的刀片的分子是非極性分子,所述監測系統用于監測刀片加工裝置加工的刀片的厚度,所述監測系統包括:
太赫茲監測裝置,包括樣品臺、電磁發生儀、電磁接收儀和輔助處理設備;所述樣品臺用于支撐所述刀片;所述電磁發生儀用于向所述刀片發射探測波;所述電磁接收儀用于接收透過所述刀片的電磁波,該電磁波為衰減波;所述輔助處理設備用于比較所述衰減波和所述探測波,得到所述刀片的吸收光譜,并根據吸收光譜計算所述刀片的厚度;其中,所述探測波為太赫茲頻段的電磁波;
傳送帶,所述傳送帶設置于所述刀片加工裝置和所述太赫茲監測裝置之間,所述傳送帶用于將所述刀片在所述刀片加工裝置和所述樣品臺之間傳送;
控制器,與所述傳送帶連接,所述控制器用于控制所述傳送帶的運作。
上述基于電磁波的刀具的監測系統,刀片加工裝置將刀片放在傳送帶上。控制器控制傳送帶的傳送工作。傳送帶將刀片傳送至太赫茲檢測裝置的樣品臺上。然后,太赫茲監測裝置利用太赫茲頻段的電磁波測量刀片的厚度。根據吸收光譜獲取太赫茲頻段的電磁波穿過刀片的時間,即衰減時間。再根據刀片對于太赫茲頻段的電磁波的衰減時間和刀片本身的折射率即可計算出刀片的厚度。實現了刀片厚度無接觸式的測量,測量簡單,并且利用吸收光譜科學計算刀片的厚度,測量精度較高,因此測量效果較好。為刀片厚度測量提供了一種新的手段,更好的優化了工業制造。
在其中一個實施例中,所述太赫茲監測裝置還包括支架和位置調節組件,所述樣品臺位于所述支架內部;所述位置調節組件與所述樣品臺連接,所述位置調節組件用于調節所述樣品臺相對于所述支架的位置,以監測所述刀片不同位置處的厚度。
在其中一個實施例中,所述太赫茲監測裝置還包括存儲器,所述存儲器與所述輔助處理設備連接,所述存儲器用于存儲所述輔助處理設備計算得出的所述刀片的厚度值。
在其中一個實施例中,所述太赫茲監測裝置還包括分束器,所述分束器接收所述電磁發生儀產生的太赫茲頻段的初始波,并將所述初始波分為能量相等的兩束波,其中一束作為所述探測波,其中一束作為參照波;
所述電磁接收儀接收所述參照波和所述衰減波,并將所述參照波和所述衰減波發送給所述輔助處理設備;
所述輔助處理設備比較所述衰減波和所述參照波,獲取所述刀片的吸收光譜。
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