[實用新型]一種基于電磁波的刀具的監測系統

有效

• 申請號: 201721908456.3
• 申請日: 2017-12-30
• 公開（公告）號: CN207798017U
• 公開（公告）日: 2018-08-31
• 發明（設計）人: 譚易東;潘奕;丁慶
• 申請（專利權）人: 深圳市太赫茲科技創新研究院有限公司;深圳市太赫茲科技創新研究院
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 劉雯

1.一種基于電磁波的刀具的監測系統，其特征在于，所述刀具的刀片的分子是非極性分子，所述監測系統用于監測刀片加工裝置加工的刀片的厚度，所述監測系統包括：

太赫茲監測裝置，包括樣品臺、電磁發生儀、電磁接收儀和輔助處理設備；所述樣品臺用于支撐所述刀片；所述電磁發生儀用于向所述刀片發射探測波；所述電磁接收儀用于接收透過所述刀片的電磁波，該電磁波為衰減波；所述輔助處理設備用于比較所述衰減波和所述探測波，得到所述刀片的吸收光譜，并根據吸收光譜計算所述刀片的厚度；其中，所述探測波為太赫茲頻段的電磁波；

傳送帶，所述傳送帶設置于所述刀片加工裝置和所述太赫茲監測裝置之間，所述傳送帶用于將所述刀片在所述刀片加工裝置和所述樣品臺之間傳送；

控制器，與所述傳送帶連接，所述控制器用于控制所述傳送帶的運作。

2.根據權利要求1所述的監測系統，其特征在于，所述太赫茲監測裝置還包括支架和位置調節組件，所述樣品臺位于所述支架內部；所述位置調節組件與所述樣品臺連接，所述位置調節組件用于調節所述樣品臺相對于所述支架的位置，以監測所述刀片不同位置處的厚度。

3.根據權利要求1所述的監測系統，其特征在于，所述太赫茲監測裝置還包括存儲器，所述存儲器與所述輔助處理設備連接，所述存儲器用于存儲所述輔助處理設備計算得出的所述刀片的厚度值。

4.根據權利要求1所述的監測系統，其特征在于，所述太赫茲監測裝置還包括分束器，所述分束器接收所述電磁發生儀產生的太赫茲頻段的初始波，并將所述初始波分為能量相等的兩束波，其中一束作為所述探測波，其中一束作為參照波；

所述電磁接收儀接收所述參照波和所述衰減波，并將所述參照波和所述衰減波發送給所述輔助處理設備；

所述輔助處理設備比較所述衰減波和所述參照波，獲取所述刀片的吸收光譜。

5.根據權利要求4所述的監測系統，其特征在于，所述太赫茲監測裝置還包括鎖相放大器，所述鎖相放大器設置于所述電磁接收儀和所述輔助處理設備之間，所述衰減波經由所述鎖相放大器傳輸至所述輔助處理設備，所述參照波經由所述鎖相放大器傳輸至所述輔助處理設備。

6.根據權利要求1所述的監測系統，其特征在于，所述電磁發生儀產生預設的太赫茲頻段范圍內的電磁波。

7.根據權利要求1所述的監測系統，其特征在于，所述輔助處理設備比較所述刀片的厚度值與預設閾值，并根據比較結果判斷所述刀片是否符合要求。

8.根據權利要求7所述的監測系統，其特征在于，所述太赫茲監測裝置還包括提示單元；所述輔助處理設備在判斷出所述刀片不符合要求時，所述提示單元發出提示信息。