[實(shí)用新型]一種集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201721853467.6
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN207780175U
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王希清;潘子升;汪永法;魏建中
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州士蘭微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京成創(chuàng)同維知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11449
• 代理人: 蔡純;張靖琳

一種集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)，所述集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)包括：編程模塊，用于在校驗(yàn)?zāi)K的控制下對被測集成電路編程；校驗(yàn)?zāi)K，用于在編程階段控制編程模塊對被測集成電路編程并產(chǎn)生第一校驗(yàn)信息，在校驗(yàn)階段使被測集成電路基于自身編程情況計(jì)算第二校驗(yàn)信息，根據(jù)第一校驗(yàn)信息與第二校驗(yàn)信息是否匹配來產(chǎn)生校驗(yàn)結(jié)果。能夠?qū)崿F(xiàn)對被測集成電路的編程校驗(yàn)，從而提高集成電路的產(chǎn)品良率。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在硬件系統(tǒng)的開發(fā)與設(shè)計(jì)中，對集成電路進(jìn)行的數(shù)據(jù)讀寫操作被稱為對芯片編程(Program)。例如，采用單片機(jī)(Microcontroller Unit)控制的各種系統(tǒng)需要將開發(fā)的控制程序編程到單片機(jī)；對用于儲(chǔ)存配置數(shù)據(jù)的芯片進(jìn)行編程；對用于IC設(shè)計(jì)的現(xiàn)場可編程門陣列元件(Field Programmable Gate Array Devices,FPGADevices)或復(fù)雜可編程邏輯元件(Complex Programmable Logic Devices,CPLD)的編程。

然而由于集成電路本身和編程過程的復(fù)雜性，存在編程錯(cuò)誤或失敗的可能，這將會(huì)產(chǎn)生不良品，降低產(chǎn)品良率。因此需要一種技術(shù)能夠校驗(yàn)集成電路是否被正確編程。

實(shí)用新型內(nèi)容

有鑒于此，本公開提供了一種集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)，能夠?qū)呻娐返木幋a進(jìn)行校驗(yàn)。

根據(jù)本公開的第一方面，提供了一種集成電路編程校驗(yàn)系統(tǒng)，包括：被測集成電路；編程模塊，用于在校驗(yàn)?zāi)K的控制下對被測集成電路編程；校驗(yàn)?zāi)K，用于在編程階段控制編程模塊對被測集成電路編程并產(chǎn)生第一校驗(yàn)信息，在校驗(yàn)階段使被測集成電路基于自身編程情況計(jì)算第二校驗(yàn)信息，根據(jù)第一校驗(yàn)信息與第二校驗(yàn)信息是否匹配來產(chǎn)生校驗(yàn)結(jié)果。

優(yōu)選地，所述校驗(yàn)?zāi)K包括：第一電源；存儲(chǔ)單元，與所述被測集成電路相連，用于存儲(chǔ)校驗(yàn)程序；模式配置單元，與所述被測集成電路相連，用于使所述被測集成電路按照所述模式配置單元中的配置信息來工作；開關(guān)單元，連接在所述電源、被測集成電路和編程模塊之間；控制單元，與所述開關(guān)單元和模式配置單元相連，用于在編程階段控制開關(guān)單元將編程模塊與被測集成電路相連，并設(shè)置所述模式配置單元中的配置信息使得編程模塊對被測集成電路編程并產(chǎn)生第一校驗(yàn)信息，在校驗(yàn)階段控制所述開關(guān)單元將所述被測集成電路與所述編程模塊斷開并與所述電源相連以使被測集成電路基于自身編程情況計(jì)算第二校驗(yàn)信息，并根據(jù)第一校驗(yàn)信息與第二校驗(yàn)信息是否匹配來產(chǎn)生校驗(yàn)結(jié)果。

優(yōu)選地，所述控制單元配置成在校驗(yàn)階段通過設(shè)置所述模式配置單元中的配置信息使得被測集成電路調(diào)用存儲(chǔ)單元中的校驗(yàn)程序來計(jì)算所述第二校驗(yàn)信息，并在所述第一校驗(yàn)信息與第二校驗(yàn)信息匹配時(shí)判定校驗(yàn)通過。

優(yōu)選地，所述校驗(yàn)?zāi)K還包括：人機(jī)交互單元，用于接收編程命令以及輸出編程結(jié)果和/或校驗(yàn)結(jié)果；并且所述控制單元在接收到來自人機(jī)交互單元的編程命令后進(jìn)入編程階段，在產(chǎn)生編程結(jié)果和/或校驗(yàn)結(jié)果后通過人機(jī)交互單元輸出。

優(yōu)選地，所述編程模塊具有用于在編程時(shí)為被測集成電路供電的第二電源。

優(yōu)選地，所述第一電源與第二電源具有不同的供電參數(shù)。

優(yōu)選地，所述存儲(chǔ)單元包括非易失性存儲(chǔ)單元。

優(yōu)選地，所述被測集成電路為多個(gè)，所述校驗(yàn)?zāi)K還用于每當(dāng)針對一個(gè)被測集成電路完成了編程和校驗(yàn)之后，按照預(yù)設(shè)的順序?qū)ο乱粋€(gè)被測集成電路執(zhí)行編程和校驗(yàn)。

優(yōu)選地，所述第一校驗(yàn)信息和第二校驗(yàn)信息為所編寫的程序代碼的校驗(yàn)和。