[實用新型]一種集成電路編程校驗系統

有效

• 申請號: 201721853467.6
• 申請日: 2017-12-26
• 公開（公告）號: CN207780175U
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 王希清;潘子升;汪永法;魏建中
• 申請（專利權）人: 杭州士蘭微電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京成創同維知識產權代理有限公司 11449
• 代理人: 蔡純;張靖琳

1.一種集成電路編程校驗系統，其特征在于，包括：

編程模塊，用于在校驗模塊的控制下對被測集成電路編程；

校驗模塊，用于在編程階段控制編程模塊對被測集成電路編程并產生標識編程信息的第一校驗信息，在校驗階段，被測集成電路基于自身編程情況計算校驗所述編程信息的第二校驗信息，根據第一校驗信息與第二校驗信息是否匹配來產生校驗結果。

2.根據權利要求1所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述校驗模塊包括：

第一電源；

存儲單元，與所述被測集成電路相連，用于存儲校驗程序；

模式配置單元，與所述被測集成電路相連，用于使所述被測集成電路按照所述模式配置單元中的配置信息來工作；

開關單元，連接在所述電源、被測集成電路和編程模塊之間；

控制單元，與所述開關單元和模式配置單元相連，用于在編程階段控制開關單元將編程模塊與被測集成電路相連，并設置所述模式配置單元中的配置信息使得編程模塊對被測集成電路編程并產生第一校驗信息，在校驗階段控制所述開關單元將所述被測集成電路與所述編程模塊斷開并與所述電源相連以使被測集成電路基于自身編程情況計算第二校驗信息，并根據第一校驗信息與第二校驗信息是否匹配來產生校驗結果。

3.根據權利要求2所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述控制單元配置成在校驗階段通過設置所述模式配置單元中的配置信息使得被測集成電路調用存儲單元中的校驗程序來計算所述第二校驗信息，并在所述第一校驗信息與第二校驗信息匹配時判定校驗通過。

4.根據權利要求2所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述校驗模塊還包括：人機交互單元，用于接收編程命令以及輸出編程結果和/或校驗結果；并且

所述控制單元在接收到來自人機交互單元的編程命令后進入編程階段，在產生編程結果和/或校驗結果后通過人機交互單元輸出。

5.根據權利要求2所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述編程模塊具有用于在編程時為被測集成電路供電的第二電源。

6.根據權利要求5所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述第一電源與第二電源具有不同的供電參數。

7.根據權利要求2所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述存儲單元包括非易失性存儲單元。

8.根據權利要求1所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述被測集成電路為多個，所述校驗模塊還用于每當針對一個被測集成電路完成了編程和校驗之后，按照預設的順序對下一個被測集成電路執行編程和校驗。

9.根據權利要求1至8中任一項所述的集成電路編程校驗系統，其特征在于，所述第一校驗信息和第二校驗信息為所編寫的程序代碼的校驗和。